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无压低温烧结纳米银封装电力电子器件的进展与思考
被引量:
8
1
作者
闫海东
梁陪阶
+1 位作者
梅云辉
冯志红
《电源学报》
CSCD
北大核心
2020年第4期15-23,共9页
无压低温银烧结技术是高功率密度SiC器件的无铅化关键互连技术,对SiC功率模块的可靠性提升具有重要的意义。针对典型Si基功率模块封装连接工艺及其可靠性,阐述了当前无压低温纳米银烧封装技术的进展与思考:(1)讨论了电力电子器件封装连...
无压低温银烧结技术是高功率密度SiC器件的无铅化关键互连技术,对SiC功率模块的可靠性提升具有重要的意义。针对典型Si基功率模块封装连接工艺及其可靠性,阐述了当前无压低温纳米银烧封装技术的进展与思考:(1)讨论了电力电子器件封装连接可靠性的典型风险和原因;(2)介绍了无压低温连接技术的最新发展;(3)基于Si基典型功率模块封装向高可靠SiC功率模块转变过程中在封装结构和材料方面的需求,阐述了无压低温银烧结技术在引线型、平面型和双面冷却功率模块封装方面的进展;(4)提出无压低温银烧结技术当前有待解决的技术难题。
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关键词
纳米
银
焊膏
无压
低温
银
烧结
技术
双面冷却
SIC器件
可靠性
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职称材料
无压烧结银-镍互连IGBT电源模块的力、热和电性能
2
作者
王美玉
梅云辉
+1 位作者
李欣
郝柏森
《电源学报》
CSCD
北大核心
2023年第1期195-201,共7页
作为一种应用广泛的基板金属镀层,镍在烧结过程中易发生氧化,形成烧结银-镍高性能互连接头较为困难,相关研究报道较少。提出了一种多尺度银焊膏互连材料和烧结银-镍无压互连工艺,研究了在220~300℃烧结10~60 min对烧结银-镍互连封装的I...
作为一种应用广泛的基板金属镀层,镍在烧结过程中易发生氧化,形成烧结银-镍高性能互连接头较为困难,相关研究报道较少。提出了一种多尺度银焊膏互连材料和烧结银-镍无压互连工艺,研究了在220~300℃烧结10~60 min对烧结银-镍互连封装的IGBT电源模块的力、热和电性能的影响。研究结果表明:得益于多尺度银焊膏的致密堆积烧结,在270~300℃高温烧结30~60 min时镍氧化减缓,在270℃无压烧结30 min互连的芯片抗剪切强度在40 MPa以上,热阻和静态电特性与仿真结果和IGBT芯片数据手册差异性<0.5%,表明无压烧结银-镍互连IGBT芯片具有较高的连接强度、导热和导电性能,可以满足半导体电源模块的互连封装要求。
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关键词
半导体封装
IGBT电源模块
镀镍基板
无压低温烧结银
多尺度
银
焊膏
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职称材料
题名
无压低温烧结纳米银封装电力电子器件的进展与思考
被引量:
8
1
作者
闫海东
梁陪阶
梅云辉
冯志红
机构
桂林电子科技大学机电工程学院
天津大学材料科学与工程学院
河北半导体研究所专用集成电路国家级重点实验室
广西制造系统与先进制造技术重点实验室
出处
《电源学报》
CSCD
北大核心
2020年第4期15-23,共9页
基金
国家自然科学基金资助项目(51922075,51967005)
广西自然科学基金资助项目(2018GXNSFAA294082)
广西制造系统与先进制造技术重点实验室主任课题资助项目(19-050-44-006Z)。
文摘
无压低温银烧结技术是高功率密度SiC器件的无铅化关键互连技术,对SiC功率模块的可靠性提升具有重要的意义。针对典型Si基功率模块封装连接工艺及其可靠性,阐述了当前无压低温纳米银烧封装技术的进展与思考:(1)讨论了电力电子器件封装连接可靠性的典型风险和原因;(2)介绍了无压低温连接技术的最新发展;(3)基于Si基典型功率模块封装向高可靠SiC功率模块转变过程中在封装结构和材料方面的需求,阐述了无压低温银烧结技术在引线型、平面型和双面冷却功率模块封装方面的进展;(4)提出无压低温银烧结技术当前有待解决的技术难题。
关键词
纳米
银
焊膏
无压
低温
银
烧结
技术
双面冷却
SIC器件
可靠性
Keywords
nano-silver paste
pressure-less low-temperature silver sintering
double-sided cooling
SiC device
reliability
分类号
TM921.05 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
无压烧结银-镍互连IGBT电源模块的力、热和电性能
2
作者
王美玉
梅云辉
李欣
郝柏森
机构
天津大学材料科学与工程学院
中国电子科技集团公司南京电子技术研究所
出处
《电源学报》
CSCD
北大核心
2023年第1期195-201,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(51922075,U1966212,51877147)。
文摘
作为一种应用广泛的基板金属镀层,镍在烧结过程中易发生氧化,形成烧结银-镍高性能互连接头较为困难,相关研究报道较少。提出了一种多尺度银焊膏互连材料和烧结银-镍无压互连工艺,研究了在220~300℃烧结10~60 min对烧结银-镍互连封装的IGBT电源模块的力、热和电性能的影响。研究结果表明:得益于多尺度银焊膏的致密堆积烧结,在270~300℃高温烧结30~60 min时镍氧化减缓,在270℃无压烧结30 min互连的芯片抗剪切强度在40 MPa以上,热阻和静态电特性与仿真结果和IGBT芯片数据手册差异性<0.5%,表明无压烧结银-镍互连IGBT芯片具有较高的连接强度、导热和导电性能,可以满足半导体电源模块的互连封装要求。
关键词
半导体封装
IGBT电源模块
镀镍基板
无压低温烧结银
多尺度
银
焊膏
Keywords
semiconductor packaging
IGBT power module
nickel-metallization
pressureless low-temperature silver sintering
multiscale silver paste
分类号
TM921.05 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
无压低温烧结纳米银封装电力电子器件的进展与思考
闫海东
梁陪阶
梅云辉
冯志红
《电源学报》
CSCD
北大核心
2020
8
在线阅读
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职称材料
2
无压烧结银-镍互连IGBT电源模块的力、热和电性能
王美玉
梅云辉
李欣
郝柏森
《电源学报》
CSCD
北大核心
2023
0
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职称材料
已选择
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