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集成电路测试插座产品残留检测
1
作者
张健
《中国集成电路》
2024年第9期76-78,共3页
集成电路自动测试过程中,如果产品残留在测试插座中,就会导致误分类。鉴于传统的残留检测方法存在各种各样的问题,本文介绍了一种简单易行的检测方法,在测试插座中植入微型发光二极管,使用微型摄像头拍照检测,提高了集成电路测试插座产...
集成电路自动测试过程中,如果产品残留在测试插座中,就会导致误分类。鉴于传统的残留检测方法存在各种各样的问题,本文介绍了一种简单易行的检测方法,在测试插座中植入微型发光二极管,使用微型摄像头拍照检测,提高了集成电路测试插座产品残留的检测能力。且成本低,检出能力强,适用各类薄型集成电路产品。
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关键词
集成电路测试
插座
残留
(
叠
料
)
微型发光二极管
摄像头
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职称材料
题名
集成电路测试插座产品残留检测
1
作者
张健
机构
通富微电子股份有限公司
出处
《中国集成电路》
2024年第9期76-78,共3页
文摘
集成电路自动测试过程中,如果产品残留在测试插座中,就会导致误分类。鉴于传统的残留检测方法存在各种各样的问题,本文介绍了一种简单易行的检测方法,在测试插座中植入微型发光二极管,使用微型摄像头拍照检测,提高了集成电路测试插座产品残留的检测能力。且成本低,检出能力强,适用各类薄型集成电路产品。
关键词
集成电路测试
插座
残留
(
叠
料
)
微型发光二极管
摄像头
Keywords
IC testing
socket
residual(double device)
mini LED
camera
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
集成电路测试插座产品残留检测
张健
《中国集成电路》
2024
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