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氢泄漏激光检测特征吸收谱线温度影响分析
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作者 吕妍 孙伟通 +5 位作者 冯其栋 陈淑贤 王云 王迪 李栋 李玉爽 《光电子技术》 2024年第4期338-344,共7页
针对应用可调谐半导体激光吸收光谱技术检测气体浓度过程中,待测气体特征吸收谱线选择影响检测系统性能及特征吸收谱线强度受温度影响的问题,基于HITRAN数据库开展了背景气体干扰下氢气特征吸收谱线选择及特征吸收谱线的温度依赖机制研... 针对应用可调谐半导体激光吸收光谱技术检测气体浓度过程中,待测气体特征吸收谱线选择影响检测系统性能及特征吸收谱线强度受温度影响的问题,基于HITRAN数据库开展了背景气体干扰下氢气特征吸收谱线选择及特征吸收谱线的温度依赖机制研究。结果表明:温度在200~300 K范围变化时,H_(2)吸光度曲线的峰值和半峰全宽均随着温度升高而减小,在峰值和半峰全宽的双重作用下,积分吸光度大幅下降;H_(2)总体配分函数Q(T)随温度升高线性增长且其不同温度下的比值rQ在谱线强度影响因素中权重最大,最终导致特征吸收谱线强度随温度升高递减。研究为基于可调谐半导体激光吸收光谱技术的氢气传感器温度补偿提供理论基础。 展开更多
关键词 氢泄漏检测 可调谐半导体激光吸收光谱 特征谱线选择 温度 谱线强度
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