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题名基于数据相关性的测试数据压缩方法
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作者
王志杰
毛志刚
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机构
上海交通大学微电子学院
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出处
《现代电子技术》
2009年第16期8-11,共4页
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文摘
为了减少测试数据量,提出一种利用数据中大量无关位的特殊相关性进行编码压缩的方法,压缩步骤分两步,先选定参考数据,然后利用相关性将与参考数据兼容的数据块编码为"11",数据互补的数据块编码为"10",弥补了FDR码单一编码的不足。解压结构包括一个与参考数据等长的循环移位寄存器和一个有限状态机,结构简单,与Golomb码和FDR码中需要一个与测试向量等长的循环移位寄存器相比,消耗的硬件资源小。针对ISCAS-89标准电路测试向量集的压缩实验结果表明,该方法可以有效地压缩测试数据,且效果比Golomb码和FDR码更好,硬件开销更小。
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关键词
数据块兼容/互补
测试向量压缩
解压
无关位
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Keywords
compatible/complemental data block
test vector compression
decompression
don＇ t cares （X＇s）
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分类号
TP274
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计
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作者
李春伟
何振中
陈新武
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机构
宁夏大学物理电气信息学院
华中科技大学多谱信息处理技术国防重点实验室
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出处
《科学技术与工程》
2007年第12期2825-2829,共5页
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文摘
传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测试时间;用随机测试模式加存储测试模式来提高故障覆盖率。经ISCAS85标准测试电路验证,新方案取得了令人满意的结果。
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关键词
可测性设计
扫描测试
内建自测试
Test-Per-Clock
测试向量压缩
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Keywords
DFT
scan test
BIST
test-per-clock
test-vector compression
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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