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基于脉冲过滤与时域采样的软错误容忍锁存器设计
1
作者
刘海龙
梁华国
+1 位作者
王志
李昕
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2018年第2期200-206,共7页
随着集成电路工艺尺寸和供电电压的降低,导致电路节点的关键电荷相应减小,使得电路对单粒子效应更加敏感。为了更有效地降低电路的软错误,文章提出了一种高可靠的容软错误锁存器。该锁存器利用具有脉冲过滤技术和时域采样技术的SC单元...
随着集成电路工艺尺寸和供电电压的降低,导致电路节点的关键电荷相应减小,使得电路对单粒子效应更加敏感。为了更有效地降低电路的软错误,文章提出了一种高可靠的容软错误锁存器。该锁存器利用具有脉冲过滤技术和时域采样技术的SC单元构建反馈回路,能够完全免疫单粒子翻转(single event upset,SEU),并且利用传输路径的延时差过滤单粒子瞬态(single event transient,SET)。仿真结果表明,在相同条件下,与LSEH-1、LSEH-2锁存器相比,该文提出的锁存器正(负)SET脉冲过滤能力分别提高了65.2%(79.0%)和27.2%(49.7%),且对温度波动和工艺偏差不敏感。
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关键词
单粒子瞬态(SET)
单粒子翻转(SEU)
软错误屏蔽
抗辐射加固锁存器
鲁棒性
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职称材料
题名
基于脉冲过滤与时域采样的软错误容忍锁存器设计
1
作者
刘海龙
梁华国
王志
李昕
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
出处
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2018年第2期200-206,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(61674048
61574052)
安徽省自然科学基金资助项目(1608085MF149)
文摘
随着集成电路工艺尺寸和供电电压的降低,导致电路节点的关键电荷相应减小,使得电路对单粒子效应更加敏感。为了更有效地降低电路的软错误,文章提出了一种高可靠的容软错误锁存器。该锁存器利用具有脉冲过滤技术和时域采样技术的SC单元构建反馈回路,能够完全免疫单粒子翻转(single event upset,SEU),并且利用传输路径的延时差过滤单粒子瞬态(single event transient,SET)。仿真结果表明,在相同条件下,与LSEH-1、LSEH-2锁存器相比,该文提出的锁存器正(负)SET脉冲过滤能力分别提高了65.2%(79.0%)和27.2%(49.7%),且对温度波动和工艺偏差不敏感。
关键词
单粒子瞬态(SET)
单粒子翻转(SEU)
软错误屏蔽
抗辐射加固锁存器
鲁棒性
Keywords
single event transient(SET)
single event upset(SEU)
soft error masking
radiation hardened latch
robustness
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
基于脉冲过滤与时域采样的软错误容忍锁存器设计
刘海龙
梁华国
王志
李昕
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2018
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