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一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法
被引量：
2
1
作者
常龙鑫
郭俊
+2 位作者
洪广伟
虞致国
顾晓峰
《电子与封装》
2020年第10期30-36,共7页
随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一。基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现...
随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一。基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现了一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容软错误架构。在基于Artix-7开发板实现的e203 RISC-V内核中对该容错架构进行了仿真试验。试验结果表明,所提方法可以实现预期的容软错误功能,提高了RISC-V处理器的可靠性。
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关键词
软错误
可靠性设计
RISC-V
检查点和回滚恢复
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题名
一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法
被引量：
2
1
作者
常龙鑫
郭俊
洪广伟
虞致国
顾晓峰
机构
江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心
出处
《电子与封装》
2020年第10期30-36,共7页
基金
中央高校基本科研业务费专项资金资助(JUSRP51510)
江苏省研究生科研与实践创新计划项目(SICX18_0647)
江苏省重点研发计划(BE2019003-2)。
文摘
随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一。基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现了一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容软错误架构。在基于Artix-7开发板实现的e203 RISC-V内核中对该容错架构进行了仿真试验。试验结果表明,所提方法可以实现预期的容软错误功能,提高了RISC-V处理器的可靠性。
关键词
软错误
可靠性设计
RISC-V
检查点和回滚恢复
Keywords
soft error
reliability design
RISC-V
checkpoint and rollback recovery
分类号
TP302.8 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法
常龙鑫
郭俊
洪广伟
虞致国
顾晓峰
《电子与封装》
2020
2
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