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题名扫描氮-空位显微镜探针-样品间距的测定方法
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作者
金子建
程智
陈宇航
王鹏飞
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机构
中国科学技术大学精密机械与精密仪器系
中国科学技术大学中国科学院微观磁共振重点实验室和物理学院
中国科学技术大学中国科学院量子信息与量子科技创新研究院
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出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2022年第6期634-641,共8页
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基金
国家重点研发计划项目(No.YFF01012500)
国家自然科学基金资助项目(No.81788101)
安徽省量子信息技术研究计划(No.AHY050000)。
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文摘
基于金刚石量子精密测量技术的扫描氮-空位显微镜(SNVM)近年来发展十分迅速,广泛应用于磁性材料,生物成像等领域。其中,作为原子级大小的感测单元,氮-空位色心探针和样品之间的距离是影响SNVM成像空间分辨率的重要因素,也是准确重构扫描成像物理量的必要条件。本文提出一种导线标准样品及测量方法,用于确定氮-空位色心探针与样品间距。首先使用电子束光刻及镀膜等微纳加工技术实现百纳米线宽的导线标准样品的制备,其次在自行搭建的扫描氮-空位显微镜平台上实现标准样品中电流产生磁场的扫描成像,之后使用理论公式对磁场成像结果进行拟合分析得到氮-空位色心探针-样品间距,最后对该方法的精度及空间分辨率进行讨论。
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关键词
金刚石NV色心
扫描氮-空位显微镜
NV色心探针-样品间距
空间分辨率
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Keywords
diamond NV color center
scanning nitrogen-vacancy microscope
spin-sample spacing
spatial resolution
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分类号
TH742
[机械工程—光学工程]
TH744
[机械工程—光学工程]
O413.1
[理学—理论物理]
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题名一种探针-样品距离的切变力控制新方法
被引量：2
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作者
白永林
张工力
任克惠
J.D.White
侯洵
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机构
西北大学光子学与光子技术研究所
中国科学院西安光学精密机械研究所
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出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1999年第2期120-123,共4页
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基金
"九.五"攀登计划预选项目子课题
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文摘
报道了近场扫描光学显微镜（ＮｅａｒｆｉｌｅｄＳｃａｎｎｉｎｇＯｐｔｉｃｓＭｉｃｒｏｓｃｏｐｅＮＳＯＭ）中一种基于切变力的探针样品间距控制新方法条形压电蜂鸣器片的上表面电极被沿着中心线分成两半，一半用于驱动，其上施加振荡源谐振频率进行激励，另一半上粘附光纤探针，并利用压电效应作为光纤探针的振幅传感器当受振动激励的光纤探针由远处逐渐接近样品表面时，由于样品与探针之间的切变力阻尼作用使得探针的振幅减小。
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关键词
近场
扫描光学显微镜
切变力
探针-样品间距
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Keywords
Near field scanning optical microscopy,Shear force,Pizoelectric ceramic
Probe sample separation
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分类号
TH742
[机械工程—光学工程]
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题名近场光学显微技术
被引量：6
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作者
王海潼
刘斐
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机构
西安武警工程学院通信工程系
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出处
《应用光学》
CAS
CSCD
2005年第3期36-40,共5页
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文摘
本文在介绍近场光学显微镜原理的基础上,对近场光学显微技术进行了一定深度的探讨,并着重研究了纳米级探针的制作和纳米级样品与探针间距的控制这两个近场光学显微技术中的关键问题,说明了近场光学显微探针的工作方式,阐述了近场光学成像的衬度类型,介绍了近场光学显微技术在多个领域的应用。在参考大量国内外最新研究成果的基础上,提出了一些个人的见解。
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关键词
近场光学显微技术
探针
样品-探针间距
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Keywords
near-field optics microscope technique
probe
pitch of probe and object
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分类号
TH742
[机械工程—光学工程]
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题名基于双压电陶瓷片的反射模式近场扫描光学显微镜
被引量：2
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作者
蔡微
徐平
钱建强
李渊
姚骏恩
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机构
北京航空航天大学理学院物理系
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出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第4期293-297,共5页
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基金
国家自然科学基金资助项目(No.10427401)~~
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文摘
介绍了一种反射模式近场扫描光学显微镜。该系统以双压电陶瓷片作为控制光纤探针与待测样品之间距离的核心元件,以粘有光纤探针的双压电陶瓷片的第一个谐振频率来驱动光纤探针平行于样品表面振动,采用均方根检测电路测量振动信号的幅度,进而控制光纤探针与样品之间的距离在样品表面的近场范围之内。利用该系统获得了标定光栅和刻录光盘薄膜等样品表面的剪切力形貌图像和反射模式近场光学图像。
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关键词
近场扫描光学显微镜
双压电陶瓷片
剪切力检测
探针-样品间距控制
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Keywords
SNOM
bimorph
shear force detection
tip-sample distance regulation
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分类号
TH742
[机械工程—光学工程]
TG115.215.7
[金属学及工艺—物理冶金]
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