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新型OLED测试系统的设计与实现
被引量：
1
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作者
彭强
姚若河
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第5期467-469,共3页
为了满足OLED准确批量测试及降低系统成本的需要,根据表征OLED器件性能指标的特点,设计并建立了一套可测试OLED电流密度-电压-亮度以及器件衰减曲线的测试系统。该系统在计算机程控测控稳压电源的控制下,可同时对多路OLED进行测试并实现...
为了满足OLED准确批量测试及降低系统成本的需要,根据表征OLED器件性能指标的特点,设计并建立了一套可测试OLED电流密度-电压-亮度以及器件衰减曲线的测试系统。该系统在计算机程控测控稳压电源的控制下,可同时对多路OLED进行测试并实现了OLED屏的加速老化的测试,采用光敏二极管传感器代替了通常使用的辉度计,降低了系统的成本。系统最终输出数据结果由计算机记录,提高了数据采样的准确性,对OLED制作的材料和工艺的评测提供了精确的参考数据。
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关键词
有机发光显示器件
寿命
测试系统
批量测试
老化测试
加速老化测试
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职称材料
题名
新型OLED测试系统的设计与实现
被引量：
1
1
作者
彭强
姚若河
机构
华南理工大学电子与信息学院
汕尾职业技术学院电子信息系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第5期467-469,共3页
文摘
为了满足OLED准确批量测试及降低系统成本的需要,根据表征OLED器件性能指标的特点,设计并建立了一套可测试OLED电流密度-电压-亮度以及器件衰减曲线的测试系统。该系统在计算机程控测控稳压电源的控制下,可同时对多路OLED进行测试并实现了OLED屏的加速老化的测试,采用光敏二极管传感器代替了通常使用的辉度计,降低了系统的成本。系统最终输出数据结果由计算机记录,提高了数据采样的准确性,对OLED制作的材料和工艺的评测提供了精确的参考数据。
关键词
有机发光显示器件
寿命
测试系统
批量测试
老化测试
加速老化测试
Keywords
OLED
lifetime
test system
batch accurate test
aging test
accelerated aging test
分类号
TN383.1 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
新型OLED测试系统的设计与实现
彭强
姚若河
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009
1
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