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基于“单片机+FPGA”的数字芯片自动测试系统设计
被引量：
22
1
作者
石英
陈心浩
何湘竹
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2020年第12期130-135,共6页
为了解决实验室和实验教学中74系列数字芯片功能和型号测试自动化的问题,该文设计了一套基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统。采用单片机作为控制核心,驱动LCD显示测试信息,扫描按键设置测试参数;采用FPGA作为测试核心...
为了解决实验室和实验教学中74系列数字芯片功能和型号测试自动化的问题,该文设计了一套基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统。采用单片机作为控制核心,驱动LCD显示测试信息,扫描按键设置测试参数;采用FPGA作为测试核心,给待测芯片施加激励信号,并将响应信号与预期响应信号进行比较,获得测试结果;设计自定义接口完成单片机与FPGA之间的通信。该系统实现了14、16和20引脚的74系列数字芯片功能和型号测试,具有集成化、多样化、便捷化的特点,极大地提高了实验室和实验教学中芯片的测试效率。
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关键词
数字芯片自动测试
多功能
多引脚
单片机
FPGA
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职称材料
题名
基于“单片机+FPGA”的数字芯片自动测试系统设计
被引量：
22
1
作者
石英
陈心浩
何湘竹
机构
中南民族大学实验教学与实验室管理中心
中南民族大学电子信息工程学院
出处
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2020年第12期130-135,共6页
基金
湖北省高等学校省级研究项目(2014188)
中南民族大学教研项目(JYX19114)
中南民族大学实验室技改项目(JG201603)。
文摘
为了解决实验室和实验教学中74系列数字芯片功能和型号测试自动化的问题,该文设计了一套基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统。采用单片机作为控制核心,驱动LCD显示测试信息,扫描按键设置测试参数;采用FPGA作为测试核心,给待测芯片施加激励信号,并将响应信号与预期响应信号进行比较,获得测试结果;设计自定义接口完成单片机与FPGA之间的通信。该系统实现了14、16和20引脚的74系列数字芯片功能和型号测试,具有集成化、多样化、便捷化的特点,极大地提高了实验室和实验教学中芯片的测试效率。
关键词
数字芯片自动测试
多功能
多引脚
单片机
FPGA
Keywords
digital chip automatic test
multi-function
multi-pin
SCM
FPGA
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于“单片机+FPGA”的数字芯片自动测试系统设计
石英
陈心浩
何湘竹
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2020
22
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