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高功率离子源功率对持续高功率反应磁控溅射沉积Al_(2)O_(3)薄膜的影响
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作者 邹云霄 杨东杰 +3 位作者 刘亮亮 刘瑶瑶 李春伟 吴忠振 《中国表面工程》 北大核心 2025年第2期19-26,共8页
氧化铝膜层在光学和半导体领域具有广泛的应用。持续高功率磁控溅射(Continuous high-power magnetron sputtering)技术在反应溅射时具有较宽的工艺窗口,因此是制备氧化铝膜层的最佳途径之一。但由于C-HPMS较高的Al溅射速度,制备的氧化... 氧化铝膜层在光学和半导体领域具有广泛的应用。持续高功率磁控溅射(Continuous high-power magnetron sputtering)技术在反应溅射时具有较宽的工艺窗口,因此是制备氧化铝膜层的最佳途径之一。但由于C-HPMS较高的Al溅射速度,制备的氧化铝薄膜往往呈现氧含量不足的现象。对此,采用高功率离子源辅助离化氧气,以提升其反应活性,进而增加制备氧化层中的氧含量。研究结果表明,高功率离子源放电可以大幅提升O_(2)气的离化,使得Al和O化合的活性随离子源功率的提高,制备的氧化铝膜层更加致密,沉积速率也得到提升,膜层中的Al/O比例从0.95降低至0.64。同时,制备的氧化铝膜层的透过率68.8%提升至93.1%,耐击穿性能从20.8 V/μm提升至72.4 V/μm,膜层硬度从12.48 GPa提升至14.45 GPa,体现出明显的促进效果。 展开更多
关键词 持续功率磁控溅射(c-hpms) 氧化铝 离子源辅助 功率
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