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一种组合逻辑电路故障模糊区域测试点优选算法
1
作者
盛松林
李演仁
《实用测试技术》
2000年第2期5-7,共3页
讨论了组合逻辑电路故障模糊区域测试点的选择问题 ,提出了优选测试点的概念。在分析了四种典型电路的基础上 ,给出了一种适应于一般组合逻辑电路的算法 ,并举例加以说明。
关键词
测试
组合逻辑电路
优选
测试点
故障模糊区域
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
一种组合逻辑电路故障模糊区域测试点优选算法
1
作者
盛松林
李演仁
机构
空军雷达学院装备研究所
出处
《实用测试技术》
2000年第2期5-7,共3页
文摘
讨论了组合逻辑电路故障模糊区域测试点的选择问题 ,提出了优选测试点的概念。在分析了四种典型电路的基础上 ,给出了一种适应于一般组合逻辑电路的算法 ,并举例加以说明。
关键词
测试
组合逻辑电路
优选
测试点
故障模糊区域
分类号
TN791 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
一种组合逻辑电路故障模糊区域测试点优选算法
盛松林
李演仁
《实用测试技术》
2000
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