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基于原子力显微镜的纳米抛光颗粒的摩擦力测量方法
被引量：
4
1
作者
李静楠
郭丹
王元元
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第2期21-25,共5页
基于原子力显微镜接触模式,使用侧向力扫描测量单个纳米颗粒与基底表面的摩擦力,从而为颗粒从基底表面去除提供最为直接的测试方法。对硅片表面进行羟基化增强其亲水性,将聚苯乙烯纳米颗粒单层均匀地分散到硅片上。使用横向力模式和Nano...
基于原子力显微镜接触模式,使用侧向力扫描测量单个纳米颗粒与基底表面的摩擦力,从而为颗粒从基底表面去除提供最为直接的测试方法。对硅片表面进行羟基化增强其亲水性,将聚苯乙烯纳米颗粒单层均匀地分散到硅片上。使用横向力模式和NanoMan两种方法侧向推动纳米颗粒,测得单个颗粒与硅片表面之间的最大静摩擦力分别为(1.57±0.09)μN和(1.51±0.13)μN,试验结果基本一致,表明这两种测量方法可靠有效。此外,NanoMan可控制针尖推动单个颗粒在基底表面做滑移运动,表明颗粒-基底的滑动摩擦力与针尖施加载荷和扫描速度密切相关。
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关键词
原子
力
显微镜
纳米颗粒
摩擦
力
横向力模式
NanoMan
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职称材料
题名
基于原子力显微镜的纳米抛光颗粒的摩擦力测量方法
被引量：
4
1
作者
李静楠
郭丹
王元元
机构
清华大学摩擦学国家重点实验室
出处
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第2期21-25,共5页
基金
国家自然科学基金(91023016)
国家973计划(2009CB724201)
文摘
基于原子力显微镜接触模式,使用侧向力扫描测量单个纳米颗粒与基底表面的摩擦力,从而为颗粒从基底表面去除提供最为直接的测试方法。对硅片表面进行羟基化增强其亲水性,将聚苯乙烯纳米颗粒单层均匀地分散到硅片上。使用横向力模式和NanoMan两种方法侧向推动纳米颗粒,测得单个颗粒与硅片表面之间的最大静摩擦力分别为(1.57±0.09)μN和(1.51±0.13)μN,试验结果基本一致,表明这两种测量方法可靠有效。此外,NanoMan可控制针尖推动单个颗粒在基底表面做滑移运动,表明颗粒-基底的滑动摩擦力与针尖施加载荷和扫描速度密切相关。
关键词
原子
力
显微镜
纳米颗粒
摩擦
力
横向力模式
NanoMan
Keywords
atomic force microscope（AFM）
nanoparticles
friction force
lateral force mode（LFM）
NanoMan mode
分类号
TH117.1 [机械工程—机械设计及理论]
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作者
出处
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被引量
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1
基于原子力显微镜的纳米抛光颗粒的摩擦力测量方法
李静楠
郭丹
王元元
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012
4
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