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用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器
被引量：
2
1
作者
汪昱
邝继顺
《计算机工程与科学》
CSCD
2005年第4期29-30,59,共3页
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法...
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。
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关键词
CMOS电路
k
测试
内建自
测试
BIST模块
测试向量生成器
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职称材料
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器
2
作者
邓小飞
邝继顺
《科学技术与工程》
2006年第1期60-63,共4页
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量...
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。
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关键词
IDDT
BIST
测试向量生成器
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职称材料
一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案
3
作者
张建伟
丁秋红
+5 位作者
周彬
滕飞
马万里
王政操
陈晓明
李志远
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第11期96-102,共7页
为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同,利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测...
为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同,利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量,这样控制信号的长度约为确定性种子的1/2,有利于降低功耗并节约存储空间.其次,2-bit减法计数器合理地过滤了冗余向量,大大缩短了测试时间并降低总体能耗.最后,为了适应不同的测试需求,还设计了相应的测试向量压缩算法和三种x指定算法.实验结果表明,平均功耗分别降低了42.36%、32.32%、38.94%,测试长度分别减少了77.6%、86.1%、84.3%,测试数据分别压缩了79.4%、65.2%、68.1%.
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关键词
扭环计数器
低功耗
确定性
测试向量生成器
单跳变
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职称材料
题名
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器
被引量：
2
1
作者
汪昱
邝继顺
机构
湖南大学计算机与通信学院
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2005年第4期29-30,59,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目(60173042)
湖南大学重点基金资助项目
文摘
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。
关键词
CMOS电路
k
测试
内建自
测试
BIST模块
测试向量生成器
Keywords
BIST
test generation
automatic control unit
transient current testing
分类号
TN433 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器
2
作者
邓小飞
邝继顺
机构
湖南大学计算机与通信学院
出处
《科学技术与工程》
2006年第1期60-63,共4页
文摘
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。
关键词
IDDT
BIST
测试向量生成器
Keywords
IDDT BIST test generation
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案
3
作者
张建伟
丁秋红
周彬
滕飞
马万里
王政操
陈晓明
李志远
机构
大连理工大学电子科学与技术学院
哈尔滨工业大学空间基础科学研究中心
黑龙江大学电子工程学院
出处
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第11期96-102,共7页
基金
国家自然科学基金(61306091
61100031
+3 种基金
61340050
61204132)
中央高校基本科研业务费专项资金资助(DUT15QT46)
黑龙江省高校重点实验室开放课题
文摘
为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同,利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量,这样控制信号的长度约为确定性种子的1/2,有利于降低功耗并节约存储空间.其次,2-bit减法计数器合理地过滤了冗余向量,大大缩短了测试时间并降低总体能耗.最后,为了适应不同的测试需求,还设计了相应的测试向量压缩算法和三种x指定算法.实验结果表明,平均功耗分别降低了42.36%、32.32%、38.94%,测试长度分别减少了77.6%、86.1%、84.3%,测试数据分别压缩了79.4%、65.2%、68.1%.
关键词
扭环计数器
低功耗
确定性
测试向量生成器
单跳变
Keywords
twisted ring counter
low power
deterministic
test pattern generator
single input change
分类号
TN791 [电子电信—电路与系统]
在线阅读
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器
汪昱
邝继顺
《计算机工程与科学》
CSCD
2005
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器
邓小飞
邝继顺
《科学技术与工程》
2006
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案
张建伟
丁秋红
周彬
滕飞
马万里
王政操
陈晓明
李志远
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
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