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有机/无机复合结构光电导型器件的光激发机制
被引量：
5
1
作者
靳辉
滕枫
+4 位作者
刘俊峰
孟宪国
徐征
侯延冰
徐叙瑢
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第8期918-921,共4页
制备了PVK/ZnS有机无机复合的光电导型器件 ,器件结构分别为Glass/ITO/PVK/Al;Glass/ITO/ZnS/Al;Glass/ITO/ZnS/PVK/Al。通过研究此复合器件在外加电场作用下的稳态光电导激发谱 ,得到了基本光激发过程。把PVK/ZnS的吸收谱和器件的光电...
制备了PVK/ZnS有机无机复合的光电导型器件 ,器件结构分别为Glass/ITO/PVK/Al;Glass/ITO/ZnS/Al;Glass/ITO/ZnS/PVK/Al。通过研究此复合器件在外加电场作用下的稳态光电导激发谱 ,得到了基本光激发过程。把PVK/ZnS的吸收谱和器件的光电导谱进行比较 ,知道虽然两者的吸收对器件光电流都有贡献 ,但有效部分在PVK和ZnS的界面处。
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关键词
有机/
无机
复合
结构光电导型
器件
光激发机制
激发态过程
稳态光电导谱
吸收谱
场致猝灭谱
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职称材料
壳层厚度对于量子点/聚合物复合电子存储器件性能的影响
2
作者
孙秀英
陈伟
+1 位作者
谢剑星
李福山
《现代电子技术》
北大核心
2016年第2期107-109,112,共4页
研究了一种含有不同壳层结构量子点的聚乙烯咔唑(PVK)/Cd Se量子点复合体系电双稳器件,结果发现基于无壳层量子点的器件电荷存储能力较差,随着壳层厚度的增加,器件的电学特性由双稳态向三稳态转变。通过电容-电压(C-V)的测试结果表明,...
研究了一种含有不同壳层结构量子点的聚乙烯咔唑(PVK)/Cd Se量子点复合体系电双稳器件,结果发现基于无壳层量子点的器件电荷存储能力较差,随着壳层厚度的增加,器件的电学特性由双稳态向三稳态转变。通过电容-电压(C-V)的测试结果表明,壳层的厚度对于量子点的电荷捕获能力有重要的影响,从而导致器件表现出不同的存储特性。
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关键词
有机/无机复合器件
电双稳态
PVK
量子点
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职称材料
题名
有机/无机复合结构光电导型器件的光激发机制
被引量：
5
1
作者
靳辉
滕枫
刘俊峰
孟宪国
徐征
侯延冰
徐叙瑢
机构
北京交通大学光电子技术研究所
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第8期918-921,共4页
基金
国家自然科学基金 (90 30 1 0 0 4 )
高等学校博士学科专项科研基金(2 0 0 2 0 0 0 4 0 0 4 )
+2 种基金
北京市自然科学基金 (2 0 52 0 1 5)
北京交通大学论文基金
"973"项目(2 0 03CB31 4 70 7)资助
文摘
制备了PVK/ZnS有机无机复合的光电导型器件 ,器件结构分别为Glass/ITO/PVK/Al;Glass/ITO/ZnS/Al;Glass/ITO/ZnS/PVK/Al。通过研究此复合器件在外加电场作用下的稳态光电导激发谱 ,得到了基本光激发过程。把PVK/ZnS的吸收谱和器件的光电导谱进行比较 ,知道虽然两者的吸收对器件光电流都有贡献 ,但有效部分在PVK和ZnS的界面处。
关键词
有机/
无机
复合
结构光电导型
器件
光激发机制
激发态过程
稳态光电导谱
吸收谱
场致猝灭谱
Keywords
photoexcitation
field-induced quenching
photoconductivity
分类号
TN15 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
壳层厚度对于量子点/聚合物复合电子存储器件性能的影响
2
作者
孙秀英
陈伟
谢剑星
李福山
机构
福州大学物理与信息工程学院
出处
《现代电子技术》
北大核心
2016年第2期107-109,112,共4页
基金
国家自然科学基金(61377027)
福建省自然科学基金(2013J01233)
文摘
研究了一种含有不同壳层结构量子点的聚乙烯咔唑(PVK)/Cd Se量子点复合体系电双稳器件,结果发现基于无壳层量子点的器件电荷存储能力较差,随着壳层厚度的增加,器件的电学特性由双稳态向三稳态转变。通过电容-电压(C-V)的测试结果表明,壳层的厚度对于量子点的电荷捕获能力有重要的影响,从而导致器件表现出不同的存储特性。
关键词
有机/无机复合器件
电双稳态
PVK
量子点
Keywords
organic/inorganic hybrid device
electric bistable state
PVK
quantum dot.
分类号
TN710-34 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
有机/无机复合结构光电导型器件的光激发机制
靳辉
滕枫
刘俊峰
孟宪国
徐征
侯延冰
徐叙瑢
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
5
在线阅读
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职称材料
2
壳层厚度对于量子点/聚合物复合电子存储器件性能的影响
孙秀英
陈伟
谢剑星
李福山
《现代电子技术》
北大核心
2016
0
在线阅读
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职称材料
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