大规模MCM基板互连探针测试和路径优化 被引量：1

1

作者 许川佩 许君华 +1 位作者 李智 莫玮 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期9-13,共5页

已有的路径优化算法在MCM基板互连测试中已经发挥了一定的作用,但由于MCM的高密互连特性,使得测试变得更加复杂和困难,因此人们希望能引入新的方法与思路,以解决MCM基板互连测试的路径优化问题。将蚁群算法应用到互连测试探针路径优化... 已有的路径优化算法在MCM基板互连测试中已经发挥了一定的作用,但由于MCM的高密互连特性,使得测试变得更加复杂和困难,因此人们希望能引入新的方法与思路,以解决MCM基板互连测试的路径优化问题。将蚁群算法应用到互连测试探针路径优化问题当中,根据MCM基板互连测试的特点,建立探针路径优化的模型。提出一种针对大规模MCM基板互连探针测试的方法,首先将MCM基板进行分片,然后对每片进行优化,最后将优化结果连接在一起,成为一条完整的路径。实验结果表明,蚁群算法能在较短的时间内得到更优的路径。 展开更多

关键词 MCM基板 互连测试 探针测试 蚁群算法

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评价乒乓球初学者技能水平的探针测试法及其对比 被引量：1

2

作者 章建成 刘雅玲 《上海体育学院学报》 CSSCI 北大核心 1996年第2期43-48,共6页

采用实验对比法,探讨探针测试法评价乒乓球初学者技能水平的可行性,并比较了探针法与板击球法用于评价时的有效性。结果显示,探针法可用于评价乒乓球初学者的技能水平,且比板击球测试法更有效。

关键词 乒乓球 技能水平 评价 探针测试法 板击球测试法

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数字化智能四探针测试仪的研制 被引量：8

3

作者 徐远志 晏敏 黎福海 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第8期47-48,52,共3页

将传统直流四探针测试仪与嵌入式系统相结合,研制出数字化智能四探针测试仪。该仪器可以自动识别被测样品电阻率,并自动切换到最佳档位,操作简便工作效率高,具有一定的实用和开发价值。

关键词 四探针测试仪 嵌入式系统 电阻率 数字化

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基于探针测试台的微波模块自动测试系统设计 被引量：5

4

作者 陈忠睿 肖何 《电子测量技术》 2013年第5期101-104,共4页

针对微波模块一致性及快速精确测试的需求,改变以往将微波模块安装在测试夹具中测试的方式,设计了一种基于探针测试台的微波模块自动测试系统,极大的提高了测试效率。描述了基于探针测试台的微波模块自动测试系统的组成和功能,并以移相... 针对微波模块一致性及快速精确测试的需求,改变以往将微波模块安装在测试夹具中测试的方式,设计了一种基于探针测试台的微波模块自动测试系统,极大的提高了测试效率。描述了基于探针测试台的微波模块自动测试系统的组成和功能,并以移相器模块的测试为例,阐述了基于探针测试台的自动测试系统硬件和软件设计。经测试,本系统能有效的提高测试效率,减少测试夹具带来的系统误差。 展开更多

关键词 探针测试台 自动测试系统 VC

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智能四探针电阻率测试仪的研制 被引量：9

5

作者 晏敏 彭楚武 +2 位作者 黎福海 曾健平 赵冯 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期52-55,共4页

从教学实际需要出发,在分析影响四探针电阻率测试仪精度的几个主要因素的基础上,应用微电子技术与嵌入式系统,研制出了智能四探针电阻率测试仪。实际工作表明:该仪器具有自动切换量程、稳定性好的特点;具有PC机接口;功耗小于6 W;误差为&... 从教学实际需要出发,在分析影响四探针电阻率测试仪精度的几个主要因素的基础上,应用微电子技术与嵌入式系统,研制出了智能四探针电阻率测试仪。实际工作表明:该仪器具有自动切换量程、稳定性好的特点;具有PC机接口;功耗小于6 W;误差为±0.5%;测量范围:0.025-2 500 Ω·cm;自动显示小数点和单位. 展开更多

关键词 微电子 嵌入式 四探针测试仪 电阻率 电阻率测试仪 四探针 智能 自动切换量程 嵌入式系统 微电子技术

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芯片测试探针X射线图像模式识别技术研究 被引量：1

6

作者 黄传霞 赵勋杰 《计算机应用与软件》 CSCD 北大核心 2013年第7期244-247,共4页

研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部... 研究IC半导体芯片测试探针图像模式识别的关键技术和方法。通过对大量测试探针图片的分析,发现不同系列探针图像的长、宽、各部分比例、面积有明显差别,而同一系列探针的相差不大,主要差别在头部和尾部的形状上。根据各种型号探针头部和尾部的形状特点,提出识别每种型号探针的形状特征参数,建立探针特征数据库。以其中3个系列16种探针为例,详细介绍探针形状特征的提取方法,并基于MATLAB开发了一个探针图像模式识别系统。实验表明该系统能够实现图像抓取、预处理、特征提取、识别及报警功能。 展开更多

关键词 测试探针 X图像 形状特征 模式识别

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BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计

7

作者 周传兴 董明义 +2 位作者 鞠旭东 董静 欧阳群 《核电子学与探测技术》 北大核心 2017年第3期225-230,共6页

为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描... 为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。 展开更多

关键词 单片型有源像素芯片 硅像素探测器 探针卡 芯片探针台测试

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功能高分子膜导电性测试方法的研究 被引量：3

8

作者 庞志成 胡玉春 罗震宁 《中国测试技术》 2003年第4期3-4,52,共3页

功能高分子材料是材料科学与高分子科学的重要研究对象。导电性是导电功能高分子膜的重要的性能指标。文章研究了膜导电性的测试方法 ,讨论了四探针测试法的特点和应用范围 ,为提高测试速度和精度 ,针对确定厚度的导电功能高分子膜 ,提... 功能高分子材料是材料科学与高分子科学的重要研究对象。导电性是导电功能高分子膜的重要的性能指标。文章研究了膜导电性的测试方法 ,讨论了四探针测试法的特点和应用范围 ,为提高测试速度和精度 ,针对确定厚度的导电功能高分子膜 ,提出了平行四电极测试法 ,成功地用自制的平行四电极测试装置进行了膜导电性测试 ,得到了满意的结果 。 展开更多

关键词 功能高分子材料 功能高分子膜 导电性 测试方法 四探针测试法 平行四电极测试法

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RF前端整合到SOC芯片中给生产测试带来的变革 被引量：1

9

作者 JoeKelly ArianaSalagianis 潘其涛 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第9期J001-J004,共4页

关键词 RF前端 SOC芯片 系统级测试 探针测试 SIP

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京北云蒙山变质核杂岩南东侧剥离断层带的构造热演化 被引量：13

10

作者 王巧云 颜丹平 +2 位作者 苏本勋 周密 胡瑞忠 《地质通报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第4期448-453,共6页

以云蒙山变质核杂岩东侧的河防口低角度正断层为研究对象,通过矿物(黑云母)的变形特征和形成环境分析,获得了该断层带上的构造热演化环境:温度为780-860℃,压力约为7.3×108-8．6×108Pa。提出云蒙山变质核杂岩的成因机制是,在... 以云蒙山变质核杂岩东侧的河防口低角度正断层为研究对象,通过矿物(黑云母)的变形特征和形成环境分析,获得了该断层带上的构造热演化环境:温度为780-860℃,压力约为7.3×108-8．6×108Pa。提出云蒙山变质核杂岩的成因机制是,在区域伸展背景下,处于半固结状态的云蒙山花岗岩在东南侧卷入河防口-水峪伸展型韧性剪切带,使花岗岩发生中高温条件的韧性变形;之后,该韧性剪切带在隆升过程中不断向浅层次过渡,形成了一些浅层次的脆性伸展变形构造。 展开更多

关键词 云蒙山变质核杂岩 河防口低角度正断层 电子探针测试 韧性变形

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隐藏在苏鲁地体斜长角闪岩锆石中超高压变质作用的信息 被引量：9

11

作者 刘福来 张泽明 +2 位作者 许志琴 杨经绥 S.Maruyama 《地球学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期409-414,共6页

运用激光拉曼和阴极发光技术 ,配备电子探针测试 ,发现苏鲁地体地表露头和中国大陆科学钻探工程预先导孔CCSD PP1和CCSD PP2斜长角闪岩锆石中均保存以柯石英为代表的典型超高压矿物组合 :柯石英 +石榴石 +绿辉石 +金红石 ;柯石英 +石榴... 运用激光拉曼和阴极发光技术 ,配备电子探针测试 ,发现苏鲁地体地表露头和中国大陆科学钻探工程预先导孔CCSD PP1和CCSD PP2斜长角闪岩锆石中均保存以柯石英为代表的典型超高压矿物组合 :柯石英 +石榴石 +绿辉石 +金红石 ;柯石英 +石榴石 +绿辉石 ;柯石英 +石榴石 +绿辉石 +多硅白云母 +金红石 +磷灰石 ;柯石英 +绿辉石 +金红石 ;柯石英+菱镁矿。该类矿物包体组合与苏鲁地体超高压榴辉岩的峰期矿物组合十分相似 。 展开更多

关键词 激光拉曼技术 阴极发光技术 电子探针测试 柯石英 典型超高压矿物组合 长角闪岩 构造抬升 变质

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轴流导叶式旋风管内气固两相流的实验研究 被引量：15

12

作者 郭颖 王建军 金有海 《石油大学学报（自然科学版）》 CSCD 北大核心 2005年第3期96-100,共5页

为研究颗粒分离机理,提高分离性能,采用五孔球探针测试仪及等动采样法对轴流导叶式旋风管内气固两相流速度与压力分布进行了测量,并分别对不同导流锥和排尘结构参数下的纯气流流场及颗粒浓度场分布进行了对比分析。实验结果表明,旋风管... 为研究颗粒分离机理,提高分离性能,采用五孔球探针测试仪及等动采样法对轴流导叶式旋风管内气固两相流速度与压力分布进行了测量,并分别对不同导流锥和排尘结构参数下的纯气流流场及颗粒浓度场分布进行了对比分析。实验结果表明,旋风管内气流切向速度分布呈典型的准Rankin涡结构,固相颗粒分布在离心力作用下沿径向分为近壁的密相区与中心的稀相区。减小导流锥下口内径,采用带有排尘侧缝的单锥排尘结构有利于旋风管内颗粒的分离。 展开更多

关键词 轴流导叶式旋风管 五孔球探针测试仪 等动采样法 颗粒分离机理 气流 切向速度 离心力作用

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微透镜阵列的离子束溅射刻蚀研究

13

作者 张新宇 易新建 +3 位作者 赵兴荣 麦志洪 何苗 刘鲁勤 《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第S2期129-129,共1页

微透镜阵列的离子束溅射刻蚀研究张新宇易新建赵兴荣麦志洪何苗（华中理工大学光电子工程系武汉４３００７４）刘鲁勤（航天部二院２５所北京１００５８４）利用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）和表面探针测试，分析了采用离子束溅射刻蚀技术... 微透镜阵列的离子束溅射刻蚀研究张新宇易新建赵兴荣麦志洪何苗（华中理工大学光电子工程系武汉４３００７４）刘鲁勤（航天部二院２５所北京１００５８４）利用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）和表面探针测试，分析了采用离子束溅射刻蚀技术所制作的石英微透镜阵列器件的表面微... 展开更多

关键词 离子束 石英微透镜 溅射 阵列器件 表面形貌 扫描电子显微镜 探针测试 表面微观形貌 光致抗蚀剂 光电子

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集成电路多层互连结构故障定位方法 被引量：3

14

作者 龚瑜 黄彩清 刘颖 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第2期206-213,共8页

随着超大规模集成电路特征尺寸的不断缩小,晶圆级失效点的尺寸也随之不断减小,使得常规的失效定位方法EMMI,OBIRCH已无法满足深亚微米级别故障定位的要求。为了能够实现更精准定位缺陷位置,本文提出了一种先进的深层互连缺陷探测技术:... 随着超大规模集成电路特征尺寸的不断缩小,晶圆级失效点的尺寸也随之不断减小,使得常规的失效定位方法EMMI,OBIRCH已无法满足深亚微米级别故障定位的要求。为了能够实现更精准定位缺陷位置,本文提出了一种先进的深层互连缺陷探测技术:微探针测试定位方法。同时,将故障区域划分为浅层金属,底层金属,深层金属及互连通孔缺陷,提出了根据多层互连金属的结构选择对应定位分析技术的方法,分析和讨论了这几种位置缺陷探测的特点以及推荐的故障定位技术。通过实例分析揭示集成电路多层金属互连失效的主要失效机理,对提高失效分析的成功率以及深亚微米的集成电路的设计有着重要的参考作用。 展开更多

关键词 失效定位 热成像分析 微探针测试 微光显微镜 集成电路

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东升庙硫多金属矿床有机质与成矿关系

15

作者 胡乖 曹建劲 《金属矿山》 CAS 北大核心 2014年第9期90-94,共5页

将东升庙矿床矿井下采得矿石制成薄片后进行电子探针测试,主要关注测试点内元素碳的含量及存在形式。测试结果显示在闪锌矿、磁黄铁矿、黄铁矿、黄铜矿的矿物本身能检测到含量不等的碳元素,方铅矿中未检测到碳元素,分析其与成矿性质有... 将东升庙矿床矿井下采得矿石制成薄片后进行电子探针测试,主要关注测试点内元素碳的含量及存在形式。测试结果显示在闪锌矿、磁黄铁矿、黄铁矿、黄铜矿的矿物本身能检测到含量不等的碳元素,方铅矿中未检测到碳元素,分析其与成矿性质有关。此外,在这些矿物周围的脉石矿物内则检测到了白云石、菱镁矿、铁的碳酸盐化物与氢氧化物的混合物质,元素C多以碳酸盐形式出现。在金属矿物周围交界处及矿物包裹体内检测到有高含碳物质(碳元素含量75%以上),结合矿床本身特性,推测为有机质。通过对测试结果的对比分析,从微观的角度说明有机质与金属矿物存在空间上的密切联系,并参与了成矿过程。 展开更多

关键词 有机质 成矿研究 东升庙矿床 电子探针测试

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影响ESD荷电器件模型放电电流的关键参数研究 被引量：1

16

作者 邢洁 王明湘 何健 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期349-353,共5页

静电放电峰值电流是基于荷电器件放电模型的放电测试装置中波形验证的关键指标。针对影响放电峰值电流的几个因素:测试探针长度、直径、形状和充电盘绝缘介电层的厚度,研究了这些参数变化对放电峰值电流的影响规律。根据研究结果可调整... 静电放电峰值电流是基于荷电器件放电模型的放电测试装置中波形验证的关键指标。针对影响放电峰值电流的几个因素:测试探针长度、直径、形状和充电盘绝缘介电层的厚度,研究了这些参数变化对放电峰值电流的影响规律。根据研究结果可调整相应参数,保证荷电器件放电模型的测试装置符合测试标准。基于LRC放电电路的等效模型,实验结果给出了到满意的定量或定性解释。 展开更多

关键词 静电放电 荷电器件放电模型 测试探针 LRC模型

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对n型Si外延片表面处理方法的研究 被引量：1

17

作者 安静 杨瑞霞 +1 位作者 袁肇耿 张志勤 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期22-25,共4页

Si外延片是制造半导体器件和集成电路最常用的半导体材料。外延层电阻率是外延片最重要的参数之一,它直接影响器件的性能。简要分析了自动汞探针C-V测试仪测量电阻率前进行表面处理的原因,研究了不同的表面处理方法对电阻率测试结果的影... Si外延片是制造半导体器件和集成电路最常用的半导体材料。外延层电阻率是外延片最重要的参数之一,它直接影响器件的性能。简要分析了自动汞探针C-V测试仪测量电阻率前进行表面处理的原因,研究了不同的表面处理方法对电阻率测试结果的影响,发现对于外延层的电阻率ρ>1Ω.cm的n型Si外延片,采用紫外光(UV)表面处理是一种合适的表面处理方法,该方法应用于实际生产测试过程。 展开更多

关键词 外延片 电阻率 汞探针C.V测试仪 表面处理 紫外光

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