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PIPS-α谱仪探测效率蒙特卡罗模拟及其影响因素 被引量:4
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作者 许阳阳 庹先国 +2 位作者 石睿 郑洪龙 刘宇琦 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第10期151-156,共6页
在α放射源能谱测量过程中,PIPS-α谱仪探测效率的影响因素有几何因子、空气层吸收、死层吸收、本征探测效率等,为了更精确地计算α放射源的活度,分析母体核素种类和浓度,探究各因素对探测效率的影响具有重要意义。使用蒙特卡罗软件模... 在α放射源能谱测量过程中,PIPS-α谱仪探测效率的影响因素有几何因子、空气层吸收、死层吸收、本征探测效率等,为了更精确地计算α放射源的活度,分析母体核素种类和浓度,探究各因素对探测效率的影响具有重要意义。使用蒙特卡罗软件模拟不同探源距、真空度下的α放射源的能谱测量;使用SRIM模拟5MeVα粒子在空气和死层中的射程及分布;使用PIPS-α谱仪测量241 Am,238Pu,239Pu三种标准源的实际能谱;根据实验与模拟的结果对各个因素对探测效率的影响进行分析,并计算得到谱仪对不同α放射源的本征探测效率。结果表明:在PIPS-α谱仪的能谱测量过程中,影响谱仪探测效率的主要因素是几何因子和本征探测效率,空气层和死层对α粒子的吸收可以忽略不计;谱仪对241 Am,238Pu,239Pu三种标准源的本征探测效率分别为64.84%,49.95%,51.55%。 展开更多
关键词 PIPS-α谱仪 探测效率 几何因子 本征探测效率 MC模拟
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使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度 被引量:3
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作者 余涛 郭思明 +4 位作者 周建斌 蒋政 郄晓雨 郭锴悦 吴金杰 《计量学报》 CSCD 北大核心 2022年第10期1366-1370,共5页
CdTe探测器对单能平行光子源的绝对测量之前,需要进行效率刻度。利用MCNP5蒙特卡罗模拟程序建立CdTe探测器物理模型,模拟计算了10~260 keV能量段能点的本征探测效率,在10~60 keV能量段探测效率高于75%。用单能X射线装置和HPGe探测器对C... CdTe探测器对单能平行光子源的绝对测量之前,需要进行效率刻度。利用MCNP5蒙特卡罗模拟程序建立CdTe探测器物理模型,模拟计算了10~260 keV能量段能点的本征探测效率,在10~60 keV能量段探测效率高于75%。用单能X射线装置和HPGe探测器对CdTe探测器本征探测效率进行了实验刻度。结果表明,在10~100 keV能量范围内CdTe探测器的模拟效率与实验效率趋势一致,最大误差不超过5.6%。因为Te元素在27 keV和32 keV处会产生逃逸峰,导致探测效率在这2个能量处有明显下降趋势。用^(241)Am和^(133)Ba放射源对CdTe探测器进行效率刻度验证,在能量为59.54 keV和81 keV放射源标定的探测效率与单能X射线辐射装置测量值相符。 展开更多
关键词 计量学 CdTe探测 本征探测效率 蒙特卡罗 探测效率刻度
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