基于图论的最小测试集的寻找 被引量：4

1

作者 蒋薇薇 鲁昌华 +1 位作者 章其波 刘春 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第z2期295-297,共3页

电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题。本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理论进行建模的电路进行最小测试集的查找,能够方便快捷的获得被测电路的最小测试集。最后用实例对该方法... 电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题。本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理论进行建模的电路进行最小测试集的查找,能够方便快捷的获得被测电路的最小测试集。最后用实例对该方法进行了验证。 展开更多

关键词 图 论 离散事件系统 可测性 最小测试集

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基于GASA的最小测试集求取的研究 被引量：1

2

作者 赵岩岭 刘春 +2 位作者 曹源 高翠云 陈胜军 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期981-983,共3页

近年来发展的离散事件系统(DES)理论可提供一种统一的对数模混合电路中数字电路和模拟电路测试都有效的方法。对基于DES理论的可测试性研究中电路最小测试集的求取问题,提出了一种运用GASA混合策略的组合优化方法,并对进一步的研究工作... 近年来发展的离散事件系统(DES)理论可提供一种统一的对数模混合电路中数字电路和模拟电路测试都有效的方法。对基于DES理论的可测试性研究中电路最小测试集的求取问题,提出了一种运用GASA混合策略的组合优化方法,并对进一步的研究工作进行了展望。 展开更多

关键词 离散事件系统 最小测试集 遗传算法 模拟退火

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关于最小测试集的线性规划松弛近似

3

作者 崔鹏 刘红静 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2005年第10期157-159,166,共4页

目前最小测试集的最佳近似比是贪心算法的2lnn-o(1)。这个近似比能否改进是一个公开的问题。本文讨论了最小测试集的基于线性规划松弛的近似比证明方法的能力问题。我们证明最小测试集的整性间隙至少为0.72lnn,而且最小测试集整性间隙... 目前最小测试集的最佳近似比是贪心算法的2lnn-o(1)。这个近似比能否改进是一个公开的问题。本文讨论了最小测试集的基于线性规划松弛的近似比证明方法的能力问题。我们证明最小测试集的整性间隙至少为0.72lnn,而且最小测试集整性间隙的系数可以与最小集合覆盖的整性间隙的系数一样大。另外,我们说明加权最小测试集的贪心算法的近似比不能通过对偶拟合方法改进超过一个常数。 展开更多

关键词 最小测试集 贪心算法 整性间隙 对偶拟合 线性规划松弛 测试集 近似比 最小 贪心算法 证明方法 集合覆盖 拟合方法 间隙

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几种求取电路最小测试集算法的比较研究 被引量：2

4

作者 张菲菲 鲁昌华 王妍妍 《电测与仪表》 北大核心 2006年第3期43-45,39,共4页

近年来发展的离散事件系统(DES)为数模混合电路中数字信号和模拟信号提供了一种统一的测试方法,而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点。本文阐述了目前学者提出的几种求取最小测试集算法的基本思想,分析了各算法的优缺点... 近年来发展的离散事件系统(DES)为数模混合电路中数字信号和模拟信号提供了一种统一的测试方法,而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点。本文阐述了目前学者提出的几种求取最小测试集算法的基本思想,分析了各算法的优缺点,并深入地比较了各个算法,通过具体实验说明了各算法的优劣性,最后指出了该学科今后的发展方向。 展开更多

关键词 离散事件系统 最小测试集 算法复杂度

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基于蚁群算法的测试用例集最小化研究 被引量：17

5

作者 丁革建 郑燕妮 张璐 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第6期213-215,218,共4页

测试用例集最小化的目的是用尽可能少的测试用例充分测试给定的被测目标。把每个待测用例抽象成独立的节点,通过构造虚拟蚁群以及采用启发信息的动态更新,提出一种新的基于蚁群算法的测试用例集最小化方法及具体实现步骤。并编写算法,... 测试用例集最小化的目的是用尽可能少的测试用例充分测试给定的被测目标。把每个待测用例抽象成独立的节点,通过构造虚拟蚁群以及采用启发信息的动态更新,提出一种新的基于蚁群算法的测试用例集最小化方法及具体实现步骤。并编写算法,运行仿真程序对基于蚁群算法的测试用例集最小化方法进行验证,对实验结果的分析证明了该算法的可行性和有效性。 展开更多

关键词 蚁群算法 测试用例集最小化 信息素 启发信息

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基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 被引量：2

6

作者 张盛兵 高德远 樊晓桠 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2000年第10期1083-1087,共5页

着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能... 着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% . 展开更多

关键词 微处理器 功能测试 微指令 最小指令集测试算法

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一种最小测试用例集生成方法 被引量：58

7

作者 聂长海 徐宝文 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2003年第12期1690-1695,共6页

测试用例的数量和质量决定软件测试的成本和有效性 .该文提出了一种生成最小测试用例集的方法 ,该方法首先充分考虑测试目标中各个测试需求之间的相互关系 ,将满足测试需求的所有可用测试用例进行划分 ,根据划分的结果生成一个测试用例... 测试用例的数量和质量决定软件测试的成本和有效性 .该文提出了一种生成最小测试用例集的方法 ,该方法首先充分考虑测试目标中各个测试需求之间的相互关系 ,将满足测试需求的所有可用测试用例进行划分 ,根据划分的结果生成一个测试用例集 ,然后利用启发式算法、贪心算法或整数规划方法来消除冗余 ,对这个测试用例集进行进一步的简化 .这种方法与已有方法相比 ,优点在于它可以生成满足所有测试需求的最小测试用例集 . 展开更多

关键词 软件测试 软件开发 软件需求分析 最小测试用例集生成方法

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集成电路最小全测试集矩阵算法的特点及程序实现 被引量：1

8

作者 郑晓薇 《计算机应用研究》 CSCD 1994年第3期11-12,共2页

最小全测试集技术是对数字集成电路进行逻辑功能检测的方法之一。采用计算机编程实现的最小全测试集技术，涉及到特殊的矩阵算法，本文利用数据库语言的特殊构造形式以及强大的数据处理能力，较好地解决了矩阵变换、矩阵运算等程序算法... 最小全测试集技术是对数字集成电路进行逻辑功能检测的方法之一。采用计算机编程实现的最小全测试集技术，涉及到特殊的矩阵算法，本文利用数据库语言的特殊构造形式以及强大的数据处理能力，较好地解决了矩阵变换、矩阵运算等程序算法问题；并用ＦＯＸＢＡＳＥ加以实现，使得最小全测试集可以由计算机自动建立，测试参数可以自动产生，达到了使用其它高级语言不易达到的效果。 展开更多

关键词 集成电路 最小全测试集 矩阵 算法

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MC/DC最小测试用例集快速生成算法 被引量：7

9

作者 段飞雷 吴晓 +1 位作者 张凡 董云卫 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第17期40-42,45,共4页

以条件判定组合的语法树为研究对象,总结语法树的左右分支对判定结果的影响方式及结果,根据其影响特点提出超越语法树的快速生成改进判定/条件覆盖最小测试用例集的算法。与其他算法在在空间及时间方面进行比较,结果表明该算法具有一定... 以条件判定组合的语法树为研究对象,总结语法树的左右分支对判定结果的影响方式及结果,根据其影响特点提出超越语法树的快速生成改进判定/条件覆盖最小测试用例集的算法。与其他算法在在空间及时间方面进行比较,结果表明该算法具有一定的优越性。 展开更多

关键词 改进判定 条件覆盖 最小测试用例集 快速生成算法

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基于冗余测试用例的最小测试用例集生成方法 被引量：9

10

作者 郭晶晶 高建华 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期45-48,共4页

提出一种最小测试用例集的生成方法。保留在某个测试标准下冗余,但在其他测试标准下不冗余的测试用例,即在测试用例集简化期间通过有选择性地保留测试用例来生成一个测试用例集。与已有方法相比,该方法能在不影响测试组大小范围的情况... 提出一种最小测试用例集的生成方法。保留在某个测试标准下冗余,但在其他测试标准下不冗余的测试用例,即在测试用例集简化期间通过有选择性地保留测试用例来生成一个测试用例集。与已有方法相比,该方法能在不影响测试组大小范围的情况下有效提高错误检测效率。 展开更多

关键词 软件测试 测试标准 测试用例集最小化

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基于EFSM的最小测试用例集生成方法 被引量：1

11

作者 陈孔婷 王兴起 《计算机工程与设计》 北大核心 2019年第9期2502-2506,共5页

影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合... 影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合并迁移覆盖算法输出的集合,得到最小测试用例集。实验结果表明,所提方法得到的最小测试用例集,降低了测试成本,提高了测试效率。 展开更多

关键词 扩展有限状态机 最小测试用例集 迁移覆盖 测试成本 测试效率

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基于混合遗传算法的回归测试用例集最小化研究 被引量：2

12

作者 邓秋辉 罗小华 《传感器与微系统》 CSCD 2018年第7期11-14,共4页

为缩减测试用例规模,降低回归测试成本,将遗传算法和贪心算法相结合,提出了一种混合遗传算法用于解决测试用例最小化问题。算法对标准遗传算法中的选择、交叉和变异操作进行改善,提高了算法的全局寻优能力。同时,利用贪心算法处理可行... 为缩减测试用例规模,降低回归测试成本,将遗传算法和贪心算法相结合,提出了一种混合遗传算法用于解决测试用例最小化问题。算法对标准遗传算法中的选择、交叉和变异操作进行改善,提高了算法的全局寻优能力。同时,利用贪心算法处理可行解和不可行解,提高了算法的局部寻优能力。实验结果表明:与标准遗传算法相比,在保证测试完备性的前提下,混合遗传算法能够得到更优的缩减效果和更快的收敛速度。 展开更多

关键词 回归测试 测试用例集最小化 遗传算法 贪心算法

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A/D转换器最小完备测试集生成与故障诊断方法研究

13

作者 李玲 王学伟 +1 位作者 杨立国 王琳 《电测与仪表》 北大核心 2014年第3期27-32,共6页

为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试... 为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试集。同时,提出了将A/D转换器数字输出向量在二元域GF(2N)空间中正交分解后分别提取特征量的方法来完成无噪声影响位和噪声影响位的故障识别。通过仿真验证表明:输入A/D转换器的测试电平数量减少了99.9%。本文生成的最小完备测试集不仅能够满足紧凑性条件和完备性条件,而且极大降低了测试向量的冗余度。本文提出的故障诊断方法提高了故障诊断的时间效率和准确度,解决了A/D转换器噪声影响位由于征兆混淆而无法完成故障识别的问题。 展开更多

关键词 A D转换器 最小完备测试集 GF(2N)空间 空间误差值

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测试用例集约简问题研究及其进展 被引量：25

14

作者 章晓芳 陈林 +1 位作者 徐宝文 聂长海 《计算机科学与探索》 CSCD 2008年第3期235-247,共13页

测试用例集约简问题是软件测试中的关键问题之一,其目的是使用尽可能少的测试用例充分满足给定的测试目标,从而提高测试效率、降低测试成本。在简要介绍了测试用例集约简问题基本概念的基础上,总结了求解该问题的几种主要方法,分析比较... 测试用例集约简问题是软件测试中的关键问题之一,其目的是使用尽可能少的测试用例充分满足给定的测试目标,从而提高测试效率、降低测试成本。在简要介绍了测试用例集约简问题基本概念的基础上,总结了求解该问题的几种主要方法,分析比较了这些方法的效率和特性。随后探讨了与测试用例集约简问题强相关的测试用例集错误检测效率的问题,并研究了测试用例优先级技术。最后指出了测试用例集约简问题的下一步研究方向。 展开更多

关键词 软件工程 软件测试 测试用例集约简 最小测试用例集 错误检测效率

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测试用例集启发式约简算法分析与评价 被引量：8

15

作者 游亮 卢炎生 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2011年第12期147-150,177,共5页

在软件开发和维护过程中,为了提高对源程序变更部分的信心并且保证源程序变更部分没有对未变更部分造成负面影响,需要对软件系统进行回归测试。回归测试是一个昂贵的测试过程。测试用例集约简算法是在仍然满足测试准则的前提下,通过删... 在软件开发和维护过程中,为了提高对源程序变更部分的信心并且保证源程序变更部分没有对未变更部分造成负面影响,需要对软件系统进行回归测试。回归测试是一个昂贵的测试过程。测试用例集约简算法是在仍然满足测试准则的前提下,通过删除所有冗余测试用例得到测试用例集的最小约简测试用例集,用以优化回归测试过程。综述了文献中主要的测试用例集启发式约简算法,通过统一的框架和术语定义了这些算法,分析和比较了这些算法的效率和优劣,指出了未来进一步研究的方向。 展开更多

关键词 软件测试 软件维护 回归测试 测试用例集约简 测试用例集最小化

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回归测试中路径覆盖生成方法研究及其应用 被引量：4

16

作者 高建华 殷定媛 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2009年第3期398-404,共7页

基于边覆盖的路径覆盖估测法可获取用于回归测试用例选择的数据信息,但存在估测精确率不高、对重叠路径的识别能力差以及循环结构对可执行路径数目的影响等缺陷.针对这些缺陷,提出一种新的路径覆盖生成方法来获取程序执行的路径信息,该... 基于边覆盖的路径覆盖估测法可获取用于回归测试用例选择的数据信息,但存在估测精确率不高、对重叠路径的识别能力差以及循环结构对可执行路径数目的影响等缺陷.针对这些缺陷,提出一种新的路径覆盖生成方法来获取程序执行的路径信息,该方法包括CFG图到DAG图的转换和还原、利用DFS深度优先策略构造DAG图的chord生成树等,然后设计了基于该方法的测试数据集生成方法.最后,对该方法进行实验验证和数据分析,证明了该方法的有效性. 展开更多

关键词 回归测试选择 路径覆盖生成 DAG图CFG图 最小回归测试集

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