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一种通用数字集成电路自动测试系统的设计与实现 被引量:10
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作者 曹菲 缪栋 +1 位作者 杨小冈 周生龙 《计算机工程与设计》 CSCD 2004年第10期1710-1712,共3页
基于PCI总线技术,设计并实现了一种通用数字集成电路自动测试系统。介绍了测试系统的硬件结构及其工作原理,主要包括逻辑功能测试、直流参数测试、交流参数测试以及控制电路等内容;论述了系统的软件设计思想,基于C++Builder集成开发平台... 基于PCI总线技术,设计并实现了一种通用数字集成电路自动测试系统。介绍了测试系统的硬件结构及其工作原理,主要包括逻辑功能测试、直流参数测试、交流参数测试以及控制电路等内容;论述了系统的软件设计思想,基于C++Builder集成开发平台,给出了文档编辑器、测试程序、编译器及数据库等主要软件部分的实现方法。实际应用表明,该系统测试精度高,可靠性好。 展开更多
关键词 通用 基于PC 文档编辑器 自动测试系统 编译器 C++BUILDER 测试程序 数字集成电路 参数测试 逻辑功能
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VHDL在数字集成电路设计中的应用 被引量:10
2
作者 韩进 程勇 齐现英 《山东科技大学学报(自然科学版)》 CAS 2003年第4期74-77,共4页
概述了数字集成电路设计的发展趋势;分析了VHDL的特点;结合实例介绍了VHDL在数字集 成电路设计中的应用方法。
关键词 VHDL 数字集成电路 电路设计 硬件描述语言 现场可编程门阵列 FPGA 现场可编程逻辑器件 FPLD
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用VHDL实现虚拟数字集成电路的故障检测 被引量:3
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作者 宋跃 谭爱群 +1 位作者 李哲明 李寿存 《电测与仪表》 北大核心 2001年第9期15-18,31,共5页
介绍以AlteraCPLD系列FLEX10K器件为虚拟载体,在Windows95/98下借助Delphi5.0实现人机交互界面,借助PC机的控制离线完成对常用TTL74和54系列、CMOS4000和4500系列、常用RAM、EPROM、部分CPU接口芯片的故障检测的VHDL设计原理和实现方法。
关键词 虚拟仪器 人机交互界面 引脚智能选控 测试数据库 智能测试 数字集成电路 VHDL
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基于EDA平台的数字集成电路快速成型系统的设计 被引量:8
4
作者 陈玉洁 张春 《实验技术与管理》 CAS 北大核心 2012年第9期101-102,107,共3页
基于EDA平台开发的数字集成电路快速成型系统,能够根据用户提交的设计源文件,实现数字集成电路的自动综合设计,快速得到不同工艺下芯片的实现结果,为用户的项目评估提供参考。介绍了数字集成电路快速成型系统的设计和实现。
关键词 数字集成电路设计 EDA DC综合
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EDA技术在数字集成电路后端实验教学改革中应用 被引量:9
5
作者 张跃军 赵志伟 +1 位作者 栾志存 张会红 《实验室研究与探索》 CAS 北大核心 2021年第2期172-176,共5页
集成电路技术的飞速发展,对数字集成电路后端课程的教学方法和手段提出新的要求。为适应这种要求,提出将现代电子设计自动化(EDA)技术纳入教学实践全过程的新思路。基于数字集成电路的理论和方法,针对集成电路后端设计及其工程实践课程... 集成电路技术的飞速发展,对数字集成电路后端课程的教学方法和手段提出新的要求。为适应这种要求,提出将现代电子设计自动化(EDA)技术纳入教学实践全过程的新思路。基于数字集成电路的理论和方法,针对集成电路后端设计及其工程实践课程前期教学存在的不足,通过引入EDA技术的方式对改善课程和实验教学效果进行探讨。近几年的教学实践表明,应用EDA技术对数字集成电路后端实验课程教学进行改革,对激发学生的学习兴趣起到积极作用,同时还可加深学生对基本概念的理解和提高学生集成电路设计的动手能力。 展开更多
关键词 数字集成电路 教学改革 电子设计自动化技术
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基于Verilog HDL的数字集成电路高层设计环境 被引量:1
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作者 时龙兴 陆生礼 +1 位作者 桑爱兵 孙大有 《东南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 1996年第3期29-34,共6页
基于VerilogHDL硬件描述语言以及VerilogXL模拟器,建立了从行为描述到寄存器传输级设计生成的数字集成电路高层设计环境,重点介绍了功能单元库的建立、目标硬件结构构成、排序与硬件配置.最后给出了一个设计实例.
关键词 硬件 数字集成电路 高层设计环境 VERILOGHDL
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减少数字集成电路测试时间的扫描链配置 被引量:1
7
作者 谢永乐 王玉文 陈光 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期449-452,496,共5页
研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一... 研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。 展开更多
关键词 数字集成电路 测试时间 扫描链 配置 集成电路测试 极大独立集 时间问题 信息处理 扫描单元 实验证明 国际标准 寄存器 可控性 测试集 多输出 大结构 缩短 内置
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高温CMOS数字集成电路的瞬态特性分析 被引量:1
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作者 柯导明 柯晓黎 +1 位作者 冯耀兰 童勤义 《电子科学学刊》 CSCD 1994年第1期8-17,共10页
本文分析了高温CMOS倒相器和门电路的瞬态特性,建立了它们的上升时间,下降时间和延迟时间的计算公式。根据本文分析的结果,高温CMOS倒相器和门电路瞬态特性变差的原因是由于MOST阈值电压和载流子迁移率降低,以及MOST漏端pn结反向泄漏电... 本文分析了高温CMOS倒相器和门电路的瞬态特性,建立了它们的上升时间,下降时间和延迟时间的计算公式。根据本文分析的结果,高温CMOS倒相器和门电路瞬态特性变差的原因是由于MOST阈值电压和载流子迁移率降低,以及MOST漏端pn结反向泄漏电流增大的缘故。本文给出的计算结果能较好地解释实验现象。 展开更多
关键词 数字集成电路 瞬态特性 高温 CMOS
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基于确定性测试集的数字集成电路随机测试 被引量:3
9
作者 谢永乐 陈光 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期576-578,共3页
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高... 提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性 。 展开更多
关键词 确定性测试集 加权随机测试 自动测试生成器 多权集 数字集成电路 故障诊断
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组合数字集成电路测试生成技术研究 被引量:4
10
作者 张必超 于鹏 《中国测试技术》 2007年第3期105-107,共3页
介绍了数字集成电路测试的基本概念,包括测试的分类,以及可控性、可观性、可测性、故障、失效和缺陷等概念;概述了测试的基本过程及测试生成概念和原理;着重阐述了组合数字集成电路的各种测试生成算法,包括异或法、步尔差分法、路径敏... 介绍了数字集成电路测试的基本概念,包括测试的分类,以及可控性、可观性、可测性、故障、失效和缺陷等概念;概述了测试的基本过程及测试生成概念和原理;着重阐述了组合数字集成电路的各种测试生成算法,包括异或法、步尔差分法、路径敏化法、D算法、PODEM算法和FAN算法等,这些算法是测试图形生成的基本方法,在具体应用中可灵活选用。 展开更多
关键词 组合数字集成电路 可测性 失效 测试生成 算法
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一种智能数字集成电路测试仪 被引量:1
11
作者 史燕 范俊波 《电测与仪表》 北大核心 1990年第2期17-18,26,共3页
本文介绍一种采用单片微型计算机的智能数字集成电路测试仪的测试原理,系统硬件结构及软件设计.
关键词 数字集成电路 测试仪
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大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法 被引量:2
12
作者 徐拾义 《计算机工程与科学》 CSCD 2005年第4期31-35,91,共6页
本文提出了一种对 VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位 VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障,而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而,对于简化测试过程、降低测试成本, 具有十分重要的实际意义。
关键词 大规模数字集成电路 VLSI 列交换算法 标准矩阵 功能测试
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数字集成电路芯片微机检测法 被引量:1
13
作者 蒋万君 《现代电子技术》 2002年第4期18-20,共3页
用可编程并行接口 82 5 5 A设计一个 PC机的接口电路 ,该电路用来检测数字集成电路芯片的好坏 ,具有成本低、效率高。
关键词 数字集成电路芯片 微机检测法 组合逻辑电路 时序逻辑电路
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CMOS数字集成电路的高温电学性能分析
14
作者 柯导明 童勤义 冯耀兰 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第11期31-38,30,共9页
本文给出了CMOS倒相器的高温等效电路,分析了它的高温直流传输特性和瞬态特性。文章还讨论了CMOS静态数字集成电路高温电学特性的分析方法。本文提出的CMOS数字集成电路的高温电学特性模型和实验结果相接近。
关键词 高温 倒相器 CMOS 数字集成电路
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数字集成电路故障的自动诊断
15
作者 黄席樾 邓仁明 李连启 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 1996年第3期60-63,共4页
本文在逻辑电路一般测试原理的基础上,提出了实现数字集成电路故障自动诊断的一种方法。包括诊断模型的建立,测试向量的生成及诊断诊试的实现电路。
关键词 故障诊断 自动检测 集成电路 数字集成电路
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高速高密度数字集成电路中的互连效应分析软件——Emulator
16
作者 朱震海 洪伟 《微波学报》 CSCD 北大核心 1996年第2期89-96,共8页
本文介绍了一种用于分析高速高密度数字集成电路中的互连结构对所传输信号产生的影响的软件——Emulator.互连结构的电磁参数提取采用直线法,引入了等效传输线的概念,因此可以方便地分析具有任意层介质和任意根导体的多层互连结构.在提... 本文介绍了一种用于分析高速高密度数字集成电路中的互连结构对所传输信号产生的影响的软件——Emulator.互连结构的电磁参数提取采用直线法,引入了等效传输线的概念,因此可以方便地分析具有任意层介质和任意根导体的多层互连结构.在提取电磁参数的基础上,采用双重波形松驰法计算了端接非线性负载时互连的瞬态响应.对一个集成电路中多层互连结构的分析结果表明,Emulator具有准确、使用方便和计算效率高等优点.有较强的实用价值. 展开更多
关键词 多导体互连 电磁参数提取 数字集成电路 Emulato
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基于优化权集的数字集成电路随机测试
17
作者 谢永乐 陈光 《四川大学学报(工程科学版)》 EI CAS CSCD 2002年第4期104-107,共4页
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生... 提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生成概率的测试矢量数 ,进而减小在高故障覆盖率下的测试长度 。 展开更多
关键词 自动测试生成器 多权集 生成概率 故障诊断 优化权集 数字集成电路 随机测试
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常用数字集成电路的在系统自动检测
18
作者 吴宁 《数据采集与处理》 CSCD 1999年第4期531-533,共3页
介绍了电子设备工作中常用数字集成电路的故障自检。根据各类器件的逻辑特点及其在应用电路中的作用,利用数字电路的冗余功能,分别研究了其在系统中工作的同时进行故障自检的方法。该方法故障覆盖率不高,但简单实用,易于实现。文中... 介绍了电子设备工作中常用数字集成电路的故障自检。根据各类器件的逻辑特点及其在应用电路中的作用,利用数字电路的冗余功能,分别研究了其在系统中工作的同时进行故障自检的方法。该方法故障覆盖率不高,但简单实用,易于实现。文中还研究了同类器件在电子系统中的联动检测方法,进一步简化自检电路。 展开更多
关键词 数字集成电路 自动检测 PLD 计算机
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智能型数字集成电路测试仪
19
作者 陈月魁 冯长江 娄建安 《实验技术与管理》 CAS 1994年第1X期19-21,共3页
随着微电子技术的飞速发展和中、大规模集成芯片的应用,数字电子技术实验教学内容迅速更新与扩大,数字集成电路芯片的检测也日益需要,为配合实验教学工作,我们研制了智能型集成电路测试仪。
关键词 智能型 数字集成电路 测试仪
全文增补中
数字集成电路的测试与故障诊断方法 被引量:2
20
作者 丁芳 谢克明 李治 《太原工业大学学报》 1997年第3期87-91,共5页
从桥接故障的两个特点出发,提出了一种快速盲测法,该法弥补了伪穷举法的不足。它既适用于组合逻辑电路、又适用于时序逻辑电路的短路故障测试。在6K型电力机车微机控制箱的测试与故障诊断过程中的成功应用,证实了该方法的有效性。
关键词 桥接故障 故障测试 故障诊断 数字集成电路
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