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基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析
被引量：
3
1
作者
张槐洋
文尚胜
+6 位作者
方方
唐浩洲
林凯旋
邵沅玲
魏志权
康丽娟
廖少雄
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2019年第9期1185-1191,共7页
失效定位技术是发光二极管失效性分析中的重要组成部分,本文在主流的3种失效定位技术:光子辐射显微技术、光诱导电阻变化、红外热成像显微技术的基础上,提出了一种显微红外热点定位测试系统。该系统通过双线性插值算法使源图像放大至原...
失效定位技术是发光二极管失效性分析中的重要组成部分,本文在主流的3种失效定位技术:光子辐射显微技术、光诱导电阻变化、红外热成像显微技术的基础上,提出了一种显微红外热点定位测试系统。该系统通过双线性插值算法使源图像放大至原来的4倍,在使用20μm微距镜头的条件下,能达到与5μm微距镜头接近的效果,降低了LED失效检验成本。利用可见光图像和红外热像图的叠加,提高电压对LED芯片失效点进行锁定,能在大范围内迅速定位LED芯片缺陷所在。在此基础上,结合FIB技术和SEM设备分析LED芯片微观结构,可以进一步分析LED芯片的失效原因,最终得到LED芯片的失效机理。实验结果表明,在初步的缺陷定位中,显微红外热点定位系统可快速地在无损条件下大范围区域内提供LED热数据分布,定位关键失效点,有效地提高了工作效率,降低了失效检测成本。
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关键词
显微红外热点定位
发光二极管
失效分析
失效
定位
双线性插值算法
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职称材料
题名
基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析
被引量：
3
1
作者
张槐洋
文尚胜
方方
唐浩洲
林凯旋
邵沅玲
魏志权
康丽娟
廖少雄
机构
华南理工大学材料科学与工程学院
华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室
广东金鉴实验室科技有限公司
华南师范大学美术学院
广州虎辉照明科技公司
出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2019年第9期1185-1191,共7页
基金
广东省科技计划(2017B010114001,2015B010127004)
广东省应用型科技研发专项(2015B010134001)
+2 种基金
广州市科技计划(201604040004,201604016010,201704030140)
广东省扬帆计划(2015YT02C093)
中山市科技计划(2016A1009,2017C1011,2018A10013)资助项目~~
文摘
失效定位技术是发光二极管失效性分析中的重要组成部分,本文在主流的3种失效定位技术:光子辐射显微技术、光诱导电阻变化、红外热成像显微技术的基础上,提出了一种显微红外热点定位测试系统。该系统通过双线性插值算法使源图像放大至原来的4倍,在使用20μm微距镜头的条件下,能达到与5μm微距镜头接近的效果,降低了LED失效检验成本。利用可见光图像和红外热像图的叠加,提高电压对LED芯片失效点进行锁定,能在大范围内迅速定位LED芯片缺陷所在。在此基础上,结合FIB技术和SEM设备分析LED芯片微观结构,可以进一步分析LED芯片的失效原因,最终得到LED芯片的失效机理。实验结果表明,在初步的缺陷定位中,显微红外热点定位系统可快速地在无损条件下大范围区域内提供LED热数据分布,定位关键失效点,有效地提高了工作效率,降低了失效检测成本。
关键词
显微红外热点定位
发光二极管
失效分析
失效
定位
双线性插值算法
Keywords
microscopic infrared hot spot location
light emitting diode
failure analysis
failure location
bilinear interpolation algorithm
分类号
TN312 [电子电信—物理电子学]
TN307 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析
张槐洋
文尚胜
方方
唐浩洲
林凯旋
邵沅玲
魏志权
康丽娟
廖少雄
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2019
3
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