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基于图像处理的电子元器件表面缺陷检测技术 被引量:9
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作者 郑秀莲 袁巧玲 沈亚琦 《机电工程》 CAS 2009年第7期14-16,共3页
针对电子元器件的表面缺陷对其性能和品质有直接影响的问题,基于图像处理技术,以晶振外壳缺陷的检测为例,研究了电子元器件表面缺陷的检测技术。首先建立了检测系统平台,然后对所获取的图像进行分析和检测目标分割,并由生成的灰度共生... 针对电子元器件的表面缺陷对其性能和品质有直接影响的问题,基于图像处理技术,以晶振外壳缺陷的检测为例,研究了电子元器件表面缺陷的检测技术。首先建立了检测系统平台,然后对所获取的图像进行分析和检测目标分割,并由生成的灰度共生矩阵计算纹理特性值。基于惯性值对纹理的深浅具有敏感性,比较研究之后,采用了惯性值作为检测表面缺陷的指标。试验结果表明该方法能够有效检测平面缺陷。 展开更多
关键词 表面检测 晶振外壳 图像处理 纹理特征
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