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扫描Kelvin探针表面电位特征参数在有机涂层劣化研究中的应用 被引量:3
1
作者 赵增元 吕伟艳 +3 位作者 马永青 张有慧 孔爱民 朱玉婷 《腐蚀与防护》 CAS 北大核心 2014年第10期1033-1036,共4页
为了研究扫描Kelvin探针表面电位技术在有机涂层劣化研究中的应用并选择合理的评价特征参数,结合使用电化学阻抗谱EIS和扫描Kelvin探针(SKP)技术研究了有机涂层在3.5%NaCl溶液中的劣化过程,分析了有机涂层劣化过程中扫描Kelvin探针表面... 为了研究扫描Kelvin探针表面电位技术在有机涂层劣化研究中的应用并选择合理的评价特征参数,结合使用电化学阻抗谱EIS和扫描Kelvin探针(SKP)技术研究了有机涂层在3.5%NaCl溶液中的劣化过程,分析了有机涂层劣化过程中扫描Kelvin探针表面电位分布数特征参数Vmin、Vmax-Vmin的变化规律,并首次提出了表面电位梯度最大值gradmax这个特征参数。结果证明,扫描Kelvin探针特征参数gradmax、Vmin,Vmax-Vmin和电化学阻抗谱具有很好的相关性,扫描Kelvin探针特征参数能够很好地用来评价有机涂层劣化,表面电位梯度最大值gradmax可以用来研究有机涂层下金属腐蚀发生的趋势和速度。 展开更多
关键词 有机涂层 扫描kelvin探针(SKP) 表面电位特征参数 表面电位梯度
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激光核聚变靶表面几何参数扫描探针测量技术 被引量:9
2
作者 孙涛 高党忠 +2 位作者 唐永建 傅依备 董申 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 2002年第4期361-363,共3页
应用改造的原子力显微镜 (AFM )作为传感系统 ,配合精密回转气浮轴系和三维微定位装置 ,实现了对激光核聚变靶球圆周方位形状误差的精密测量。采用该测量技术获得的靶球表面几何参数的测量数据及分析结果可为制靶工艺提供检测手段 。
关键词 激光核聚变靶 表面几何参数 扫描探针 测量技术 原子力显微镜 精密测量 表面形貌
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数字扫描探针显微镜中的DSP技术 被引量:6
3
作者 胡志强 胡志敏 +3 位作者 李永丰 孙洁林 胡钧 李民乾 《电子显微学报》 CAS CSCD 2000年第1期65-68,共4页
本文介绍了我们研制数字SPM仪器时在DSP芯片选型、SPMDSP插卡设计、开发工具、DSP软件及其基本算法方面的考虑和解决方案,并简介一种采用德州仪器公司TMS320C50DSP芯片设计的SPM仪器。该仪器已实现STM模式、接触AFM模式、非接触AFM模式... 本文介绍了我们研制数字SPM仪器时在DSP芯片选型、SPMDSP插卡设计、开发工具、DSP软件及其基本算法方面的考虑和解决方案,并简介一种采用德州仪器公司TMS320C50DSP芯片设计的SPM仪器。该仪器已实现STM模式、接触AFM模式、非接触AFM模式,并具有和多种SPM头部接口的开放性结构。 展开更多
关键词 DSP技术 DSP插卡 数据通讯 数字扫描探针显微镜
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扫描探针技术在食品大分子纳米结构领域的应用 被引量:3
4
作者 邓云 肖晨龙 +1 位作者 朱立伟 罗文 《农业工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期280-287,共8页
简介了扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和扫描近场显微术(SNOM)的基本原理并比较了其优缺点,重点阐述了STM、AFM和SNOM在食品中多糖、淀粉、蛋白质和脂质等大分子微观形貌和纳米结构的表征和操纵方面的研究发现和成果,表明高清... 简介了扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和扫描近场显微术(SNOM)的基本原理并比较了其优缺点,重点阐述了STM、AFM和SNOM在食品中多糖、淀粉、蛋白质和脂质等大分子微观形貌和纳米结构的表征和操纵方面的研究发现和成果,表明高清晰度、高分辨率的STM、AFM和SNOM非常适于食品中大分子在系统保持原生态或者不同状态条件下进行纳米级的结构研究。不断发展的扫描探针显微技术在食品工业中具有巨大发展潜力和广泛应用前景。 展开更多
关键词 食品 纳米结构 扫描探针技术 应用 生物大分子
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近场扫描光学显微镜及其探针技术研究新进展 被引量:2
5
作者 项仕标 张天浩 +4 位作者 苏玉玲 项顼 吴朝晖 田臻锋 张春平 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期119-124,共6页
对近场扫描光学显微技术 (NSOM)研究与应用新进展作了概括介绍 ,较详细地阐述了NSOM的关键部件———探针技术的发展 ,并对NSOM的前景作了展望。
关键词 近场扫描光学显微镜 近场扫描光学显微技术 光纤探针 无孔探针 分辨率
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扫描Kelvin探针力显微镜:工作原理及在材料腐蚀研究中的应用 被引量:3
6
作者 宋博 陈旭 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第7期1151-1157,共7页
扫描Kelvin探针力显微镜(SKPFM)是在原子力显微镜(AFM)的基础上应用扫描Kelvin探针(SKP)技术开发的检测表征手段,它能够在获取材料表面纳米级分辨率形貌的同时,原位得到样品表面高分辨率的接触电势差分布图,为揭示腐蚀反应机理提供了崭... 扫描Kelvin探针力显微镜(SKPFM)是在原子力显微镜(AFM)的基础上应用扫描Kelvin探针(SKP)技术开发的检测表征手段,它能够在获取材料表面纳米级分辨率形貌的同时,原位得到样品表面高分辨率的接触电势差分布图,为揭示腐蚀反应机理提供了崭新的思路,近年来发展迅速。本文介绍了SKPFM两种工作模式的基本原理,总结了SKPFM在应用中的问题,并讨论了SKPFM和传统扫描Kelvin探针技术(SKP)的优缺点,重点综述了SKPFM在腐蚀科学研究中的应用,最后展望了SKPFM的发展方向与应用前景。 展开更多
关键词 扫描kelvin探针力显微镜 原子力显微镜 伏打电位差 腐蚀 工作原理
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电子探针的样品台扫描成像技术 被引量:5
7
作者 田地 李艳平 +2 位作者 范国传 王微 于前洋 《电子显微学报》 CAS CSCD 2000年第5期743-746,共4页
用微型计算机与电子探针控制机通讯 ,实现对各道波谱仪和样品台的实时控制 ,以及对各道定标器的数据采集 ;在选定的样品区域上设定采样步长和时间 ,边移动样品台边采集各道 X射线强度 ;用伪彩色、三维视图和内插放大等方式显示图像 ,解... 用微型计算机与电子探针控制机通讯 ,实现对各道波谱仪和样品台的实时控制 ,以及对各道定标器的数据采集 ;在选定的样品区域上设定采样步长和时间 ,边移动样品台边采集各道 X射线强度 ;用伪彩色、三维视图和内插放大等方式显示图像 ,解决了低倍 X射线像失真问题 ,观察到了辉石的隐环带等现象。 展开更多
关键词 电子探针 图像采集 计算机 样品台 扫描成像技术
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扫描电镜/电子探针中的阴极发光技术在地质学中的某些应用研究 被引量:8
8
作者 陈振宇 周剑雄 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期463-463,共1页
关键词 地质学 扫描电子显微镜 电子探针 阴极发光技术 矿物分析
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扫描核探针技术及其地学应用进展 被引量:5
9
作者 王晓红 王毅民 《地学前缘》 EI CAS CSCD 2003年第2期395-402,共8页
扫描核探针技术作为一种重要的微区原位无损痕量分析手段 ,广泛应用于地学与环境、生物与医学、微电子、材料与冶金科学以及艺术与考古学等研究领域。文中简介该技术在仪器装置、分析技术到地学应用方面的新进展 ,并将之与其他微区分析... 扫描核探针技术作为一种重要的微区原位无损痕量分析手段 ,广泛应用于地学与环境、生物与医学、微电子、材料与冶金科学以及艺术与考古学等研究领域。文中简介该技术在仪器装置、分析技术到地学应用方面的新进展 ,并将之与其他微区分析技术的性能特点进行了对比 ,最后讨论了该技术的未来发展和更广泛的地学应用问题。 展开更多
关键词 扫描探针技术 无损痕量分析 地学 环境 考古学 生物 医学 材料 仪器装置
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扫描探针技术的进展
10
作者 姜斌 恽正中 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第S1期83-83,共1页
扫描探针技术的进展姜斌,恽正中(电子科技大学信息材料工程学院)扫描探针技术(ScanningProbeTechnique,SPT)由扫描探针显微镜(SPM)和扫描探针谱(SPS)组成。这种技术既能观察表面电子和原子结... 扫描探针技术的进展姜斌,恽正中(电子科技大学信息材料工程学院)扫描探针技术(ScanningProbeTechnique,SPT)由扫描探针显微镜(SPM)和扫描探针谱(SPS)组成。这种技术既能观察表面电子和原子结构及其动力学过程,又能对原子、分子... 展开更多
关键词 扫描探针技术 扫描隧道显微镜 扫描探针显微镜 表面形貌 原子力显微镜 超导量子干涉器件 弹道电子发射显微镜 纳米尺度 电子科技大学 原子尺度
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扫描探针显微镜的纳米尺度表面改性和微细加工技术
11
作者 赵玉清 唐天同 徐蛟 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第8期67-72,77,共7页
本文较全面地讨论了近几年来国外有关利用扫描探针显微镜进行纳米尺度表面改性和微细加工工作的现状和发展,重点讨论纳米尺寸光刻制板技术的发展.最后,本文简要介绍本课题组利用扫描隧道显微镜进行纳米尺度曝光的有关工作,希望引起... 本文较全面地讨论了近几年来国外有关利用扫描探针显微镜进行纳米尺度表面改性和微细加工工作的现状和发展,重点讨论纳米尺寸光刻制板技术的发展.最后,本文简要介绍本课题组利用扫描隧道显微镜进行纳米尺度曝光的有关工作,希望引起更多科技工作者的重视,以便进一步推进我国在纳米技术领域的发展. 展开更多
关键词 扫描探针技术 微细加工技术 集成电路
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扫描探针技术材料表面微形貌定量研究综述
12
作者 李所在 廖立兵 白春礼 《地质科技情报》 CAS CSCD 北大核心 1996年第1期75-78,共4页
介绍了扫描探针显微镜(SPM)技术及其在材料表面微形貌定量研究方面的应用现状,指出了SPM在这方面研究的不足之处以及SPM技术在表面微形貌定量研究方面的应用前景。
关键词 扫描探针显微镜 表面微形貌 表面粗糙度 SPM技术 工作原理 材料
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扫描电化学微探针的发展及其在局部腐蚀研究中的应用 被引量:13
13
作者 林昌健 李彦 +4 位作者 林斌 胡融刚 张敏 卓向东 杜荣归 《电化学》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期121-128,共8页
简要概述当前国内外具有空间分辨能力的扫描微探针技术及其在腐蚀研究中的应用,包括扫描微电极技术(SMET)、扫描电化学显微镜(SECM)、原子力显微镜(AFM)、扫描Kelvin探针技术(SKP)等,其中SMET、SECM、SKP及局部交流阻抗技术可直接测定... 简要概述当前国内外具有空间分辨能力的扫描微探针技术及其在腐蚀研究中的应用,包括扫描微电极技术(SMET)、扫描电化学显微镜(SECM)、原子力显微镜(AFM)、扫描Kelvin探针技术(SKP)等,其中SMET、SECM、SKP及局部交流阻抗技术可直接测定腐蚀电极表面或界面电化学不均一性的分布图像,而原子力显微镜技术则是通过分子间作用力从纳米尺寸测量腐蚀过程表面形貌的变化.文中侧重介绍作者近年先后建立的具有微米空间分辨度的电化学微探针技术,并利用各种扫描探针技术研究金属/溶液界面电化学不均一性及其局部腐蚀过程.研究表明,空间分辨电化学方法的发展及应用,加深了人们对金属表面和金属/溶液界面电化学不均一性,特别是金属局部腐蚀发生、发展及过程机理的认识. 展开更多
关键词 扫描微电极技术 扫描隧道显微镜 扫描电化学显微镜 扫描kelvin探针 腐蚀
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扫描探针显微术的应用(综述) 被引量:5
14
作者 蔡继业 曾洁铭 +1 位作者 王煜 曾耀英 《暨南大学学报(自然科学与医学版)》 CAS CSCD 2001年第3期91-95,共5页
扫描探针显微镜 (SPM)是扫描隧道显微镜 (STM)、原子力显微镜 (AFM)、近场光学显微镜(SNOM)等近几年发展起来的新型显微镜的总称 .SPM的发展使得在纳米尺度上研究物质的特性和相互作用成为可能 ,它为生物。
关键词 扫描探针显微镜 原子力显微镜 扫描隧道显微镜 近场光学显微镜 纳米科学技术
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扫描探针显微镜系列及其应用综述 被引量:16
15
作者 田文超 贾建援 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期108-112,共5页
扫描探针显微镜将人类带入原子世界,使人类不仅能够观察到物质表面原子的排布情况,而且能够按照人类的意图实现原子操纵.回顾了扫描探针显微镜的历史,介绍了目前国际上各种系列的扫描探针显微镜基本原理、主要特点、研究现状和最新应用... 扫描探针显微镜将人类带入原子世界,使人类不仅能够观察到物质表面原子的排布情况,而且能够按照人类的意图实现原子操纵.回顾了扫描探针显微镜的历史,介绍了目前国际上各种系列的扫描探针显微镜基本原理、主要特点、研究现状和最新应用情况,重点介绍了原子操纵和生命科学、信息科学领域的应用,提出了扫描探针显微镜目前的研究方向. 展开更多
关键词 扫描探针显微镜 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 原子操纵 纳米技术 PDM NSOM SPM
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扫描静电力显微镜及其电荷捕获/释放技术 被引量:3
16
作者 王志勇 张鸿海 +2 位作者 鲍剑斌 郭文明 汪学方 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期232-237,共6页
介绍扫描静电力显微测量及用其实现电荷捕获释放的技术现状、发展动向 ,以及关键技术的一些最新成果。前者已被广泛应用于测量半导体表面电荷密度分布、表面电势以及铁电材料铁电体结构的研究中 ;后者可望用于研制速度和存贮容量都比现... 介绍扫描静电力显微测量及用其实现电荷捕获释放的技术现状、发展动向 ,以及关键技术的一些最新成果。前者已被广泛应用于测量半导体表面电荷密度分布、表面电势以及铁电材料铁电体结构的研究中 ;后者可望用于研制速度和存贮容量都比现在提高成千上万倍的量子器件。最后 。 展开更多
关键词 扫描探针显微镜 扫描力显微镜 静电力显微镜 电荷存储 捕获释放技术 扫描静电力显微镜 量子器件 测量技术 铁电材料 半导体 微晶振
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用扫描探针显微镜测量材料表面电学和磁学特性 被引量:1
17
作者 王秀凤 《实验技术与管理》 CAS 2003年第4期13-17,共5页
扫描探针显微镜是用于测量材料表面不同性质的一类仪器.扫描探针显微镜在测量材料表面电学和磁学特性方面的测量技术发展较快.本文简要介绍了电场力显微镜、磁力显微镜的测量原理,着重对新发展的测量技术的原理及应用进行了描述.
关键词 扫描探针显微镜 电场力显微镜 磁力显微镜 测量技术 材料
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纳米生物领域对光纤探针技术的要求
18
作者 顾书龙 张宏彬 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2003年第1期154-158,共5页
扫描近场光学显微镜由于其超过常规光学显微镜的光学分辨能力及特殊功能,正在受到生命科学研究人员越来越多的关注。用时域有限差分法对三维光纤探针的Maxwell方程直接进行求解,获得了光纤探针的光强分布。计算结果表明,光纤探针中的光... 扫描近场光学显微镜由于其超过常规光学显微镜的光学分辨能力及特殊功能,正在受到生命科学研究人员越来越多的关注。用时域有限差分法对三维光纤探针的Maxwell方程直接进行求解,获得了光纤探针的光强分布。计算结果表明,光纤探针中的光强分布呈固定的花样图形,其图形形状与光的偏振及针尖的结构有关,故对腐蚀锥和熔拉锥的传输特性进行分析比较,提出了在纳米生物领域对光纤探针的技术要求。 展开更多
关键词 光纤探针技术 纳米生物领域 传输特性 扫描近场光学显微镜 SNOM
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用于纳米制造具有xyz微定位的扫描探针显微镜
19
作者 张鸿海 曹伟 +1 位作者 师汉民 陈日曜 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第S1期381-381,共1页
用于纳米制造具有xyz微定位的扫描探针显微镜张鸿海,曹伟,师汉民,陈日曜(华中理工大学)扫描探针显微镜已广泛用于纳米级尺度的检测,同时也能用于在半导体表面上产生纳米级的结构,即用于纳米级的制造技术。尽管纳米制造可用成... 用于纳米制造具有xyz微定位的扫描探针显微镜张鸿海,曹伟,师汉民,陈日曜(华中理工大学)扫描探针显微镜已广泛用于纳米级尺度的检测,同时也能用于在半导体表面上产生纳米级的结构,即用于纳米级的制造技术。尽管纳米制造可用成像的SPM来实现,但二者的设计要求... 展开更多
关键词 纳米制造 微定位器 扫描探针显微镜 行走机构 纳米级 高定向石墨 位移分辨率 表面成像 制造技术 华中理工大学
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制备扫描近场光学显微镜光纤探针的自动化腐蚀方法
20
作者 杨永斌 徐文东 罗继全 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期1962-1966,共5页
提出了一种制备扫描近场光学显微镜光纤探针的自动化腐蚀方案.该方案利用静态腐蚀过程中光纤所形成的特殊结构,及动态腐蚀过程中光纤在氢氟酸中的移动所带来的新月形弯液面在光纤表面接触位置的变化,通过合理控制腐蚀时间来制备尖端锐... 提出了一种制备扫描近场光学显微镜光纤探针的自动化腐蚀方案.该方案利用静态腐蚀过程中光纤所形成的特殊结构,及动态腐蚀过程中光纤在氢氟酸中的移动所带来的新月形弯液面在光纤表面接触位置的变化,通过合理控制腐蚀时间来制备尖端锐利、大锥角或多锥体角等各种结构的探针.设计方案采用计算机控制整个装置实现了探针制备过程的自动化,保持了腐蚀光纤探针实验条件的一致性.实验结果表明,采用此方案可以制备出尖端孔径小于100nm且锥体角高达70°的光纤探针,且重复性高.此外,该方案的装置结构简单,实现容易. 展开更多
关键词 扫描探针技术 扫描近场光学显微镜 光纤探针 化学腐蚀法
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