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晶粒尺寸对多层陶瓷电容器可靠性能的影响与机理
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作者 吕烨同 覃业霞 +2 位作者 王梅 杨帅俊 张蕾 《华南师范大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2024年第3期1-8,共8页
通过改变BaTiO_(3)基薄层多层陶瓷电容器(MLCC)的晶粒尺寸,探究其对MLCC性能的影响。通过拉曼光谱、电容温度系数(TCC)曲线、偏压特性、伏安(I-V)特性曲线、变温阻抗谱、击穿电压威布尔分布(BDV)和高加速寿命老化(HALT)等全面系统研究... 通过改变BaTiO_(3)基薄层多层陶瓷电容器(MLCC)的晶粒尺寸,探究其对MLCC性能的影响。通过拉曼光谱、电容温度系数(TCC)曲线、偏压特性、伏安(I-V)特性曲线、变温阻抗谱、击穿电压威布尔分布(BDV)和高加速寿命老化(HALT)等全面系统研究了晶粒尺寸对MLCC的电学性能和可靠性的影响。结果表明:晶粒尺寸显著影响MLCC的偏压稳定性和可靠性。细晶粒MLCC由于具有较高的晶界密度,使其晶界、界面激活能和肖特基势垒得以提高,显著增强了器件的击穿强度和抗老化能力,展现出更好的可靠性。研究结果可以为国内MLCC性能提升提供理论支持和技术指导。 展开更多
关键词 陶瓷电容器 钛酸钡 晶粒尺寸 晶界密度 可靠性
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不同工艺条件对柔性低温多晶硅薄膜晶体管性能影响
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作者 朱慧 孙烨镕 +4 位作者 李屹林 姚智文 张轶群 张之壤 刘行 《北京工业大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第8期914-920,共7页
为了探究不同工艺对柔性低温多晶硅薄膜晶体管性能的影响,对比了3种不同工艺薄膜晶体管的电学特性和陷阱特性。首先,通过瞬态电流法研究陷阱,运用陷阱对载流子的捕获和释放的特点测量得到瞬态电流曲线,通过分别改变栅压和漏压并结合不... 为了探究不同工艺对柔性低温多晶硅薄膜晶体管性能的影响,对比了3种不同工艺薄膜晶体管的电学特性和陷阱特性。首先,通过瞬态电流法研究陷阱,运用陷阱对载流子的捕获和释放的特点测量得到瞬态电流曲线,通过分别改变栅压和漏压并结合不同温度的陷阱去俘获峰值曲线提取的激活能分析得到不同俘获过程所对应的不同位置的3种陷阱。其次,用仪器测量器件的I-V特性曲线,提取器件的阈值电压V_(TH)、亚阈值摆幅S和迁移率μ进行比对分析。结果显示,样品A2的工艺改善了膜质,降低了器件的阈值电压和关态漏电流,同时降低了栅氧化层的陷阱密度;样品A4的工艺填补了界面和沟道内的悬挂键,优化了器件的迁移率和亚阈值摆幅,同时降低了界面和晶界的陷阱密度。 展开更多
关键词 薄膜晶体管 陷阱 瞬态电流法 界面陷阱密度 晶界陷阱密度 电学特性
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基于分子动力学方法的孪晶银纳米线拉伸形变模拟 被引量:5
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作者 孙寅璐 高亚军 +1 位作者 孙倩 赵健伟 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2015年第10期1880-1887,共8页
采用分子动力学方法研究了具有不同孪晶界密度的<111>晶向孪晶Ag纳米线在拉伸载荷下的形变行为,讨论了孪晶界对纳米线力学强度的影响,并分别阐明具有不同孪晶界密度Ag纳米线的塑性形变机理.结果表明,与单晶Ag纳米线的强度进行对... 采用分子动力学方法研究了具有不同孪晶界密度的<111>晶向孪晶Ag纳米线在拉伸载荷下的形变行为,讨论了孪晶界对纳米线力学强度的影响,并分别阐明具有不同孪晶界密度Ag纳米线的塑性形变机理.结果表明,与单晶Ag纳米线的强度进行对比可知,基于不同的形变模式,孪晶界的引入对纳米线可以起到弱化作用或者强化作用.以孪晶片层厚度的倒数(1/TBS)作为临界值,当1/TBS小于0.2 nm–1时,孪晶界作为位错源,表现为对纳米线的弱化作用;当1/TBS大于0.2 nm–1时,孪晶界阻碍位错运动表现为强化作用.强化作用机理分为两种:当1/TBS介于0.2到0.5 nm–1时,形变机理以孪晶界和位错相互作用为主,断裂开口均在纳米线内部产生,随着位错增殖形成孔洞,进而向四周蔓延;当1/TBS大于0.5 nm–1时,孪晶界发生迁移以容纳位错活动,位错不断增殖穿过孪晶界形成剪切带,进而导致纳米线的颈缩.由孪晶界密度不同引起的强化作用和弱化作用均随温度升高而减弱. 展开更多
关键词 分子动力学 银纳米线 晶界密度 拉伸载荷 形变
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电解质表面微结构对固体氧化物燃料电池的阴极极化电阻的影响 被引量:4
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作者 宋书祥 王云龙 夏长荣 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2014年第12期1253-1256,共4页
在固体氧化物燃料电池(SOFC)中,电解质对阴极界面极化电阻(Rc)有着显著影响。通过测量以Sm0.2Ce0.8O2-δ(SDC)为电解质、(La0.85Sr0.15)0.9Mn O3-δ(LSM)和La0.6Sr0.4Fe0.8Co0.2O3-δ(LSCF)为阴极的对称电池的交流阻抗谱,研究SDC电解质... 在固体氧化物燃料电池(SOFC)中,电解质对阴极界面极化电阻(Rc)有着显著影响。通过测量以Sm0.2Ce0.8O2-δ(SDC)为电解质、(La0.85Sr0.15)0.9Mn O3-δ(LSM)和La0.6Sr0.4Fe0.8Co0.2O3-δ(LSCF)为阴极的对称电池的交流阻抗谱,研究SDC电解质表面微结构(晶粒大小和晶界长度)对Rc的影响。通过改变烧结温度和时间,制备出具有不同晶粒尺寸和晶界密度的电解质。通过SEM得到微结构参数,建立Rc与这些参数的联系。结果发现,随着晶粒尺寸的减小、晶界密度的增加,Rc明显降低。此外,对于LSM电极,晶界密度的增加,促进了阴极反应的氧离子传导。 展开更多
关键词 阴极 极化阻抗 晶界密度 电解质微结构 固体氧化物燃料电池
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An analytical model to explore open-circuit voltage of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells 被引量:1
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作者 钟春良 耿魁伟 +1 位作者 罗兰娥 杨迪武 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第3期598-603,共6页
The effect of the parameters on the open-circuit voltage, V_(OC) of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells was explored by an analytical model. The analytical results show that V_(OC) increases linearly with the logar... The effect of the parameters on the open-circuit voltage, V_(OC) of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells was explored by an analytical model. The analytical results show that V_(OC) increases linearly with the logarithm of illumination intensity under usual illumination. There are two critical values of the interface state density(D_(it)) for the open-circuit voltage(V_(OC)), D_(it)^(crit,1) and D_(it)crit,2(a few 1010 cm^(-2)·e V^(-1)). V_(OC) decreases remarkably when D_(it) is higher than D_(it)^(crit,1). To achieve high V_(OC), the interface states should reduce down to a few 1010 cm^(-2)·e V^(-1). Due to the difference between the effective density of states in the conduction and valence band edges of c-Si, the open-circuit voltage of a-Si:H/c-Si heterojunction cells fabricated on n-type c-Si wafers is about 22 mV higher than that fabricated on p-type c-Si wafers at the same case. V_(OC) decreases with decreasing the a-Si:H doping concentration at low doping level since the electric field over the c-Si depletion region is reduced at low doping level. Therefore, the a-Si:H layer should be doped higher than a critical value of 5×10^(18) cm^(-3) to achieve high V_(OC). 展开更多
关键词 solar cells a-Si:H/c-Si heterojunctions open-circuit voltage
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