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表面残留有机沾污物的TOF－SIMS及XPS研究
1
作者
邓朝辉
林晶
+1 位作者
任云珠
宗祥福
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1996年第2期1-5,共5页
飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后、银片上残留的未知的有机物。结果显示，有机沾污物主要是一些含１８～３０碳原子、碳链饱和度很高的酮类和酯类化合物；个别有机物可...
飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后、银片上残留的未知的有机物。结果显示，有机沾污物主要是一些含１８～３０碳原子、碳链饱和度很高的酮类和酯类化合物；个别有机物可能是硬脂酰胺。这种结构特点使有机物中的Ｃ＝Ｏ基团易于采取氧原子指向基体表面的取向，通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附。ＴＯＦ－ＳＩＭＳ二维离子像显示有机沾污物在银片表面上呈极稀薄的均匀分布。
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关键词
TOF-SIMS
XPS
有机沾污物
银片
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职称材料
题名
表面残留有机沾污物的TOF－SIMS及XPS研究
1
作者
邓朝辉
林晶
任云珠
宗祥福
机构
复旦大学材料科学系
出处
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1996年第2期1-5,共5页
文摘
飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后、银片上残留的未知的有机物。结果显示，有机沾污物主要是一些含１８～３０碳原子、碳链饱和度很高的酮类和酯类化合物；个别有机物可能是硬脂酰胺。这种结构特点使有机物中的Ｃ＝Ｏ基团易于采取氧原子指向基体表面的取向，通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附。ＴＯＦ－ＳＩＭＳ二维离子像显示有机沾污物在银片表面上呈极稀薄的均匀分布。
关键词
TOF-SIMS
XPS
有机沾污物
银片
Keywords
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS),X-ray photoelcctron spectroscopy(XPS),Organic contaminant.
分类号
O656.21 [理学—分析化学]
O657.6 [理学—分析化学]
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作者
出处
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1
表面残留有机沾污物的TOF－SIMS及XPS研究
邓朝辉
林晶
任云珠
宗祥福
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1996
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