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支持JTAG协议的芯片测试时钟的解决方案
1
作者
赵冰茹
陈小铁
沈绪榜
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第2期7-10,共4页
控制系统时钟激励信号的正确打入是芯片内测试的关键所在。以 JTAG协议为基础，文章介绍了芯片时钟端口的设计方法以及对芯片进行内测试时外部时钟信号的控制方法。最后，文章提出了一种应用于多相时钟芯片的测试规则，满足测试对时序...
控制系统时钟激励信号的正确打入是芯片内测试的关键所在。以 JTAG协议为基础，文章介绍了芯片时钟端口的设计方法以及对芯片进行内测试时外部时钟信号的控制方法。最后，文章提出了一种应用于多相时钟芯片的测试规则，满足测试对时序的要求。
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关键词
JTAG协议
系统逻辑
时钟端口
芯片
系统
时钟
测试
超大规模集成电路
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职称材料
题名
支持JTAG协议的芯片测试时钟的解决方案
1
作者
赵冰茹
陈小铁
沈绪榜
机构
华中科技大学图象信息处理与智能控制教育部重点实验室
西安微电子技术研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第2期7-10,共4页
文摘
控制系统时钟激励信号的正确打入是芯片内测试的关键所在。以 JTAG协议为基础，文章介绍了芯片时钟端口的设计方法以及对芯片进行内测试时外部时钟信号的控制方法。最后，文章提出了一种应用于多相时钟芯片的测试规则，满足测试对时序的要求。
关键词
JTAG协议
系统逻辑
时钟端口
芯片
系统
时钟
测试
超大规模集成电路
Keywords
JTAG standard,System logic,Clock port
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
支持JTAG协议的芯片测试时钟的解决方案
赵冰茹
陈小铁
沈绪榜
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001
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