典型电源监控电路测试系统研制 被引量：2

1

作者 文科 钟昂 +2 位作者 戴畅 余航 罗俊 《电子与封装》 2024年第10期81-86,共6页

基于典型电源监控电路TPS3307-18M的电特性开展测试系统研究,分析了该款产品电参数特性。从测试系统整体功能实现、外围仪器设备使用、测试准确性、可靠性评估等方面进行了评估,通过设计电源模块、控制模块以及自控恒流源模块等完成测... 基于典型电源监控电路TPS3307-18M的电特性开展测试系统研究,分析了该款产品电参数特性。从测试系统整体功能实现、外围仪器设备使用、测试准确性、可靠性评估等方面进行了评估,通过设计电源模块、控制模块以及自控恒流源模块等完成测试系统硬件设计,采用Visual Basic编程实现上位机界面和控制操作,最终实现电源监控电路的测试系统研制,为类似产品测试系统研制与设计提供思路和参考。 展开更多

关键词 测试系统 电源模块 电参数 硬件设计

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频率合成器(DDS)电路动态参数测试系统

2

作者 宋国栋 刘奇 《电子质量》 2018年第12期107-110,共4页

动态参数是频率合成器(DDS)电路的关键指标,文章针对目前动态参数测试的现状,提出动态参数测试系统设计需求,并详细介绍了基于NI为核心的动态参数测试系统的设计,主要分为硬件平台和软件设计两部分,提出注意要求,希望对DDS电路动态参数... 动态参数是频率合成器(DDS)电路的关键指标,文章针对目前动态参数测试的现状,提出动态参数测试系统设计需求,并详细介绍了基于NI为核心的动态参数测试系统的设计,主要分为硬件平台和软件设计两部分,提出注意要求,希望对DDS电路动态参数测试开发有一定的参考意义。 展开更多

关键词 DDS电路 动态参数 测试系统

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征稿通知 第15届国际专用集成电路会议

3

《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第1期80-80,共1页

第十五届IEEE国际专用集成电路会议(ASICON 2023)将于2023年10月24日—27日在江苏南京白金汉爵大酒店举行。这次会议旨在为VLSI电路设计者、ASIC用户、系统集成工程师、IC制造厂商、工艺和器件工程师以及CAD/CAE工具开发者提供一个国际... 第十五届IEEE国际专用集成电路会议(ASICON 2023)将于2023年10月24日—27日在江苏南京白金汉爵大酒店举行。这次会议旨在为VLSI电路设计者、ASIC用户、系统集成工程师、IC制造厂商、工艺和器件工程师以及CAD/CAE工具开发者提供一个国际论坛,介绍他们在各自领域获得的最新进步和研发成果。四天的会议将汇集中外著名专家关于VLSI电路、器件、工艺设计与制造等技术最新发展的主题演讲、论文报告以及资深专家的讲课。大会将评选出优秀学生与青年学者论文,并安排EDA工具、制造厂商、IC工艺、器件测试仪器以及最新ASIC产品的展示。 展开更多

关键词 专用集成电路 IC工艺 VLSI电路 EDA工具 ASIC 江苏南京 系统集成 器件测试

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基于LabVIEW的电容近炸引信综合参数测试系统的研究 被引量：6

4

作者 程顺 贾永红 刘志 《探测与控制学报》 CSCD 北大核心 2003年第B03期29-32,共4页

电容近炸引信的信号处理电路动态性能参数测试是产品研制、调试、生产的重要环节。研究了利用计算机、信号调理板、数据采集板和在 Lab VIEW平台上开发的软件构成一套完整的电容近炸引信综合参数测试系统。该测试系统针对电容近炸引信... 电容近炸引信的信号处理电路动态性能参数测试是产品研制、调试、生产的重要环节。研究了利用计算机、信号调理板、数据采集板和在 Lab VIEW平台上开发的软件构成一套完整的电容近炸引信综合参数测试系统。该测试系统针对电容近炸引信的检波放大信号、积分信号、微分信号和启动信号等技术指标进行测试和分析 ,从而判断电路工作情况 ,并给出有故障电路的故障原因。该系统有测试精度高、开发成本低、检测效率高。 展开更多

关键词 LABVIEW 电容近炸引信 综合参数测试系统 信号处理电路 工作原理 模块设计 模拟信号 软件接口 实时性 多任务性

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交流传动机车主电路电气测试系统的设计 被引量：2

5

作者 张波 陆阳 +1 位作者 杨万坤 曹宏发 《电力机车与城轨车辆》 2005年第3期38-42,共5页

交流传动是国际铁路牵引动力的发展趋势,近年来我国也在大力开发、引进交流传动机车。为配合这一趋势,中国铁道科学研究院开发了与交流传动特点相适应的测试系统。该系统在交流传动测试实践中提供了大量准确、可靠数据。

关键词 交流传动 测试系统 电参数

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MOS C—V技术在集成电路生产中的应用

6

作者 陈永珍 《中国集成电路》 2002年第9期75-79,共5页

本文介绍了Si-SiO_2结构特性与MOS晶体管和集成电路性能参数之间的关系。阐明在集成电路生产过程中MOS C—V技术应用的重要性。举例说明了C—V技术在工艺在线监控、工艺质量评定、集成电路产品片参数异常分析及集成电路的开发研究中的... 本文介绍了Si-SiO_2结构特性与MOS晶体管和集成电路性能参数之间的关系。阐明在集成电路生产过程中MOS C—V技术应用的重要性。举例说明了C—V技术在工艺在线监控、工艺质量评定、集成电路产品片参数异常分析及集成电路的开发研究中的应用。 展开更多

关键词 集成电路生产 晶体管参数 少子产生寿命 可动离子 性能参数 测试系统 开发研究 在线监控 测试结果 结构特性

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凝视型红外光电成像系统主要参数的实验室测评分析 被引量：13

7

作者 马冬梅 胡明鹏 孙军月 《红外技术》 CSCD 北大核心 2007年第8期483-487,共5页

综合阐述了凝视型红外光电成像系统实验室主要参数测评,并对最小可分辨温差MRTD、系统调制传递函数MTF和噪声等效温差NETD等参数的测试方法进行了陈述,给出了具体测试实验过程和实验结果,对影响测试结果的因素进行了分析。

关键词 凝视型红外光电成像系统 性能参数测试 MRTD MTF NETD

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ZQ500底盘测试台电惯性模拟参数试验研究

8

作者 肖启瑞 黄学翾 +1 位作者 石本改 易东旭 《中国测试》 CAS 北大核心 2013年第4期125-128,共4页

为保证底盘测试系统较准确地模拟汽车道路行驶状态,应正确设置相应电惯量模拟参数,论述底盘测试系统的理论计算基础,详细介绍利用汽车滑行试验法进行汽车路面阻力参数的获取方法,试验获取滑行法汽车减速度和路面阻力数据,计算得到了路... 为保证底盘测试系统较准确地模拟汽车道路行驶状态,应正确设置相应电惯量模拟参数,论述底盘测试系统的理论计算基础,详细介绍利用汽车滑行试验法进行汽车路面阻力参数的获取方法,试验获取滑行法汽车减速度和路面阻力数据,计算得到了路面阻力与车速之间的工程经验公式。结合ZQ500车辆底盘测试台的设计,为底盘测功系统电惯量基本参数计算提供一定参考依据。 展开更多

关键词 测试系统 电惯量 模拟 阻力参数

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基于单片机的电机综合参数测试仪设计 被引量：2

9

作者 刘保录 《兰州工业高等专科学校学报》 2003年第2期21-24,共4页

介绍一种基于80C31单片机的电机综合数据采集系统,该系统可以测量电机的电压、电流、功率因数、功率、温度、转矩和转速。论述了测试系统原理、硬件电路设计及系统软件设计。该系统可对电机参数进行快速、准确测定,分析测试数据,用于电... 介绍一种基于80C31单片机的电机综合数据采集系统,该系统可以测量电机的电压、电流、功率因数、功率、温度、转矩和转速。论述了测试系统原理、硬件电路设计及系统软件设计。该系统可对电机参数进行快速、准确测定,分析测试数据,用于电机的控制和智能保护。 展开更多

关键词 单片机 电机 综合参数测试仪 系统结构 电压检测电路 电流检测电路 相位差检测电路 温度检测电路 转矩检测电路 转速检测电路 程序设计 参数计算

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高压大电流固体继电器测试系统设计

10

作者 黄迎辉 《电子质量》 2004年第9期4-5,共2页

介绍了以计算机为核心的高压大电流固体继电器电参数综合测试系统,详细描述了系统的硬件组 成、软件设计和抗干扰能力。

关键词 固体继电器 大电流 高压 电参数 综合测试系统 硬件组成 软件设计 计算机 抗干扰能力 描述

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非制冷红外焦平面读出电路的设计与测试分析 被引量：1

11

作者 王强 易新建 +2 位作者 陈西曲 王双保 肖静 《红外》 CAS 2006年第1期5-10,共6页

本文设计出了具有电容反馈互导放大器(CTIA)及相关双采样(CDS)结构的非制冷红外焦平面的读出电路,搭建了包括红外信号源和IRFPA模块、控制模块、ROIC 驱动模块和信号放大采集处理模块在内的红外焦平面阵列参数测试系统,并用此测试系统... 本文设计出了具有电容反馈互导放大器(CTIA)及相关双采样(CDS)结构的非制冷红外焦平面的读出电路,搭建了包括红外信号源和IRFPA模块、控制模块、ROIC 驱动模块和信号放大采集处理模块在内的红外焦平面阵列参数测试系统,并用此测试系统对本实验室自行研制的小规模红外焦平面阵列进行了读出电路测试、数据处理和分析,测试结果与理论标称值吻合。 展开更多

关键词 红外焦平面阵列 读出电路 参数测试系统

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基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究 被引量：1

12

作者 刘凤伟 詹惠琴 古军 《电子与封装》 2010年第10期12-15,共4页

大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高。基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电... 大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高。基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果。 展开更多

关键词 延迟线 交流参数 数字集成电路 测试系统

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测试系统继电器电阻值异常的工程学分析及解决 被引量：2

13

作者 戴炜哲 《电子工程师》 2007年第10期9-11,23,共4页

介绍了对于测试系统接触测试项目出现异常所做的分析,最终定位问题出现在测试系统继电器的电阻值的异常,经过分析和试验,其异常的原因归结为测试系统针对特定结构的被测产品因为考虑不周而使悬空的测试线路带有超过允许范围的电荷,导致... 介绍了对于测试系统接触测试项目出现异常所做的分析,最终定位问题出现在测试系统继电器的电阻值的异常,经过分析和试验,其异常的原因归结为测试系统针对特定结构的被测产品因为考虑不周而使悬空的测试线路带有超过允许范围的电荷,导致在之后的继电器开关过程中对触点造成伤害。文中提出了解决方案并通过实践验证解决方案的可行性。 展开更多

关键词 电参数测试系统 继电器 电阻值 电荷

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基于ARM的足球机器人控制参数整定系统的设计

14

作者 柳长安 周宏 +1 位作者 刘春阳 洪炳熔 《高技术通讯》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期37-39,共3页

为了提高足球机器人的运动性能,本文设计了基于ARM的足球机器人控制参数整定系统.首先在阐述系统基本原理的基础上讨论了系统的组成,包括测试平台、测试电路和测试软件;其次讨论了所采用的改进的增量式PID控制算法和通过实验确定参数的... 为了提高足球机器人的运动性能,本文设计了基于ARM的足球机器人控制参数整定系统.首先在阐述系统基本原理的基础上讨论了系统的组成,包括测试平台、测试电路和测试软件;其次讨论了所采用的改进的增量式PID控制算法和通过实验确定参数的方法;最后给出了实验结果,实验证明该系统可以快速地整定系统控制参数. 展开更多

关键词 足球机器人 ARM 测试软件 整定 系统 测试平台 增量 控制参数 PID控制算法 测试电路

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2021年微电子计量测试技术交流会征文通知

15

作者 无 《舰船电子工程》 2020年第6期196-196,共1页

一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器... 一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器件国产化是我国国家发展战略,国家集成电路产业迅速发展,是我国高质量发展的重要保障,也带来了国产化器件参数的计量与测试新问题、新挑战。 展开更多

关键词 集成电路产业 微电子器件 计量测试技术 微电子技术 器件参数 当代技术 测试系统 国家发展战略

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2021年微电子计量测试技术交流会征文通知

16

作者 无 《舰船电子工程》 2020年第8期188-188,共1页

一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器... 一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器件国产化是我国国家发展战略,国家集成电路产业迅速发展,是我国高质量发展的重要保障,也带来了国产化器件参数的计量与测试新问题、新挑战。 展开更多

关键词 集成电路产业 微电子器件 计量测试技术 微电子技术 器件参数 当代技术 测试系统 国家发展战略

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2021年微电子计量测试技术交流会征文通知

17

作者 无 《舰船电子工程》 2020年第7期208-208,共1页

一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器... 一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器件国产化是我国国家发展战略,国家集成电路产业迅速发展,是我国高质量发展的重要保障,也带来了国产化器件参数的计量与测试新问题、新挑战。 展开更多

关键词 集成电路产业 微电子器件 计量测试技术 微电子技术 器件参数 当代技术 测试系统 国家发展战略

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2021年微电子计量测试技术交流会征文通知

18

作者 无 《舰船电子工程》 2020年第5期198-198,共1页

一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器... 一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器件国产化是我国国家发展战略,国家集成电路产业迅速发展,是我国高质量发展的重要保障,也带来了国产化器件参数的计量与测试新问题、新挑战。 展开更多

关键词 集成电路产业 微电子器件 计量测试技术 微电子技术 器件参数 当代技术 测试系统 国家发展战略

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应对无线IC的测试挑战

19

作者 何浩然 《电子工业专用设备》 2004年第3期34-34,87,共2页

关键词 无线通讯 集成电路 无线测试 WLAN 手机系统

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S400型测试系统

20

《电子质量》 2002年第9期67-71,共5页

S400系列是为监控半导体器件及集成电路生产工艺而设计的程控参数测试系统.测试通过向被测器件提供程控的电流或电压,并测量相应的电压.电流或电容来实现.

关键词 S400型测试系统 半导体 集成电路 程控参数

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