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能态密度及其在解释半导体物理问题中的应用
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作者 林鸿生 《大学物理》 1998年第4期8-10,共3页
通过对半导体杂质饱和电离、灰锡(α-Sn)半导体特性以及Gunn效应等的解释,指出能态密度在研究半导体物理现象中的重要应用.
关键词 能态密度 杂质饱和电离 Gunn效应 半导体物理
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