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模拟及混合信号芯片的可测性设计
被引量：
2
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作者
钟锐
魏同立
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第3期261-265,共5页
对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较 .研究指出 ,在测试内容方面 ,基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算 ,因此...
对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较 .研究指出 ,在测试内容方面 ,基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算 ,因此被认为是今后发展的主要方向 ;在测试信号传输路径方面 ,基于总线的方法具有较易实现标准化的优点 ;而在测试信号产生及检测方面 ,内建自测试可大大降低测试所需代价 ,因此有较大的研究应用前景 .
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关键词
模拟及混合信号
可测性设计
基于结构
基于性能
重构
内建自测试
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职称材料
题名
模拟及混合信号芯片的可测性设计
被引量：
2
1
作者
钟锐
魏同立
机构
东南大学微电子中心
出处
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第3期261-265,共5页
文摘
对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较 .研究指出 ,在测试内容方面 ,基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算 ,因此被认为是今后发展的主要方向 ;在测试信号传输路径方面 ,基于总线的方法具有较易实现标准化的优点 ;而在测试信号产生及检测方面 ,内建自测试可大大降低测试所需代价 ,因此有较大的研究应用前景 .
关键词
模拟及混合信号
可测性设计
基于结构
基于性能
重构
内建自测试
Keywords
analog and mixed signal
design for testability
structure based
specification based
reconfiguration
built in self test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN453 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
模拟及混合信号芯片的可测性设计
钟锐
魏同立
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
2
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