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我院第二届卫星抗辐射加固技术研究学术交流会在秦皇岛召开
1
作者
曹文海
《航天器工程》
1993年第4期65-65,共1页
今年八月九日至十三日在秦皇岛市由张国富副院长主持召开了"五院第二届卫星抗辐射加固技术研究学术交流会"。国防科工委科技部五局、国防科工委抗辐射加固实体办公室及院内外十二个单位的六十余名代表参加了会议。
关键词
抗辐射加固技术
卫星
学术交流会
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职称材料
面向航空环境的多时钟单粒子翻转故障注入方法
被引量：
5
2
作者
薛茜男
李振
+2 位作者
姜承翔
王鹏
田毅
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2014年第6期1504-1508,共5页
随着新型电子器件越来越多地被机载航电设备所采用,单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)故障已经成为影响航空飞行安全的重大隐患。首先,针对由于单粒子翻转故障的随机性,该文对不同时刻发生的单粒子翻转故障引入了多时钟控制,构建了SE...
随着新型电子器件越来越多地被机载航电设备所采用,单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)故障已经成为影响航空飞行安全的重大隐患。首先,针对由于单粒子翻转故障的随机性,该文对不同时刻发生的单粒子翻转故障引入了多时钟控制,构建了SEU故障注入测试系统。然后模拟真实情况下单粒子效应引发的多时间点故障,研究了单粒子效应对基于FPGA构成的时序电路的影响,并在线统计了被测模块的失效数据和失效率。实验结果表明,对于基于FPGA构建容错电路,采用多时钟沿三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)加固技术可比传统TMR技术提高约1.86倍的抗SEU性能;该多时钟SEU故障注入测试系统可以快速、准确、低成本地实现单粒子翻转故障测试,从而验证了SEU加固技术的有效性。
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关键词
机载电子器件
单粒子翻转(SEU)
故障注入
抗辐射加固技术
FPGA
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职称材料
低面积与低延迟开销的三节点翻转容忍锁存器设计
被引量：
2
3
作者
闫爱斌
申震
+1 位作者
崔杰
黄正峰
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2023年第9期3272-3283,共12页
随着纳米级CMOS集成电路的不断发展,锁存器极易受恶劣的辐射环境影响,由此引发的多节点翻转问题越来越严重。该文提出一种基于双联互锁存储单元(DICE)和2级C单元的3节点翻转(TNU)容忍锁存器,该锁存器包括5个传输门、2个DICE和3个C单元...
随着纳米级CMOS集成电路的不断发展,锁存器极易受恶劣的辐射环境影响,由此引发的多节点翻转问题越来越严重。该文提出一种基于双联互锁存储单元(DICE)和2级C单元的3节点翻转(TNU)容忍锁存器,该锁存器包括5个传输门、2个DICE和3个C单元。该锁存器具有较小的晶体管数量,大大减小了电路的硬件开销,实现低成本。每个DICE单元可用来容忍并恢复单节点翻转,而C单元具有错误拦截特性,可屏蔽由DICE单元传来的错误值。当任意3个节点翻转后,借助DICE单元和C单元,该锁存器可容忍该错误。基于集成电路仿真程序(HSPICE)的仿真结果表明,与先进的TNU加固锁存器设计相比,该锁存器的延迟平均降低了64.65%,延迟功耗面积积平均降低了65.07%。
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关键词
锁存器
3节点翻转
抗辐射加固技术
C单元
双联互锁存储单元
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职称材料
题名
我院第二届卫星抗辐射加固技术研究学术交流会在秦皇岛召开
1
作者
曹文海
机构
不详
出处
《航天器工程》
1993年第4期65-65,共1页
文摘
今年八月九日至十三日在秦皇岛市由张国富副院长主持召开了"五院第二届卫星抗辐射加固技术研究学术交流会"。国防科工委科技部五局、国防科工委抗辐射加固实体办公室及院内外十二个单位的六十余名代表参加了会议。
关键词
抗辐射加固技术
卫星
学术交流会
分类号
F42 [经济管理—产业经济]
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职称材料
题名
面向航空环境的多时钟单粒子翻转故障注入方法
被引量：
5
2
作者
薛茜男
李振
姜承翔
王鹏
田毅
机构
中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室
中国民航大学安全科学与工程学院
出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2014年第6期1504-1508,共5页
基金
国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合资助项目(U1333120)
中央高校基本科研业务费项目(3122013P004)
中国民航大学科研启动基金项目(2012QD26X)资助课题
文摘
随着新型电子器件越来越多地被机载航电设备所采用,单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)故障已经成为影响航空飞行安全的重大隐患。首先,针对由于单粒子翻转故障的随机性,该文对不同时刻发生的单粒子翻转故障引入了多时钟控制,构建了SEU故障注入测试系统。然后模拟真实情况下单粒子效应引发的多时间点故障,研究了单粒子效应对基于FPGA构成的时序电路的影响,并在线统计了被测模块的失效数据和失效率。实验结果表明,对于基于FPGA构建容错电路,采用多时钟沿三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)加固技术可比传统TMR技术提高约1.86倍的抗SEU性能;该多时钟SEU故障注入测试系统可以快速、准确、低成本地实现单粒子翻转故障测试,从而验证了SEU加固技术的有效性。
关键词
机载电子器件
单粒子翻转(SEU)
故障注入
抗辐射加固技术
FPGA
Keywords
FPGA
Airborne electronic device
Fault injection
Radiation hardening technique
FPGA
分类号
TN07 [电子电信—物理电子学]
V524.3 [航空宇航科学与技术—人机与环境工程]
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职称材料
题名
低面积与低延迟开销的三节点翻转容忍锁存器设计
被引量：
2
3
作者
闫爱斌
申震
崔杰
黄正峰
机构
安徽大学计算机科学与技术学院
合肥工业大学微电子学院
出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2023年第9期3272-3283,共12页
基金
国家自然科学基金(62274052,61974001)。
文摘
随着纳米级CMOS集成电路的不断发展,锁存器极易受恶劣的辐射环境影响,由此引发的多节点翻转问题越来越严重。该文提出一种基于双联互锁存储单元(DICE)和2级C单元的3节点翻转(TNU)容忍锁存器,该锁存器包括5个传输门、2个DICE和3个C单元。该锁存器具有较小的晶体管数量,大大减小了电路的硬件开销,实现低成本。每个DICE单元可用来容忍并恢复单节点翻转,而C单元具有错误拦截特性,可屏蔽由DICE单元传来的错误值。当任意3个节点翻转后,借助DICE单元和C单元,该锁存器可容忍该错误。基于集成电路仿真程序(HSPICE)的仿真结果表明,与先进的TNU加固锁存器设计相比,该锁存器的延迟平均降低了64.65%,延迟功耗面积积平均降低了65.07%。
关键词
锁存器
3节点翻转
抗辐射加固技术
C单元
双联互锁存储单元
Keywords
Latch
Triple Node Upset(TNU)
Radiation hardening by design
C-element
Dual-Interlockedstorage-CEll(DICE)
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
我院第二届卫星抗辐射加固技术研究学术交流会在秦皇岛召开
曹文海
《航天器工程》
1993
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
面向航空环境的多时钟单粒子翻转故障注入方法
薛茜男
李振
姜承翔
王鹏
田毅
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2014
5
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
低面积与低延迟开销的三节点翻转容忍锁存器设计
闫爱斌
申震
崔杰
黄正峰
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2023
2
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职称材料
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