-
题名T/R阵列自动测试系统去嵌入技术研究
被引量：6
- 1
-
-
作者
彭安虎
韩周安
李志强
-
机构
电子科技大学
成都爱科特科技发展有限公司
-
出处
《中国测试》
CAS
北大核心
2021年第7期92-98,共7页
-
文摘
为解决T/R阵列自动测试系统的链路校准准确度和校准效率的难题,提出一种基于TRL(thru,reflect,line)校准技术的链路去嵌入方法,通过建立测试系统的误差模型,并获取测试系统对TRL标准件的测试结果,运用TRL校准算法解算出各个误差项,实现测试系统去嵌入的目的。设计TRL标准件,并在Matlab中实现去嵌入算法,运用该方法对含有嵌入网络的滤波器模型实现去嵌入。去嵌入结果表明:在去嵌入频段内,增益测量误差<0.2 dB,驻波比测量误差≤0.07,传输相位测量误差≤2°,去嵌入耗时不随T/R组件规模的增大而增加,证明该方法可以提升T/R阵列自动测试系统的校准准确度和校准效率。
-
关键词
去嵌入
TRL校准
T/R阵列自动测试系统
校准准确度
校准效率
-
Keywords
de-embedding
TRL calibration
T/R array automatic test system
calibration accuracy
calibration efficiency
-
分类号
TN98
[电子电信—信息与通信工程]
-
