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一种带片上校准的16 bit两级逐次逼近型ADC
被引量：
1
1
作者
冯景彬
胡伟波
+4 位作者
国千崧
秦克凡
胡毅
李振国
侯佳力
《半导体技术》
CAS
北大核心
2022年第5期403-409,共7页
为实现16 bit的同步模数转换器(ADC),提出了一种基于电阻比例增益的级间残差放大器(RA)的两级逐次逼近型(SAR)ADC。第一级ADC(STGADC1)的剩余电压由RA放大,再由第二级ADC(STGADC2)采样和量化。采用片上一次性校准用于处理电容式数模转换...
为实现16 bit的同步模数转换器(ADC),提出了一种基于电阻比例增益的级间残差放大器(RA)的两级逐次逼近型(SAR)ADC。第一级ADC(STGADC1)的剩余电压由RA放大,再由第二级ADC(STGADC2)采样和量化。采用片上一次性校准用于处理电容式数模转换器(CDAC)和RA中的非理想特性。STGADC1、STGADC2内部和两级之间均采用冗余。校准后,该ADC在测量中实现了88 dB的信噪比(SNR)、87.5 dB的信噪失真比(SNDR)和-96 dB的总谐波失真(THD)。测量的微分非线性(DNL)和积分非线性(INL)分别为-0.66/+0.82 LSB和-1.98/+1.84 LSB。电路采用180 nm CMOS工艺流片,芯片面积0.69 mm^(2),供电电压为5 V/1.8 V,功耗为3 mW。
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关键词
模数转换器(ADC)
残差
放大器
(
ra
)
逐次逼近型(SAR)
冗余
一次性校准
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职称材料
题名
一种带片上校准的16 bit两级逐次逼近型ADC
被引量：
1
1
作者
冯景彬
胡伟波
国千崧
秦克凡
胡毅
李振国
侯佳力
机构
南开大学电子信息与光学工程学院
北京智芯微电子科技有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2022年第5期403-409,共7页
基金
深圳市科技创新委员会资助项目(JCYJ20180508161601937)。
文摘
为实现16 bit的同步模数转换器(ADC),提出了一种基于电阻比例增益的级间残差放大器(RA)的两级逐次逼近型(SAR)ADC。第一级ADC(STGADC1)的剩余电压由RA放大,再由第二级ADC(STGADC2)采样和量化。采用片上一次性校准用于处理电容式数模转换器(CDAC)和RA中的非理想特性。STGADC1、STGADC2内部和两级之间均采用冗余。校准后,该ADC在测量中实现了88 dB的信噪比(SNR)、87.5 dB的信噪失真比(SNDR)和-96 dB的总谐波失真(THD)。测量的微分非线性(DNL)和积分非线性(INL)分别为-0.66/+0.82 LSB和-1.98/+1.84 LSB。电路采用180 nm CMOS工艺流片,芯片面积0.69 mm^(2),供电电压为5 V/1.8 V,功耗为3 mW。
关键词
模数转换器(ADC)
残差
放大器
(
ra
)
逐次逼近型(SAR)
冗余
一次性校准
Keywords
analog-to-digital converter(ADC)
residual amplifier(
ra
)
successive approximation register(SAR)
redundancy
one-time calib
ra
tion
分类号
TN792 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种带片上校准的16 bit两级逐次逼近型ADC
冯景彬
胡伟波
国千崧
秦克凡
胡毅
李振国
侯佳力
《半导体技术》
CAS
北大核心
2022
1
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