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基于椭圆偏振光谱法的玻璃表面离子束改性分析 被引量:3
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作者 孙瑶 汪洪 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第10期3388-3393,共6页
采用阳极层线性离子源解离氮气对玻璃表面进行刻蚀处理,研究表面改性后玻璃表面的变化,并分析离化电压对表面粗糙度、折射率以及光学厚度的影响。在此基础上,基于椭圆偏振光谱仪,通过对比不同表面状态下的Δ光谱,讨论固定波长变化入射... 采用阳极层线性离子源解离氮气对玻璃表面进行刻蚀处理,研究表面改性后玻璃表面的变化,并分析离化电压对表面粗糙度、折射率以及光学厚度的影响。在此基础上,基于椭圆偏振光谱仪,通过对比不同表面状态下的Δ光谱,讨论固定波长变化入射角的Δ光谱曲线特征与表面折射率、布儒斯特角、粗糙度以及光学厚度之间的关系。结果表明,刻蚀后玻璃的布儒斯特角附近的Δ光谱曲线形状发生变化,突变向高角度偏移,曲线下降斜率增大。通过建模并拟合分析发现,氮离子束轰击使玻璃表面产生光密介质层,表面折射率增大,布儒斯特角增大,粗糙度降低,且随离化电压升高,折射率不变,而光密介质层厚度增加。由原子力显微镜分析表面形貌,验证了离子束对玻璃表面的平整化作用。X射线光电子能谱结果表明离子束使玻璃表面发生选择性溅射,推断光密介质层的产生来自于离子束对玻璃表面的夯实作用。此外,推导并验证了Δ光谱曲线的特征与材料表面状态之间的普适关系,提出了基于椭圆偏振光谱仪的材料表面评估方法,即Δ曲线的突变发生角度增大说明折射率与布儒斯特角的增大;下降斜率增大说明表面粗糙度减小;曲线两端尖角增大说明光学厚度增大。反之亦然。 展开更多
关键词 椭圆偏振光谱仪 玻璃 线性离子源 布儒斯特角 粗糙度
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椭偏光度法研究溶胶-凝胶SiO_2薄膜的光学性能 被引量:8
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作者 肖轶群 沈军 +3 位作者 周斌 吴广明 徐超 薛辉 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期503-506,共4页
用溶胶-凝胶工艺在碱性、酸性催化条件下制备具有纳米多孔结构的SiO2薄膜.用反射式椭圆偏振光谱仪测试薄膜的椭偏参数,并用Cauchy模型对椭偏参数进行数据拟合,获得了溶胶-凝胶SiO2薄膜光学常数在300~700 nm波段的色散关系.用场发射扫... 用溶胶-凝胶工艺在碱性、酸性催化条件下制备具有纳米多孔结构的SiO2薄膜.用反射式椭圆偏振光谱仪测试薄膜的椭偏参数,并用Cauchy模型对椭偏参数进行数据拟合,获得了溶胶-凝胶SiO2薄膜光学常数在300~700 nm波段的色散关系.用场发射扫描电子显微镜FE-SEM研究了薄膜表面微结构,并讨论表面微结构与光学性能间的关系.结果表明:制备条件所引起的薄膜微结构差异对光学常数的色散关系变化趋势无影响;薄膜光学常数的大小则与微结构有关,折射率大小与薄膜孔洞率成反比. 展开更多
关键词 溶胶-凝胶工艺 椭圆偏振光谱仪 光学常数 微结构
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化学溶液分解法制备的Bi_2Ti_2O_7薄膜的红外光学性质研究 被引量:3
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作者 胡志高 王少伟 +3 位作者 黄志明 吴玉年 陆卫 褚君浩 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期47-50,共4页
采用化学溶液分解法在n GaAs(10 0 )衬底上制备了Bi2 Ti2 O7薄膜 .利用红外椭圆偏振光谱仪测量了波长为2 .8~ 12 .5 μm范围内Bi2 Ti2 O7薄膜的椭偏光谱 ,采用Lorentz Drude色散模型拟合获得Bi2 Ti2 O7薄膜的红外介电常数 ,并进一步计... 采用化学溶液分解法在n GaAs(10 0 )衬底上制备了Bi2 Ti2 O7薄膜 .利用红外椭圆偏振光谱仪测量了波长为2 .8~ 12 .5 μm范围内Bi2 Ti2 O7薄膜的椭偏光谱 ,采用Lorentz Drude色散模型拟合获得Bi2 Ti2 O7薄膜的红外介电常数 ,并进一步计算得到折射率n、消光系数k和吸收系数α ,拟合计算得到Bi2 Ti2 O7薄膜的厚度为 139.2nm . 展开更多
关键词 化学溶液分解法 铋钛氧薄膜 红外光学性质 红外椭圆偏振光谱仪 Lorentz-Drude色散模型 消光系数 折射率 吸收系数
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表面改性后的SiO_2薄膜光学性能研究 被引量:1
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作者 雅菁 杨宁宁 胡凤娇 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第3期852-856,共5页
用溶胶-凝胶法在酸碱复合催化条件下制备了Si O2溶胶,采用浸渍提拉法在K9玻璃上制备了性能稳定的Si O2薄膜,并用三甲基氯硅烷对Si O2薄膜进行了表面改性。用反射式椭圆偏振光谱仪测试薄膜的椭偏参数,并用Cauchy模型对椭偏参数进行数据拟... 用溶胶-凝胶法在酸碱复合催化条件下制备了Si O2溶胶,采用浸渍提拉法在K9玻璃上制备了性能稳定的Si O2薄膜,并用三甲基氯硅烷对Si O2薄膜进行了表面改性。用反射式椭圆偏振光谱仪测试薄膜的椭偏参数,并用Cauchy模型对椭偏参数进行数据拟合,获得了Si O2改性前后在300~700 nm波段的色散关系。讨论了薄膜改性与光学性能间的关系。结果表明:Cauchy模型能较好的描述溶胶-凝胶薄膜在300~650 nm波段的光学性能;表面改性后Si O2薄膜光学常数发生改变,但未影响色散关系的变化趋势;薄膜改性后具有随着膜层数的增加,折射率增加,而最大峰值透光率、孔隙率减小的规律,且薄膜改性后表面更加致密。 展开更多
关键词 溶胶-凝胶法 SIO2薄膜 椭圆偏振光谱仪 光学常数 微结构 表面改性
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等离子体材料银铟合金光学性质的组分依赖性(英文)
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作者 杨尚东 郑玉祥 +5 位作者 张冬旭 张金波 胡二涛 张荣君 王松有 陈良尧 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第1期1-5,14,共6页
采用磁控溅射方法在硅衬底上生长了五个不同组分的银铟合金薄膜.采用椭圆偏振光谱仪研究银铟合金薄膜的光学性质.银基金属薄膜一般在3.9 e V附近出现典型的带间跃迁.随着铟含量的增加,银铟合金薄膜的介电函数呈现出明显增加的趋势,典型... 采用磁控溅射方法在硅衬底上生长了五个不同组分的银铟合金薄膜.采用椭圆偏振光谱仪研究银铟合金薄膜的光学性质.银基金属薄膜一般在3.9 e V附近出现典型的带间跃迁.随着铟含量的增加,银铟合金薄膜的介电函数呈现出明显增加的趋势,典型带间跃迁能量也出现蓝移.结果表明,银铟合金薄膜的光学性质可以通过其中铟元素的含量进行调控.Ag0.93In0.07薄膜比其他四种组分的银铟合金薄膜有着更大的品质因子(Q因子),而且在一些波段甚至比纯金属金和铜的Q因子都要大,这表明银铟合金材料具有成为新型等离子体材料的潜力. 展开更多
关键词 银铟合金薄膜 光学性质 椭圆偏振光谱仪 磁控溅射
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利用椭偏仪研究氢气退火处理对ZnO-Ga薄膜光学性能的影响(英文)
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作者 杨娇 高美珍 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第1期6-10,共5页
通过溶胶凝胶技术制备了不同Ga掺杂含量的Zn O透明导电薄膜,研究了Ga掺杂对GZO薄膜结构、电学及光学性能的影响.从X射线衍射光谱分析,所有薄膜均表现为六方纤锌矿结构,经过氢气退火处理之后,薄膜的电学性能均得到提高,当Ga掺杂含量为5 ... 通过溶胶凝胶技术制备了不同Ga掺杂含量的Zn O透明导电薄膜,研究了Ga掺杂对GZO薄膜结构、电学及光学性能的影响.从X射线衍射光谱分析,所有薄膜均表现为六方纤锌矿结构,经过氢气退火处理之后,薄膜的电学性能均得到提高,当Ga掺杂含量为5 at%时,得到薄膜的电阻率为3.410×10^-3Ω·cm.利用可变入射角椭圆偏振光谱仪(VASE)在270-1 600 nm波长范围内研究了GZO薄膜折射率和消光系数的变化,采用双振子模型对实验数据进行拟合. 展开更多
关键词 GZO薄膜 氢处理 椭圆偏振光谱仪 双振子模型
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能量过滤磁控溅射技术制备Te薄膜及其光学性能研究
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作者 张世慧 姚宁 +2 位作者 田维民 王朝勇 贾瑜 《郑州大学学报(理学版)》 CAS 北大核心 2020年第2期102-107,共6页
利用自主改进后的能量过滤磁控溅射(energy filtering magnetron sputtering,EFMS)技术制备Te薄膜,研究了沉积温度对薄膜结晶特性、表面形貌以及光学性能的影响。研究结果表明所制备的薄膜为纯Te膜。在100℃时制备出的薄膜结晶较好,表... 利用自主改进后的能量过滤磁控溅射(energy filtering magnetron sputtering,EFMS)技术制备Te薄膜,研究了沉积温度对薄膜结晶特性、表面形貌以及光学性能的影响。研究结果表明所制备的薄膜为纯Te膜。在100℃时制备出的薄膜结晶较好,表面颗粒较大且比较均匀,200℃时薄膜表面形貌发生改变,由颗粒状变为交错分布的棒状结构。200℃时制备的薄膜在红外波段的消光系数和折射率相对较小。室温制备的薄膜的平均透过率为9.1%;200℃制备的薄膜的平均透过率最大为35.4%。 展开更多
关键词 能量过滤磁控溅射 Te薄膜 光学性质 椭圆偏振光谱仪
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