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题名基于FPGA的RFID晶圆并行测试系统设计
被引量：5
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作者
张慧雷
景为平
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机构
南通大学江苏省集成电路设计重点实验室
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第11期866-871,共6页
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基金
江苏省物联网和新一代信息技术研发及产业化项目(SU2013-137)
江苏省产学研联合创新资金-前瞻性联合研究项目(BY2013042-03)
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文摘
针对高频射频识别(RFID)晶圆在中测(CP)阶段单通道串行测试效率低下的问题,设计了一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的多通道并行测试系统以提高测试效率。鉴于RFID晶圆上没有集成天线,提出了一种新的基于探针技术的射频耦合式的晶圆检测方法,模拟芯片实际工作。系统选用FPGA为微控制器,配以多路射频耦合通信电路,实现测试向量生成及快速信号处理。再结合上位机与探针台高速并行的通用接口总线(GPIB)通信接口,以实现晶圆级RFID芯片测试。经实际测试,该系统能够实现16通道并行测试,与单通道串行测试系统相比,效率提升了97%,可靠性好,稳定性高,可应用高密度RFID晶圆的中测。
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关键词
并行测试
高频射频识别(RFID)
晶圆测试(cp)
射频耦合
现场可编程门阵列(FPGA)
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Keywords
parallel test
high frequency radio frequency identification device（RFID）
chip probing（cp）
RF coupling
field programmable gate array（FPGA）
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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