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氧离子束辅助激光淀积生长ZnO/Si的XPS研究 被引量:6
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作者 李庚伟 吴正龙 +3 位作者 杨锡震 杨少延 张建辉 刘志凯 《北京师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期174-179,共6页
利用X射线光电子能谱深度剖析方法对ZnO/Si异质结构进行了分析 .用该法可生长出正化学比的ZnO ,不过生长的ZnO薄膜存在孔隙 ,工艺还有待进一步改进 .
关键词 ZnO/Si异质结构 X射线光电子能谱 氧离子束辅助 薄膜 激光器
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氧离子束辅助激光淀积生长ZnO/Si的研究 被引量:5
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作者 李庚伟 吴正龙 +2 位作者 邵素珍 张建辉 刘志凯 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期109-111,共3页
利用 X 射线衍射(XRD),X 射线摇摆曲线(XRC)和 X 射线光电子能谱(XPS)分析方法对氧离子束辅助激光淀积生长的 ZnO/Si 异质结薄膜进行了分析。结果表明:用该法可生长出高度 c 轴单一取向 ZnO 薄膜,XRC 的半高宽度(FWHM)仅为2.918°... 利用 X 射线衍射(XRD),X 射线摇摆曲线(XRC)和 X 射线光电子能谱(XPS)分析方法对氧离子束辅助激光淀积生长的 ZnO/Si 异质结薄膜进行了分析。结果表明:用该法可生长出高度 c 轴单一取向 ZnO 薄膜,XRC 的半高宽度(FWHM)仅为2.918°。表明此生长方法经优化,可生长出单晶质量很好的 ZnO/Si 薄膜。 展开更多
关键词 ZnO/Si 氧离子束辅助激光淀积生长 异质结薄膜 X射线摇摆曲线 X射线光电子能谱
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氧离子束辅助激光淀积生长ZnO/Si的XPS探究 被引量:3
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作者 李庚伟 吴正龙 +1 位作者 邵素珍 刘志凯 《材料科学与工艺》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第2期255-258,263,共5页
为了探究ZnO/Si内部化学成分及有关信息,用氧离子束辅助(O+-assisted)脉冲激光淀积(PLD)法在不同实验条件下生长成ZnO/Si(111)样品.利用X射线光电子能谱(XPS)对长成的ZnO/Si异质结构进行了异位测试.通过对O1s峰及其肩状结构进行拟合、分... 为了探究ZnO/Si内部化学成分及有关信息,用氧离子束辅助(O+-assisted)脉冲激光淀积(PLD)法在不同实验条件下生长成ZnO/Si(111)样品.利用X射线光电子能谱(XPS)对长成的ZnO/Si异质结构进行了异位测试.通过对O1s峰及其肩状结构进行拟合、分析,得到了原子数密度比n(O)∶n(Zn),进而探究了原子数密度比与生长质量的关系.结果表明,用氧离子束辅助PLD法,可在较低的衬底温度190℃和适当O+束流条件下,生长出正化学比接近于1,且c轴单一取向最佳的ZnO/Si薄膜.用氧离子束辅助PLD淀积法生长ZnO薄膜,可以改善缺氧状况,能提供一个富氧环境. 展开更多
关键词 ZnO/N异质结构 氧离子束辅助PLD X射线光电子能谱(XPS)
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X光电子能谱研究氧离子束辅助PLD共淀积ZnO薄膜 被引量:3
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作者 吴正龙 李庚伟 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期373-376,372,共5页
在ZnO的XPS分析中,ZnLMM俄歇峰能很好地指认氧化锌淀积膜中Zn的价态,结合O1s光电子峰的分析,可表征ZnO中缺氧程度。通过XPS的对比实验,表明采用氧(O)离子辅助PLD共淀积ZnO薄膜,能明显改善淀积ZnO膜的缺氧问题,降低薄膜层中的孔隙率,提... 在ZnO的XPS分析中,ZnLMM俄歇峰能很好地指认氧化锌淀积膜中Zn的价态,结合O1s光电子峰的分析,可表征ZnO中缺氧程度。通过XPS的对比实验,表明采用氧(O)离子辅助PLD共淀积ZnO薄膜,能明显改善淀积ZnO膜的缺氧问题,降低薄膜层中的孔隙率,提高淀积ZnO薄膜质量。XPS深度剖析结果还表明采用O离子辅助PLD共淀积后膜层中Zn的氧化组分和孔隙率随深度变化平缓。 展开更多
关键词 X光电子能谱 俄歇电子能谱 化锌 氧离子束辅助PLD共淀积
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