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基于AMBA协议的SoC测试控制器设计
1
作者
韩可
邓中亮
吕良
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第S1期146-149,152,共5页
阐述一种实现SoC功能验证的测试控制器设计方法。该测试控制器的行为符合AMBA2.0标准协议,可以完成对AM-BA总线上其他IP(intellectual property)核的功能验证。给出了在SoC内部利用该测试控制器测试ARM的集成方法,同时详细给出了该硬件...
阐述一种实现SoC功能验证的测试控制器设计方法。该测试控制器的行为符合AMBA2.0标准协议,可以完成对AM-BA总线上其他IP(intellectual property)核的功能验证。给出了在SoC内部利用该测试控制器测试ARM的集成方法,同时详细给出了该硬件电路的实现方法和应用测试语言编写测试向量的具体流程。分析了控制器外部测试向量产生原理,通过对ARM7TDMI的测试应用实例,说明了利用该测试控制器可以高效地完成系统功能测试。
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关键词
AMBA
系统芯片
功能验证
接口测试控制器
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职称材料
用FPGA实现PROM配置信息擦除的方法
2
作者
王吕大
张淑萍
《计算机工程与设计》
CSCD
北大核心
2007年第23期5745-5747,5764,共4页
通过对边界扫描测试技术原理的分析理解,特别是测试访问接口控制器的16种状态的相互转换分析,总结出边界扫描测试的核心操作,归纳出相应的操作流程。并结合工具软件产生的SVF文件和产商提供的BSDL文件,用硬件描述语言设计了一种基于边...
通过对边界扫描测试技术原理的分析理解,特别是测试访问接口控制器的16种状态的相互转换分析,总结出边界扫描测试的核心操作,归纳出相应的操作流程。并结合工具软件产生的SVF文件和产商提供的BSDL文件,用硬件描述语言设计了一种基于边界扫描测试标准的擦除PROM配置信息的方法,并用FPGA进行了该方法的验证和实现。
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关键词
现场可编程门阵列
边界扫面
测试
测试
访问
接口
控制器
配置信息
擦除
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职称材料
题名
基于AMBA协议的SoC测试控制器设计
1
作者
韩可
邓中亮
吕良
机构
北京邮电大学电子工程学院
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第S1期146-149,152,共5页
文摘
阐述一种实现SoC功能验证的测试控制器设计方法。该测试控制器的行为符合AMBA2.0标准协议,可以完成对AM-BA总线上其他IP(intellectual property)核的功能验证。给出了在SoC内部利用该测试控制器测试ARM的集成方法,同时详细给出了该硬件电路的实现方法和应用测试语言编写测试向量的具体流程。分析了控制器外部测试向量产生原理,通过对ARM7TDMI的测试应用实例,说明了利用该测试控制器可以高效地完成系统功能测试。
关键词
AMBA
系统芯片
功能验证
接口测试控制器
Keywords
AMBA
SoC
function verification
test interface controller
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
用FPGA实现PROM配置信息擦除的方法
2
作者
王吕大
张淑萍
机构
北京计算机技术及应用研究所
出处
《计算机工程与设计》
CSCD
北大核心
2007年第23期5745-5747,5764,共4页
文摘
通过对边界扫描测试技术原理的分析理解,特别是测试访问接口控制器的16种状态的相互转换分析,总结出边界扫描测试的核心操作,归纳出相应的操作流程。并结合工具软件产生的SVF文件和产商提供的BSDL文件,用硬件描述语言设计了一种基于边界扫描测试标准的擦除PROM配置信息的方法,并用FPGA进行了该方法的验证和实现。
关键词
现场可编程门阵列
边界扫面
测试
测试
访问
接口
控制器
配置信息
擦除
Keywords
FPGA
JTAG
TAP controller
configuration information
erase
分类号
TP309.2 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于AMBA协议的SoC测试控制器设计
韩可
邓中亮
吕良
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
用FPGA实现PROM配置信息擦除的方法
王吕大
张淑萍
《计算机工程与设计》
CSCD
北大核心
2007
0
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职称材料
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