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题名基于边界扫描的电路板测试性优化设计
被引量：6
- 1
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作者
刘冠军
温熙森
易晓山
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机构
国防科技大学机电工程与自动化学院
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出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2002年第2期73-76,共4页
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文摘
基于边界扫描的电路板测试性设计中 ,迫切需要解决“测试性改善程度一定时 ,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题。本文首先深入分析了该问题 ,证明它是一个NP 完全问题 ,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明 ,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。
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关键词
边界扫描
电路板
测试性优化设计
贪婪策略
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Keywords
boundary scan
optimal design for testability
circuit board
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于ACBPSO的板级电路测试性优化设计
被引量：4
- 2
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作者
王杨
刘波峰
谭阳红
袁卿卿
李涛
王文强
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机构
湖南大学电气与信息工程学院
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
2015年第6期823-829,共7页
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基金
国家自然科学基金(61102039
51107034
+1 种基金
50277010)
湖南省自然科学基金(07JJ6132)资助项目
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文摘
边界扫描布局优化是复杂系统测试性设计的重要内容,属于典型的组合优化问题。提出了一种基于自适应混沌二进制粒子群优化算法(ACBPSO)的板级电路测试性设计最小化优化方法。该算法利用混沌运动的遍历性来初始化粒子群参数,惯性权重则根据粒子群的早熟收敛程度自适应调整。随着算法迭代运行,离散粒子群算法(BPSO)的随机性越来越强,缺乏后期的局部搜索能力,故引入新的概率映射函数。仿真实例验证了该算法有效地克服了二进制粒子群的早熟收敛现象,提高了搜索效率,具有良好的优化效果。
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关键词
测试性设计优化
改进二进制粒子群
混沌优化
自适应权重
早熟
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Keywords
design for testability
BPSO
chaotic optimization
adaptive weight
premature
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分类号
TP29
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TN06
[电子电信—物理电子学]
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题名计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究
被引量：1
- 3
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作者
刘冠军
易晓山
柳新民
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机构
国防科技大学机电工程与自动化学院
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2002年第17期16-17,51,共3页
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基金
国家部委重点项目
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文摘
基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。
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关键词
最大化问题
计算机辅助测试性设计
边界扫描
测试性优化设计
电路板
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Keywords
Computer-aided Designing for Testability,Boundary Scan,Optimal Designing for Testability
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TP391.76
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术
被引量：13
- 4
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作者
王宁
董兵
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机构
空军第一航空学院
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第12期38-41,共4页
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文摘
由BS器件和非BS器件组装的非完全BS电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在,如何对它们应用边界扫描测试是板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题。本文从非完全BS电路板的测试性优化设计入手,举例说明了基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术的原理和过程。
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关键词
边界扫描
非完全BS电路板
测试性优化设计
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Keywords
boundary scan（BS）
part-BS board
optimal design for testability
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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