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基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案
被引量：
2
1
作者
李俊
成立
+3 位作者
徐志春
韩庆福
张荣标
张慧
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期757-760,764,共5页
设计了一种改进扫描链结构的内建自测试(BIST)方案。该方案将设计测试序列发生器(TPG)中合适的n状态平滑器与扫描链的重新排序结合起来,从而达到低功耗测试且不致丢失故障覆盖率的目的。通过对15位随机序列信号的测试,发现此TPG中的n状...
设计了一种改进扫描链结构的内建自测试(BIST)方案。该方案将设计测试序列发生器(TPG)中合适的n状态平滑器与扫描链的重新排序结合起来,从而达到低功耗测试且不致丢失故障覆盖率的目的。通过对15位随机序列信号的测试,发现此TPG中的n状态平滑器在降低功耗的同时还减小了故障覆盖率,遂又设计了重组扫描链的结构来解决这一问题。实验结果表明,该设计方案对于降低平均测试功耗和提高故障覆盖率都具有显著的效果。
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关键词
内建自
测试
测试序列发生器
n状态平滑器
低功耗设计
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职称材料
题名
基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案
被引量：
2
1
作者
李俊
成立
徐志春
韩庆福
张荣标
张慧
机构
江苏大学电气与信息工程学院
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期757-760,764,共5页
基金
国家863计划资助项目(2006AA102258)
文摘
设计了一种改进扫描链结构的内建自测试(BIST)方案。该方案将设计测试序列发生器(TPG)中合适的n状态平滑器与扫描链的重新排序结合起来,从而达到低功耗测试且不致丢失故障覆盖率的目的。通过对15位随机序列信号的测试,发现此TPG中的n状态平滑器在降低功耗的同时还减小了故障覆盖率,遂又设计了重组扫描链的结构来解决这一问题。实验结果表明,该设计方案对于降低平均测试功耗和提高故障覆盖率都具有显著的效果。
关键词
内建自
测试
测试序列发生器
n状态平滑器
低功耗设计
Keywords
BIST
TPG
n-state smoother
low-power design
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案
李俊
成立
徐志春
韩庆福
张荣标
张慧
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
2
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