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基于分区独立温度控制的探针台卡盘温度均匀性研究 被引量:2
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作者 刘洪 苏中 刘宁 《现代电子技术》 北大核心 2018年第16期13-16,21,共5页
在半导体测试的高低温测试中需要有效地保证探针台卡盘表面温度的均匀性。利用基于有限元方法的仿真软件ANSYS Workbench对探针台卡盘冷却层进行建模,研究表面温度场分布情况。同时,对探针台卡盘表面各区域进行温度测试获取探针台卡盘... 在半导体测试的高低温测试中需要有效地保证探针台卡盘表面温度的均匀性。利用基于有限元方法的仿真软件ANSYS Workbench对探针台卡盘冷却层进行建模,研究表面温度场分布情况。同时,对探针台卡盘表面各区域进行温度测试获取探针台卡盘温度分布。仿真结果和实验结果一致,表明探针台卡盘表面中心位置温度最高,距离卡盘中心位置距离越远,温度越低。基于现有探针台卡盘均匀加热下表面温度分布的状况,提出加热板实施分区独立温度控制,从而改善探针台卡盘表面温度的均匀性,提高探针台高低温测试的精确性。 展开更多
关键词 探针台 有限元方法 均匀性 分区控制 半导体 温度测试
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大直径探针台的晶圆自动传输系统 被引量:3
2
作者 谭立杰 王洪宇 王文举 《电子工业专用设备》 2011年第11期36-40,共5页
介绍了适应大直径探针台的晶圆自动传输系统及其主要的组成部分——片盒承载台、关节机械手、预对准装置。应用动力学分析证明R-θ型机械手的直线运动轨迹,阐述了机械式和光学预对准装置的主要原理,说明了晶圆自动传输系统的应用前景。
关键词 晶圆自动传输 探针台 R-θ型机械手 预对准
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全自动探针台硅片传输系统的预对准算法研究 被引量:3
3
作者 胡晓霞 黄睿 艾博 《电子工业专用设备》 2016年第12期16-19,共4页
提出了一种硅片传输系统的预对准算法,根据线阵CCD采集的边缘电压数据并结合机械手的固有特性,计算出圆心坐标和切边位置,实现硅片的预对准。经过实验验证,该算法有效提高了预对准的可靠性和稳定性。
关键词 探针台 传输系统 预对准
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一种微型探针台的设计和应用 被引量:4
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作者 顾吉 吴建伟 《电子与封装》 2017年第1期41-46,共6页
介绍了一种便携式探针台,其结构小巧,功能实用,成本较低,可以满足基本的试验需求。特别之处在于显微镜和探针台采用分体结构设计,使得探针台部分能从整个探针台系统中独立出来,可以应用于辐照试验中。固定在探针台上的芯片可以与探针台... 介绍了一种便携式探针台,其结构小巧,功能实用,成本较低,可以满足基本的试验需求。特别之处在于显微镜和探针台采用分体结构设计,使得探针台部分能从整个探针台系统中独立出来,可以应用于辐照试验中。固定在探针台上的芯片可以与探针台一起放置于空间任意位置,方便将芯片对准辐照源中心。该探针台也可放置在高低温箱中,用于芯片的三温测试。加上显微镜固定采用多角度云台支架设计,支持全方位观察,可以使得观察更加立体直观。探针卡采用多探针结构,可实现多路测试,并且探卡及其信号连接线采用了低漏电及EMI设计,测试精度可以达到0.1 n A以下,配合接地良好的铝制屏蔽盒,增加了抗干扰能力,其测试数据更加精确。 展开更多
关键词 探针台 晶圆 辐照 高低温 测试系统
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低温探针台液氮管路保冷设计与应力分析 被引量:1
5
作者 贾月明 刘路宽 高岳 《电子工业专用设备》 2021年第1期12-14,70,共4页
对低温探针台液氮管路的保冷结构进行了研究,给出了保冷层厚度的计算方法,应用有限元分析软件对液氮管路进行了热应力分析,为低温探针台液氮管路保冷设计提供了理论依据。
关键词 低温探针台 液氮管路 保冷设计 应力分析
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LED探针台CCD采集数据处理算法的研究 被引量:1
6
作者 刘国敬 《电子工业专用设备》 2012年第7期13-14,39,共3页
因LED测试芯片经过切割、崩裂、扩张后其上的晶粒会产生很大变形,产生很多空点和排列不规则的点。LED探针台使用面阵相机对晶圆上的晶粒图像数据采集时,两屏之间存在重叠区域,造成大量重复数据。要短时间内获取到点附于蓝膜上晶粒的精... 因LED测试芯片经过切割、崩裂、扩张后其上的晶粒会产生很大变形,产生很多空点和排列不规则的点。LED探针台使用面阵相机对晶圆上的晶粒图像数据采集时,两屏之间存在重叠区域,造成大量重复数据。要短时间内获取到点附于蓝膜上晶粒的精确唯一位置和坐标,需要寻找一种可靠高效的数据处理算法,通过对几种数据处理算法进行研究得出最优算法。 展开更多
关键词 LED探针台 数据处理 坐标资料 MAP图
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探针台“四芯”测试算法应用研究
7
作者 胡晓霞 李猛 +1 位作者 方敏晰 温建军 《电子工业专用设备》 2022年第6期49-52,66,共5页
介绍了探针测试的现状,基于探针设备的硬件结构,探索设计一种“四芯”测试算法,达到提高测试效率的目标。实验结果表明了“四芯”测试算法的可行性及有效性。
关键词 探针台 “四芯”测试 晶圆测试
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自动探针台的现状及发展 被引量:5
8
作者 唐德兴 《电子工业专用设备》 1992年第3期13-16,共4页
国内外概况 自动探针台作为对芯片电路进行参数和功能测试的中间测试设备,在国内外已有较长时间的研究和应用。随着LSI及VLSI的发展,测试点数量的增加、尺寸的缩小、密度的增大、以及规模生产和某些敏感元器件测试的需要,对自动探针台... 国内外概况 自动探针台作为对芯片电路进行参数和功能测试的中间测试设备,在国内外已有较长时间的研究和应用。随着LSI及VLSI的发展,测试点数量的增加、尺寸的缩小、密度的增大、以及规模生产和某些敏感元器件测试的需要,对自动探针台的精度(定位精度、重复精度及位置分辩率)、运行速度、使用功能、探测能力、软件接口。 展开更多
关键词 集成电路 芯片 测试设备 探针台
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提高探针台测试效率的方法研究 被引量:3
9
作者 罗杨 《电子工业专用设备》 2014年第1期24-27,38,共5页
分析探针台的自动测试流程,从减少运动次数和时序重合两方面提出了几种提高探针台测试效率的方法,说明其实现原理,并用实际测试的数据,证明这些方法对效率确有提高。
关键词 探针台 自动测试 效率
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BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
10
作者 周传兴 董明义 +2 位作者 鞠旭东 董静 欧阳群 《核电子学与探测技术》 北大核心 2017年第3期225-230,共6页
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描... 为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。 展开更多
关键词 单片型有源像素芯片 硅像素探测器 探针 芯片探针台测试
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LED探针台重叠区域的图像处理
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作者 霍杰 田洪涛 +1 位作者 刘国敬 宋婉贞 《电子工业专用设备》 2011年第5期37-39,47,共4页
LED探针台使用面阵相机对晶圆上的管芯图像数据采集时,两屏之间存在重叠区域,造成大量重复图像数据[1]。为了消除重复的采集数据以及对处理后的数据进行排序,对两种数据处理方法进行比较,经过大量的实验证明,得出最优算法。
关键词 LED探针台 图像处理 重叠区域 重复数据 最优算法
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探针台技术 被引量:1
12
作者 王洪 《中国集成电路》 2002年第3期58-60,共3页
本文通过介绍探针台内部的一些技术,包括控制方式、探针对准、探针清洁等方面,说明探针台如何保证精度及功能要求,满足现在半导体测试的要求。
关键词 探针台 硅片 工作 控制方式 并行测试 对准 技术 摄像头 清洁 闭环控制系统
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伊智晶片探针台
13
《微纳电子技术》 CAS 2004年第4期46-46,共1页
关键词 伊智公司 晶片探针台 半导体制造设备 制造工艺 动态随机存取存储
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基于探针台技术的终测机械手系统
14
《微纳电子技术》 CAS 2004年第4期46-46,共1页
关键词 伊智公司 终测机械手系统 晶片级封装WLP 微电子机械系统 探针台技术
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半导工艺设备技术前瞻 探针台朝精细探测技术新趋势
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作者 任苙萍 《电子与电脑》 2005年第11期125-128,共4页
消费性电子的兴起,衍生出对更小的装置、更小的封装,以及更低成本的需求市场;同时对于复杂装置结构的接脚效能和硅材I/O的使用效率的要求变得更高,都会对测试设备亦带来冲击:由于芯片接脚愈趋小形化,用以和晶圆及探针卡连接的垫片,以及... 消费性电子的兴起,衍生出对更小的装置、更小的封装,以及更低成本的需求市场;同时对于复杂装置结构的接脚效能和硅材I/O的使用效率的要求变得更高,都会对测试设备亦带来冲击:由于芯片接脚愈趋小形化,用以和晶圆及探针卡连接的垫片,以及封装测试的驱动器也势必随之微缩。此外,汽车电子应用对于更宽广的温度测试范围的需求也是设备厂的挑战之一。 展开更多
关键词 设备技术 探测技术 探针台 精细 工艺 半导 需求市场 装置结构 封装测试
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探针台与测试系统接口技术
16
作者 王胜利 《电子工业专用设备》 1999年第1期38-40,共3页
无论何种自动探针台与测试系统组合进行芯片自动测试时,都存在与测试系统电气连接的问题,也就是接口问题。通过对其之间信号的选配、极性与时序配合以及供电等的说明。
关键词 探针台 测试系统 接口 信号选配
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专精晶圆探针台领域40余年 Electroglas期许再创辉煌佳绩——专访伊智公司副总裁暨CTO(首席技术官)Tim Boyle,以及中国区首席代表姜晓东
17
作者 任苙萍 《电子与电脑》 2005年第8期31-36,共6页
关键词 探针台 晶圆 S期 行业发展 伊智公司 设备供应商 高可靠性 技术制造 测试过程
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马达驱动探针台
18
《集成电路应用》 2007年第11期56-56,共1页
300J是一款由马达驱动,控制杆操纵,用于300mm晶圆应用的探针台。该系统采用马达驱动来实现对探针台、倾角、平面和显微镜的手动控制。该探针台的特点是精选的动态高、低速范围,可以提供高分辨率的精确定位和对300mm范围的快速扫描。
关键词 马达驱动 探针台 300MM晶圆 手动控制 快速扫描 精确定位 高分辨率 控制杆
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基于RBF自适应滑模的旋转式压电纳米探针台轨迹跟踪控制
19
作者 马诗雨 孟思源 +1 位作者 丁戍辰 汝长海 《微纳电子技术》 2025年第5期101-111,共11页
随着微纳技术的快速发展,旋转式压电纳米探针台在高真空扫描电子显微镜(SEM)中的应用需求日益增加。为了解决压电驱动设备面临的非线性特性和不确定性干扰,提出一种基于径向基函数(RBF)神经网络的自适应滑模控制(RBF-ASMC)方法。通过结... 随着微纳技术的快速发展,旋转式压电纳米探针台在高真空扫描电子显微镜(SEM)中的应用需求日益增加。为了解决压电驱动设备面临的非线性特性和不确定性干扰,提出一种基于径向基函数(RBF)神经网络的自适应滑模控制(RBF-ASMC)方法。通过结合拉格朗日方法和压电材料的迟滞模型,建立了旋转式压电纳米探针台的动力学模型,并采用RBF神经网络逼近系统未知动态,利用神经网络自适应律优化控制参数。仿真结果表明,RBF-ASMC方法在轨迹跟踪精度和收敛时间方面具有显著优势,稳态误差为0.01°,平均响应时间为1.2 s,相比传统反馈线性化控制(FLC)和非线性干扰观测器滑模控制(NDOSMC)分别减少58.3%和44.4%。这些结果证明,RBF-ASMC在提升控制精度的同时,显著提高系统的动态响应和抗干扰能力。 展开更多
关键词 旋转式压电纳米探针台 径向基函数(RBF)神经网络 自适应滑模控制(ASMC) 轨迹跟踪 非线性特性
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探针测试台X-Y工作台电机控制 被引量:1
20
作者 周豪 《电子工业专用设备》 2021年第5期64-67,共4页
探针测试台测试晶圆效率的高低与步进精度、工作台控制的方法、稳定性及快捷性密切相关。介绍了探针测试台X-Y工作台常见类型和电机控制的一般原则,并提供了解决方案。
关键词 探针台 X-Y工作 电机驱动 步进电机 伺服电机
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