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超辐射发光二极管的散斑自相关法表面粗糙度测量研究
被引量：
7
1
作者
蒋磊
刘恒彪
李同保
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2019年第7期202-208,共7页
利用相干或部分相干光被粗糙表面散射产生的散斑现象进行表面粗糙度测量是一类有应用前景的在线测量技术。研究了窄带连续谱光束被随机粗糙表面散射形成的远场散射光场的散斑延长效应和将其应用于表面粗糙度测量的可行性。理论和模拟研...
利用相干或部分相干光被粗糙表面散射产生的散斑现象进行表面粗糙度测量是一类有应用前景的在线测量技术。研究了窄带连续谱光束被随机粗糙表面散射形成的远场散射光场的散斑延长效应和将其应用于表面粗糙度测量的可行性。理论和模拟研究表明:随着观测点逐渐远离散射光场中心,散斑延长率越来越大;在相同的观测位置,表面的粗糙度越小,散斑延长率越大。构建以超辐射发光二极管(Superluminescent Diode,SLD)为光源的实验系统,以散斑延长率衍生的光学粗糙度指标来衡量表面粗糙度,对电火花加工的表面粗糙度对比样块进行粗糙度测量实验,结果表明光学粗糙度指标随着被测表面粗糙度的增加而单调递减。比起一组分立波长的光源,采用窄带连续谱光源的表面粗糙度测量系统有更大的测量范围。
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关键词
表面粗糙度测量
散
斑
自相关
散斑延长效应
超辐射发光二极管
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职称材料
题名
超辐射发光二极管的散斑自相关法表面粗糙度测量研究
被引量：
7
1
作者
蒋磊
刘恒彪
李同保
机构
同济大学物理科学与工程学院
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2019年第7期202-208,共7页
文摘
利用相干或部分相干光被粗糙表面散射产生的散斑现象进行表面粗糙度测量是一类有应用前景的在线测量技术。研究了窄带连续谱光束被随机粗糙表面散射形成的远场散射光场的散斑延长效应和将其应用于表面粗糙度测量的可行性。理论和模拟研究表明:随着观测点逐渐远离散射光场中心,散斑延长率越来越大;在相同的观测位置,表面的粗糙度越小,散斑延长率越大。构建以超辐射发光二极管(Superluminescent Diode,SLD)为光源的实验系统,以散斑延长率衍生的光学粗糙度指标来衡量表面粗糙度,对电火花加工的表面粗糙度对比样块进行粗糙度测量实验,结果表明光学粗糙度指标随着被测表面粗糙度的增加而单调递减。比起一组分立波长的光源,采用窄带连续谱光源的表面粗糙度测量系统有更大的测量范围。
关键词
表面粗糙度测量
散
斑
自相关
散斑延长效应
超辐射发光二极管
Keywords
surface roughness measurement
speckle autocorrelation
speckle elongation effect
SLD
分类号
TH741 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
超辐射发光二极管的散斑自相关法表面粗糙度测量研究
蒋磊
刘恒彪
李同保
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2019
7
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