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标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨
被引量：
1
1
作者
刘家松
任长明
刘诗荣
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1995年第3期28-33,共6页
本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总经”第一部分“标准调试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。简述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法。综述了美国相应标准IEEEStd1149．1公布前后提出...
本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总经”第一部分“标准调试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。简述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法。综述了美国相应标准IEEEStd1149．1公布前后提出和试行在印制板级和系统级实现的若干方法和方案，包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实现中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发混合型印制板与系统的测试方法与方案问题。
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关键词
可测性
集成电路
标准
标准测试存取口
边界扫描
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职称材料
题名
标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨
被引量：
1
1
作者
刘家松
任长明
刘诗荣
机构
天津大学计算机系
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1995年第3期28-33,共6页
文摘
本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总经”第一部分“标准调试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。简述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法。综述了美国相应标准IEEEStd1149．1公布前后提出和试行在印制板级和系统级实现的若干方法和方案，包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实现中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发混合型印制板与系统的测试方法与方案问题。
关键词
可测性
集成电路
标准
标准测试存取口
边界扫描
Keywords
Testability design
Standard testability bus (T-BUS)
Standard test access port and boundary scan architecture
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨
刘家松
任长明
刘诗荣
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1995
1
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