基于深度学习算法的数模混合芯片测试方法研究

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作者 张永华 《电子设计工程》 2025年第4期77-81,共5页

数模混合芯片内部结构的复杂性和信号交互的多样性,使得测试难以有效覆盖芯片的所有工作模式和边界条件,进而导致测试覆盖率偏低。为此,提出了基于深度学习算法的数模混合芯片测试方法研究。根据数模混合芯片的基本组成和运行原理以及... 数模混合芯片内部结构的复杂性和信号交互的多样性,使得测试难以有效覆盖芯片的所有工作模式和边界条件,进而导致测试覆盖率偏低。为此,提出了基于深度学习算法的数模混合芯片测试方法研究。根据数模混合芯片的基本组成和运行原理以及测试需求,采用卷积神经网络算法构建测试信号生成模型,结合芯片状态融合信号特征输出测试信号,联合测试项目的覆盖范围编排测试用例,并利用混合信号仿真测试策略实现对芯片的性能测试。实验结果表明,该文方法能够全面考虑芯片的功能测试项目,增加了测试的广度和深度,芯片测试覆盖率始终保持在75%以上,测试结果的可靠性较高。 展开更多

关键词 深度学习算法 数模混合芯片 性能测试 测试用例 测试信号

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一种数模混合芯片高效量产测试技术研究 被引量：1

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作者 奚留华 唐彩彬 +2 位作者 张凯虹 武乾文 王一伟 《中国集成电路》 2024年第5期89-93,共5页

以提高数模混合芯片量产测试效率为目的,基于数模混合芯片的测试参数和功能进行分析,对现有的量产测试方案进行技术优化和提升。对数字参数和模拟参数同时测试的技术方案进行优化,分别针对数字模块、模拟模块设计硬件,开发测试程序,数... 以提高数模混合芯片量产测试效率为目的,基于数模混合芯片的测试参数和功能进行分析,对现有的量产测试方案进行技术优化和提升。对数字参数和模拟参数同时测试的技术方案进行优化,分别针对数字模块、模拟模块设计硬件,开发测试程序,数字模块测试SITE数提高至20 SITES同测。针对模拟模块的个性化熔丝修调方案进行优化,通过设计通用的熔丝修调阵列装置,避免重复设计熔丝修调板卡,缩短电路板(PCB)设计、制造时间。针对集成电路的测试数据进行分析,提出基于应用程序可视化基础(VBA)结合公式计算的集成电路数据筛选方法,提高集成电路测试质量。通过上述技术方案优化,数模混合芯片的量产测试效率提升了50%以上。 展开更多

关键词 数模混合芯片 测试效率 熔丝修调 测试数据

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数模混合信号集成电路测试系统的同步策略

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作者 谭永红 雷跃 赵明明 《桂林工学院学报》 北大核心 2007年第3期432-436,共5页

介绍了数字同步的触发类型,给出了标准总线和非标准总线条件下的同步触发方案.对数模混合信号集成电路测试系统的同步、测量仪器内部时钟周期与数字周期的同步、采样频率与输入信号频率的同步进行了分析,并给出了相关参数的约束关系.提... 介绍了数字同步的触发类型,给出了标准总线和非标准总线条件下的同步触发方案.对数模混合信号集成电路测试系统的同步、测量仪器内部时钟周期与数字周期的同步、采样频率与输入信号频率的同步进行了分析,并给出了相关参数的约束关系.提出了解决数模混合信号集成电路测试系统同步问题的有效方案,使数模混合信号集成电路测试系统准确、稳定和可靠. 展开更多

关键词 数模混合信号 测试系统 数字同步 触发方案

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一种提高数模混合信号测试精度的算法

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作者 陈卫 周亚丽 《电子与封装》 2011年第9期8-10,共3页

文中论述了一种提高数模混合信号测试(基于DSP信号处理)精度的算法(以下称旋转数据算法),旋转数据算法是针对数模混合信号测试中异步采样的不连续性导致的频谱泄漏问题,而提出的消除频谱泄漏的算法。旋转数据算法的主要思想是:把数模混... 文中论述了一种提高数模混合信号测试(基于DSP信号处理)精度的算法(以下称旋转数据算法),旋转数据算法是针对数模混合信号测试中异步采样的不连续性导致的频谱泄漏问题,而提出的消除频谱泄漏的算法。旋转数据算法的主要思想是:把数模混合电路的测试信号等效地看成由一个旋转向量在X轴上投影产生,当采样不连续时,采样数据经FFT变换后会产生频谱泄漏。通过适当地旋转向量,使不连续的采样连续,再利用这个向量旋转相位去修正采样数据,这样就解决了频谱泄漏问题。文中用VB程序实现了此算法,并讨论了在数模混合信号动态测试(SFDR、SNR、THD)中的应用。 展开更多

关键词 数模混合信号测试 旋转数据算法 FFT DSP信号处理 SFDR

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使用Multi-Sector技术提高混合信号芯片的并行测试效率 被引量：1

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作者 Jack Weimer 《中国集成电路》 2011年第6期76-79,共4页

测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样，芯片的测试要求也越来越复杂，如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同，测试生产线成本的管理和策略也不一样。有大批量产品的工厂... 测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样，芯片的测试要求也越来越复杂，如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同，测试生产线成本的管理和策略也不一样。有大批量产品的工厂通常是通过最大化测试位数量来提高效率。然而，批量小、产品种类多的工厂发现提高测试位数量未必最好。 展开更多

关键词 测试效率 混合信号 芯片 并行 技术 批量产品 测试系统 测试要求

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无线通信和消费电子融合芯片系统(SoC):对混合信号测试的意义

6

《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第5期J001-J004,共4页

关键词 无线通信 消费电子融合芯片系统 SOC 混合信号测试

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消费类电子芯片的混合信号测试解决方案

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作者 Advantest(Suzhou)Co.,Ltd. 《中国集成电路》 2009年第3期69-72,共4页

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域中的MODEM、CODEC和飞速发展的手机基带芯片、视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,以及各种图象处理器、网... 随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域中的MODEM、CODEC和飞速发展的手机基带芯片、视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,以及各种图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类。针对这一类芯片的测试,我们称之为混合信号测试。本文主要讨论这类芯片的测试特点,及针对这些测试特点Advantest的新一代测试平台T2000 LSMF解决方案。 展开更多

关键词 混合信号测试 新一代测试平台 T2000LSMF 电子芯片

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无线通信和消费电子融合系统芯片(SoC)对混合信号测试的意义

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《中国集成电路》 2003年第46期92-95,共4页

在经过多年的讨论之后,消费电子中最大的趋势之一-融合,最终得到了业内人士的一致认可。许多不同的消费电子应用正在提供语音、音频、视频和数据融合服务,如2.5G/3G 手机、顶级机顶盒和下一代家庭网关应用。

关键词 无线通信 消费电子产品 系统芯片 SOC 混合信号测试 IC测试 集成电路

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车载芯片的测试挑战——基于高性能混合信号测试系统的解决方案

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作者 徐勇 封薛明 +1 位作者 坪下浩文 长岛真人 《中国集成电路》 2004年第8期70-73,共4页

随着近年汽车电子化进程的快速发展,对于核心车载芯片的多功能、高性能、低成本、高安全性的要求就变得越来越强烈。本文就使用高级混合信号测试系统来实现车载芯片的低成本和高可靠性的测试进行说明。

关键词 混合信号测试系统 芯片 车载 进程 解决方案 高可靠性 低成本 高级 高性能 快速发展

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混合信号边界扫描测试系统的设计与实现

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作者 李正光 雷加 《电子工业专用设备》 2003年第1期57-61,共5页

分析了混合信号边界扫描测试的工作机制对测试系统的功能需求,实现了符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试系统。仿真和测试实践表明,该测试系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,结构... 分析了混合信号边界扫描测试的工作机制对测试系统的功能需求,实现了符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试系统。仿真和测试实践表明,该测试系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,结构简单、携带方便、工作可靠。 展开更多

关键词 混合信号 边界扫描 测试系统 混合信号电路 芯片级电路 PCB级电路

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基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试 被引量：2

11

作者 赵步云 管杰 戴昌培 《电子工业专用设备》 2005年第8期37-42,共6页

介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。

关键词 高速数模转换器芯片 任意波型产生器/模拟捕捉器 数模混合信号芯片测试

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手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计 被引量：8

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作者 李博 魏廷存 樊晓桠 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2006年第12期125-128,共4页

文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采... 文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用边界扫描方式进行测试,提高了测试的灵活性,减少了测试电路的面积。电平敏化扫描链的引入,大大提高了SourceDriver测试的可控制性。该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试。 展开更多

关键词 测试电路 TFT—LCD驱动芯片 混合信号电路测试

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无线内窥镜专用芯片的FPGA验证及相关测试

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作者 陈新凯 谢翔 +2 位作者 秦豫 李国林 王志华 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第9期46-49,共4页

介绍了一种数字式无线内窥镜的系统方案及其胶囊内关键数模混合专用芯片的结构与功能,提出并实现了用于该数模混合专用芯片的FPGA验证系统及验证流程。为了进行芯片系统级低功耗设计,验证系统完成了体内硬件部分的能量测试。

关键词 无线内窥镜 数模混合专用芯片 FPGA验证系统 能量测试

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A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法 被引量：1

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作者 陈莉莉 周斌 《电子技术应用》 北大核心 2002年第12期26-29,共4页

介绍了通过Labview编程环境,运用系统集成的方法,集成具有GPIB接口的测试设备,实现数字电路测试系统向混合信号测试方向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法:柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原... 介绍了通过Labview编程环境,运用系统集成的方法,集成具有GPIB接口的测试设备,实现数字电路测试系统向混合信号测试方向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法:柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现方法。 展开更多

关键词 A/D转换芯片 测试环境 测试方法 集成电路测试 混合信号 系统集成

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IC测试原理-芯片测试原理 被引量：5

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作者 许伟达 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第7期512-514,519,共4页

关键词 测试原理 芯片测试 IC 生产过程 芯片开发 逻辑芯片 原理应用 混合信号 无线芯片 存储器

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规划综合性强、性价比高的芯片测试策略 被引量：2

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作者 Ressell Schlager 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第6期38-40,52,共4页

得益于芯片设计方法的不断提高,以及高密度工艺技术,如今生产的数字、模拟模块集成到一块芯片中的系统芯片,其尺寸小巧,功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战——生产商该如何测试这些芯片,且使测试过程高效廉价。正因为将多种功... 得益于芯片设计方法的不断提高,以及高密度工艺技术,如今生产的数字、模拟模块集成到一块芯片中的系统芯片,其尺寸小巧,功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战——生产商该如何测试这些芯片,且使测试过程高效廉价。正因为将多种功能模块集成到了一块芯片当中,使得传统的测试方法无法应用到系统芯片中去。为了解决系统芯片测试问题,一个更为全面、综合的测试方法产生了,这种方法更好地帮助实现从设计到测试的过渡,加快样片的质量验证,并能提高大批量产品测试的性价比。这种方法的核心是高效的测试开发能力,可以满足复杂测试的产量要求。此测试平台具有能适应复杂的模拟、数字测试性能的仪器。尽管系统芯片日趋复杂,这种方法通过有效地平衡设计与测试资源,向用户提供了更为有效的测试方案,缩短了测试时间。 展开更多

关键词 芯片测试 系统芯片 集成混合信号设计 测试方案 交互式 生产测试

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Blu-Ray DVD芯片的测试挑战

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作者 DonBlair KeitaGunji 马朝 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期i001-i002,共2页

本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构，以及量产时缩短测试时间，减少测试成本的方法。

关键词 DVD芯片 挑战 量产 需求 混合信号测试 缩短 蓝光DVD 测试成本 单芯片 SOC架构

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Blu-Ray DVD芯片的测试挑战

18

作者 Don Blair Keita Gunji +1 位作者 储江佐 潘其涛 《半导体技术》 CSCD 北大核心 2005年第2期i001-i004,共4页

本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC 架构,以及量产时缩短测试时间,减少测试成本的方法。

关键词 DVD芯片 挑战 量产 需求 混合信号测试 缩短 蓝光DVD 测试成本 单芯片 SOC架构

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非接触IC卡芯片的低成本测试

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作者 刘旸 《中国集成电路》 2004年第10期45-48,共4页

随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有... 随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比,该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能,结合RFID应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性。 展开更多

关键词 非接触 混合信号测试 芯片 IC 成本 财政管理

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IC测试原理-射频/无线芯片测试基础

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作者 许伟达 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第8期588-590,602,共4页

关键词 芯片测试 测试原理 无线芯片 射频 IC 生产过程 芯片开发 逻辑芯片 混合信号

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