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基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法被引量：2: 1; 作者李文星王天成李华伟《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第11期1802-1810,共9页; 基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结... 展开更多; 关键词数字电路测试自动测试向量生成 K近邻分支限界搜索回溯次数; 在线阅读下载PDF 职称材料

数字电路BST的测试矢量预装和响应提取: 2; 作者陈希陈光谢永乐《电子测量与仪器学报》 CSCD 2004年第z2期735-738,共4页; 在IEEE1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等.本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘扫描测试软件平台,重点描述了互连... 展开更多; 关键词数字电路测试边缘扫描寄存器边缘扫描描述语言指令测试; 在线阅读下载PDF 职称材料

便携式通用TTL数字设备诊断测试系统PORTest设计与实现: 3; 作者肖刚窦文华王东霞《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1997年第1期53-56,共4页; 便携式通用ＴＴＬ数字设备诊断测试系统ＰＯＲＴｅｓｔ是一个利用便携式微机的激励响应式诊断测试系统。它的设计目的是为了实现对各种ＴＴＬ数字电路设备的高速、准确、方便地功能测试和故障诊断。; 关键词数字电路测试仪故障字典故障定位测试设计; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于电流信息的CMOS SRAM存储单元故障测试被引量：1: 4; 作者陈飞王友仁崔江《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2008年第6期100-103,共4页; 针对深亚微米技术,提出了差分静态电流技术和动态电流技术相结合的方法对CMOS SRAM存储单元进行故障诊断,针对该方法改进了0-1算法。改进的0-1算法与传统的March算法相比,明显降低了测试开销。以四单元存储器为诊断实例,针对桥接故障、... 展开更多; 关键词数字电路测试电源电流检测存储器故障故障诊断; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法被引量：2: 1; 作者李文星王天成李华伟; 机构中国科学院计算技术研究所处理器芯片全国重点实验室中国科学院大学计算机科学与技术学院; 出处《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第11期1802-1810,共9页; 基金国家重点研发计划(2020YFB1600201) 国家自然科学基金(62090024,U20A20202)。; 文摘基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法,KNN结合电路结构数据和可测试性度量信息来指导PODEM算法中回退路径的选择,替代传统的启发式策略,以尽快地到达有效决策点,减少回溯次数.在ISCAS85,ISCAS89和ITC99基准电路上进行验证,与传统启发式策略以及一种基于人工神经网络(ANN)的回退路径选择策略相比,所提方法在回溯次数、回退次数、运行时间和故障覆盖率指标方面分别实现了最高1625.0%,466.0%,260.0%和2.2%的改进.同时,相比基于ANN的方法,KNN没有显式的训练过程,在搭建模型阶段能够节省一定的显存资源开销,并且可以使用更少的训练集样本得到有效的预测模型.; 关键词数字电路测试自动测试向量生成 K近邻分支限界搜索回溯次数; Keywords digital circuit testing automatic test pattern generation K-nearest neighbor branch-and-bound search number of backtracks; 分类号 TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名数字电路BST的测试矢量预装和响应提取: 2; 作者陈希陈光谢永乐; 机构电子科技大学自动化工程学院; 出处《电子测量与仪器学报》 CSCD 2004年第z2期735-738,共4页; 文摘在IEEE1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等.本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘扫描测试软件平台,重点描述了互连线故障测试过程中向边缘扫描单元(BSC)预装测试矢量序列和提取响应序列的方法.; 关键词数字电路测试边缘扫描寄存器边缘扫描描述语言指令测试; 分类号 TM93-55 [电气工程—电力电子与电力传动]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名便携式通用TTL数字设备诊断测试系统PORTest设计与实现: 3; 作者肖刚窦文华王东霞; 机构国防科技大学电子计算机系; 出处《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1997年第1期53-56,共4页; 文摘便携式通用ＴＴＬ数字设备诊断测试系统ＰＯＲＴｅｓｔ是一个利用便携式微机的激励响应式诊断测试系统。它的设计目的是为了实现对各种ＴＴＬ数字电路设备的高速、准确、方便地功能测试和故障诊断。; 关键词数字电路测试仪故障字典故障定位测试设计; 分类号 TN790.7 [电子电信—电路与系统] TN790.2 [电子电信—电路与系统]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于电流信息的CMOS SRAM存储单元故障测试被引量：1: 4; 作者陈飞王友仁崔江; 机构南京航空航天大学自动化学院; 出处《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2008年第6期100-103,共4页; 基金国家自然科学基金资助项目(60374008 60501022) +1 种基金 04I52068); 文摘针对深亚微米技术,提出了差分静态电流技术和动态电流技术相结合的方法对CMOS SRAM存储单元进行故障诊断,针对该方法改进了0-1算法。改进的0-1算法与传统的March算法相比,明显降低了测试开销。以四单元存储器为诊断实例,针对桥接故障、开路故障与耦合故障,实现了100%故障诊断覆盖率。实验结果证明了新方法具有故障覆盖率高的特点,能够诊断传统逻辑测试法难以探测的部分故障。; 关键词数字电路测试电源电流检测存储器故障故障诊断; Keywords digital circuit testing power supply current testing memory fault fault diagnose; 分类号 TP206.3 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	基于K近邻的数字电路自动测试向量生成方法	李文星王天成李华伟	《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心	2023	2	在线阅读下载PDF 职称材料
2	数字电路BST的测试矢量预装和响应提取	陈希陈光谢永乐	《电子测量与仪器学报》 CSCD	2004	0	在线阅读下载PDF 职称材料
3	便携式通用TTL数字设备诊断测试系统PORTest设计与实现	肖刚窦文华王东霞	《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心	1997	0	在线阅读下载PDF 职称材料
4	基于电流信息的CMOS SRAM存储单元故障测试	陈飞王友仁崔江	《传感器与微系统》 CSCD 北大核心	2008	1	在线阅读下载PDF 职称材料