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A/D转换器最小完备测试集生成与故障诊断方法研究
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作者 李玲 王学伟 +1 位作者 杨立国 王琳 《电测与仪表》 北大核心 2014年第3期27-32,共6页
为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试... 为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试集。同时,提出了将A/D转换器数字输出向量在二元域GF(2N)空间中正交分解后分别提取特征量的方法来完成无噪声影响位和噪声影响位的故障识别。通过仿真验证表明:输入A/D转换器的测试电平数量减少了99.9%。本文生成的最小完备测试集不仅能够满足紧凑性条件和完备性条件,而且极大降低了测试向量的冗余度。本文提出的故障诊断方法提高了故障诊断的时间效率和准确度,解决了A/D转换器噪声影响位由于征兆混淆而无法完成故障识别的问题。 展开更多
关键词 A D转换器 最小完备测试集 GF(2N)空间 空间误差值
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