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基于异步电路技术改进三模冗余结构 被引量:1
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作者 龚锐 陈微 +2 位作者 刘芳 戴葵 王志英 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2006年第z2期23-27,共5页
在借鉴异步电路技术的基础上,对传统三模冗余(TMR)结构进行了改进,提出了基于异步C单元的双模冗余(DMR)结构和基于DCTREG的时空三模冗余(TSTMR-D)结构. DMR结构每位只需两个冗余单元,并采用异步C单元对冗余单元的输出进行同步. TSTMR-D... 在借鉴异步电路技术的基础上,对传统三模冗余(TMR)结构进行了改进,提出了基于异步C单元的双模冗余(DMR)结构和基于DCTREG的时空三模冗余(TSTMR-D)结构. DMR结构每位只需两个冗余单元,并采用异步C单元对冗余单元的输出进行同步. TSTMR-D结构采用解同步电路中显式分离主从锁存器的结构,可以广泛用于各种流水线.在SMIC 0.35μm工艺下分别以DMR,TMR和TSTMR-D结构实现了3个容错8051内核.错误注入实验结果表明,与TMR结构相比,DMR结构可以减小芯片面积,提高芯片性能,同时具有容时序逻辑SEU的特性. TSTMR-D结构在恰当的面积和延迟开销下,可以对各种类型的电路结构进行全面的SEU和SET防护. 展开更多
关键词 冗余 异步电路 冗余 时空三模冗余 容错 容SEU 容SET
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FT51:一种容软错误高可靠微控制器 被引量:14
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作者 龚锐 陈微 +2 位作者 刘芳 戴葵 王志英 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第10期1662-1673,共12页
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51.首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构,采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转(SEU)和组合逻辑单事件瞬态(SET)进行防护.所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护.针对现有控制流... 文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51.首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构,采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转(SEU)和组合逻辑单事件瞬态(SET)进行防护.所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护.针对现有控制流检测的不足,该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制.FT51在HJTC0.25μm工艺下进行了实现,与未经加固的版本相比,其额外的面积开销为80.6%,额外的性能开销为19%~133%.文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架,在此框架下通过模拟和理论推导证明:典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99.73%. 展开更多
关键词 微控制器 软错误 单事件翻转 单事件瞬态 时空三模冗余 控制流检测
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高可靠8051中系统管理单元的设计与实现 被引量:2
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作者 王友瑞 刘芳 +1 位作者 戴葵 王志英 《计算机工程与科学》 CSCD 2008年第2期115-118,共4页
微处理器的应用领域越来越广泛。由于应用环境的复杂,微处理器面临的各种干扰日益严重,从而对它的可靠性要求越来越高。针对微处理器最常见的故障源——单粒子翻转效应,本文分析了常用的三模冗余(TMR)技术,并采用了一种新的冗余技术—... 微处理器的应用领域越来越广泛。由于应用环境的复杂,微处理器面临的各种干扰日益严重,从而对它的可靠性要求越来越高。针对微处理器最常见的故障源——单粒子翻转效应,本文分析了常用的三模冗余(TMR)技术,并采用了一种新的冗余技术——时空三模冗余技术(ST-TMR)对8051微处理器中的系统管理单元进行加固。最后,对其可靠性进行了测试与分析。 展开更多
关键词 高可靠8051 微处理器 时空三模冗余 系统管理单元
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高可靠8051微处理器的设计与实现 被引量:2
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作者 赖鑫 戴葵 +1 位作者 刘芳 王志英 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2009年第1期117-120,共4页
本文介绍了一款高可靠8051(HR8051)的设计与实现。在一款现有高性能8051微处理器体系结构的基础上,针对单粒子翻转事件(SEU),应用各种可靠性增强技术,如时空三模冗余(ST-TMR)、控制流检测、安全状态机等,并对可靠性增强后的处理器进行... 本文介绍了一款高可靠8051(HR8051)的设计与实现。在一款现有高性能8051微处理器体系结构的基础上,针对单粒子翻转事件(SEU),应用各种可靠性增强技术,如时空三模冗余(ST-TMR)、控制流检测、安全状态机等,并对可靠性增强后的处理器进行故障注入,以验证其可靠性增强效果。故障注入结果表明,采用了可靠性增强技术后,处理器的可靠性有了很大的提高。 展开更多
关键词 高可靠微处理器 时空三模冗余 可靠性增强技术 故障注入
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