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极化相关损耗和偏振模色散的相互作用及其对传输性能的影响 被引量:1
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作者 邵钟浩 沈晓强 于娟 《光通信技术》 CSCD 北大核心 2002年第6期35-38,共4页
阐述了高速光纤传输系统中极化相关损耗(PDL)和偏振模色散(PMD)的相互作用,指出了PDL效应会使系统的PMD的大小和概率密度分布发生变化,同时PMD效应也会对系统的PDL的大小和概率密度分布产生影响,两者相互作用会导致系统性能的显著下降。
关键词 极化相关损耗(pdl) 偏振模色散(PMD) 差分群时延(DGD) 概率密度函数(PDF)
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一种基于正交向量的极化相关衰减效应消除方法 被引量:3
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作者 罗章凯 裴忠民 +1 位作者 熊伟 王新敏 《电波科学学报》 CSCD 北大核心 2022年第2期342-348,356,共8页
针对双极化通信场景下正交极化信号串扰导致的解调性能恶化问题,提出了一种基于正交向量的极化相关衰减效应消除方法.该方法通过对发送信号进行设计,利用一组正交向量分别在发射端和接收端对极化信号进行处理,达到消除极化间串扰的目的... 针对双极化通信场景下正交极化信号串扰导致的解调性能恶化问题,提出了一种基于正交向量的极化相关衰减效应消除方法.该方法通过对发送信号进行设计,利用一组正交向量分别在发射端和接收端对极化信号进行处理,达到消除极化间串扰的目的,同时在发送端利用估计的信道参数处理发送信号,进一步消除非理想信道影响.在不改变噪声功率的基础上,实现正交极化信号的无串扰接收,有效提高接收端信号解调性能.理论分析和仿真结果表明,极化状态调制信号的解调误码率逼近高斯信道下的理论值,相比于预补偿方法和迫零矩阵法有更好的误码率性能,仿真结果与理论推导具有较好的一致性.本文方法能有效解决无线信道中正交极化信号间串扰,提高接收端信号解调性能. 展开更多
关键词 无线通信 极化相关衰减(pdl) 正交向量 正交极化串扰 极化调制
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基于PLC的PMD补偿器中PDL效应的分析 被引量:3
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作者 王磊 王斌 吴兴坤 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第9期1380-1384,共5页
应用穆勒(Müller)矩阵对硅基平面光波导线路(Planar lightwave circuit PLC)补偿器中PDL对差分群时延(Differential group delay DGD)分布的影响进行了分析,在不同的PDL值下对各种不同级次的PLC单元级联情况的DGD值分布进行了讨论... 应用穆勒(Müller)矩阵对硅基平面光波导线路(Planar lightwave circuit PLC)补偿器中PDL对差分群时延(Differential group delay DGD)分布的影响进行了分析,在不同的PDL值下对各种不同级次的PLC单元级联情况的DGD值分布进行了讨论,并与Maxwell分布进行了比较,得到了在特定PDL值情况下最为优化的PLC级次. 展开更多
关键词 偏振模色散(PMD) 平面光波导线路(PLC) PMD补偿器 偏振相关损耗(pdl)
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单模光纤中椭圆双折射下偏振模色散特性研究 被引量:9
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作者 王戈 李康 孔繁敏 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期465-468,共4页
为了分析椭圆双折射对偏振模色散的影响,将模型中的偏振模色散(PMD)矢量及极化相关损耗(PDL)矢量设定为椭圆偏振矢量,应用保偏光纤(PMF)级联模型和蒙特卡罗仿真方法,研究在PDL影响下的PMD统计特性。研究表明,PMD和PDL矢量的椭圆偏振程度... 为了分析椭圆双折射对偏振模色散的影响,将模型中的偏振模色散(PMD)矢量及极化相关损耗(PDL)矢量设定为椭圆偏振矢量,应用保偏光纤(PMF)级联模型和蒙特卡罗仿真方法,研究在PDL影响下的PMD统计特性。研究表明,PMD和PDL矢量的椭圆偏振程度对PMD的统计分布和均值大小均会有影响;在椭圆偏振和PDL的联合影响下,PMD的统计分布为Maxwell和Gaussian分布的合分布。研究结果对偏振模色散的测试、补偿和系统设计均具有参考价值。 展开更多
关键词 光纤光学 偏振模色散 概率密度函数 蒙特卡罗仿真 极化相关损耗 保偏光纤级联模型
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一种新的基于光纤光栅测电磁场的解调系统
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作者 李慧博 葛海波 +1 位作者 赵彦彦 王松 《光通信技术》 CSCD 北大核心 2012年第1期49-52,共4页
提出了一种新的使用光纤光栅测电磁场的方法,依据磁场与光纤光栅偏振相关损耗(PDL)成正比的原理,运用1/4波片转化左、右旋圆偏振光为线偏振光,根据所检测出的两偏振光光强推算出磁场强度,并论证了其可行性。
关键词 偏振相关损耗(pdl) 光纤光栅 1/4波片 磁场
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光无源器件测试系统设计和测试误差分析 被引量:5
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作者 杜维国 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2009年第S1期78-84,共7页
光无源器件测试系统是光无源器件生产工艺的重要组成部分,是检测和判定光无源器件Pass/Fail的标准。而测试系统由于采用的测试仪器本身的精度问题、测试原理和方法、测试数据的取得方法上都有一定的误差,所以测试系统的误差是不可避免... 光无源器件测试系统是光无源器件生产工艺的重要组成部分,是检测和判定光无源器件Pass/Fail的标准。而测试系统由于采用的测试仪器本身的精度问题、测试原理和方法、测试数据的取得方法上都有一定的误差,所以测试系统的误差是不可避免的。目前在光通信行业已有专业的公司提供完整可靠的测试仪器和方案。但对于想自行设计测试系统者来说,如何设计适合自己的产品,误差的测试系统是个主要的课题。本文就以光无源器件中常见的光学参数如IL、Isolation、PDL、RL的测试原理、测试系统的设计和在使用过程中产生的误差分析方面去做一简单的阐述,仅供初学者参考。 展开更多
关键词 测试系统 测试方法 测试误差 插入损耗(IL) 隔离度(Isolation) 偏振相关损耗(pdl) 回损(RL) 光源 光功率计 边模抑制比
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