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利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法 被引量:23
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作者 王庆有 于涓汇 +1 位作者 郭青 张盛彬 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期20-23,共4页
用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"... 用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线。采用CCD拼接技术,测量精度可达到1mm,测量范围80mm。 展开更多
关键词 CCD 非接触测量 材料变形量 应力测量 材料拉伸实验
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