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多臂组织的复合设计法及图形扫描设计法 被引量:5
1
作者 张红霞 祝成炎 《丝绸》 CAS 北大核心 2002年第11期32-33,共2页
运用自行研制开发的CAD系统 ,介绍了多臂组织复合设计法和图形扫描组织设计法 ,以供参考。
关键词 多臂组织 复合设计 图形扫描设计 计算机辅助设计 织物设计
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全扫描设计中多扫描链的构造 被引量:2
2
作者 李兆麟 叶以正 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期90-93,共4页
本文在交迭测试体系[2 ,3] 的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法 ,对于确定的测试向量集能够显著地减少测试应用时间 .该构造方法根据规定的扫描链数 ,通过求解线性规划问题的方法确定扫描寄存器在扫描链上的优化的分布区间 ,从而... 本文在交迭测试体系[2 ,3] 的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法 ,对于确定的测试向量集能够显著地减少测试应用时间 .该构造方法根据规定的扫描链数 ,通过求解线性规划问题的方法确定扫描寄存器在扫描链上的优化的分布区间 ,从而构造多扫描链 ,最后根据对多扫描链进行连线复杂度的定性分析 。 展开更多
关键词 扫描 集成电路 扫描设计
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基于电路状态信息和冲突分析的部分扫描设计
3
作者 向东 刘鑫 徐奕 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第1期124-130,共7页
该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器。该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息。当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度。... 该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器。该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息。当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度。该方法致力于消除冲突,并使用了一种基于冲突分析的测度conflict.足够的实验结果表明该方法是非常有效的。 展开更多
关键词 电路状态信息 冲突分析 扫描设计 大规模集成电路 高度时序化 有效状态
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针对客户定制高分辨率子波的可控震源扫描信号设计方法
4
作者 聂振波 王华忠 +1 位作者 盛燊 许荣伟 《石油物探》 北大核心 2025年第2期199-217,共19页
随着“两宽一高”地震数据采集技术及地震波成像技术的进步,薄层、小尺度(缝洞)异常体、小断距断层(走滑断层)等成为了高保真高分辨地震波成像的主要目标地质体。当前地震勘探中,合理的观测系统设计得到了充分的关注,但如何实现客户定... 随着“两宽一高”地震数据采集技术及地震波成像技术的进步,薄层、小尺度(缝洞)异常体、小断距断层(走滑断层)等成为了高保真高分辨地震波成像的主要目标地质体。当前地震勘探中,合理的观测系统设计得到了充分的关注,但如何实现客户定制高分辨率子波却很少被讨论。可控震源理论上是在频率时间域通过单频时间能量累计得到期望地震子波振幅谱的一种震源。基于此,提出了客户定制高分辨率地震子波及对应的扫描信号的概念,基本流程为:首先在特定目标层上生成(或客户定制)一个满足保真分辨率要求的零相位子波,同时得到其对应的振幅谱;然后建立定制子波振幅谱和可控震源扫描信号之间的映射关系;最后在扫描频率线性变化情况下,设计出可控震源扫描信号。公式推导和数据测试均证明了基于定制高分辨率子波来设计可控震源扫描信号的可行性。正演模拟和偏移试验结果表明,利用定制的高分辨率子波可以有效保持后续处理资料的高分辨率特征。 展开更多
关键词 高分辨率地震勘探 地震数据采集 可控震源 高分辨子波设计 扫描信号设计
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部分扫描可测性设计中扫描链的构造
5
作者 叶波 郭辉 郑增钰 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第2期40-45,共6页
提出了时序电路的部分扫描法可测性设计中扫描链的构造方法,包括扫描链的选取、扫描链的排序、多链扫描设计三部分内容。采用组合等效电路的方法求测试向量,并用实例进行了验证。模拟结果表明,选取20%~40%的触发器至扫描链,... 提出了时序电路的部分扫描法可测性设计中扫描链的构造方法,包括扫描链的选取、扫描链的排序、多链扫描设计三部分内容。采用组合等效电路的方法求测试向量,并用实例进行了验证。模拟结果表明,选取20%~40%的触发器至扫描链,用较少的测试向量,可达到很理想的故障覆盖率。 展开更多
关键词 扫描设计 扫描 多链扫描 VLSI
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浅谈“三维扫描与创新设计”课程开发
6
作者 黄斌斌 梁艳娟 吴坚 《现代信息科技》 2019年第22期166-168,共3页
本文主要对“三维扫描与创新设计”课程的开发进行探讨,以笔者单位机械设计与制造专业教学标准以及该课程的课程标准为主要开发依据,在课程教学目标设计、课程教学内容设计、课程教法与学法设计这三个方面展开论述,课程开发过程体现了... 本文主要对“三维扫描与创新设计”课程的开发进行探讨,以笔者单位机械设计与制造专业教学标准以及该课程的课程标准为主要开发依据,在课程教学目标设计、课程教学内容设计、课程教法与学法设计这三个方面展开论述,课程开发过程体现了课程整改的最新要求,以“行动导向驱动”为主要课程教学方法,有效提升了教学效果,以“合作探究法”为主要学习手段,提高了学生的自主学习能力,为类似课程开发提供了可借鉴的宝贵实践经验。 展开更多
关键词 三维扫描与创新设计 课程开发 教学内容
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基于Optimate的进气道性能设计扫描
7
作者 杨文乐 王志磊 +2 位作者 张峰昌 葛少虎 范利格 《内燃机与配件》 2017年第10期8-9,共2页
通过STAR-CCM+软件自带的Optimate模块直接驱动CAD进行几何变化,从而自动进行网格重构自动提交计算,并能自动输出计算结果,相比于手动调整气门升程的进气道性能计算来说,此方法能够快速自动进行进气道性能的设计扫描。
关键词 STAR-CCM+ Optimate 自动 进气道性能 设计扫描
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考虑测试功耗的扫描链划分新方法 被引量:1
8
作者 王冠军 赵莹 王茂励 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2010年第1期144-146,150,共4页
提出考虑测试功耗的扫描链划分新方法.首先为基于扫描设计电路的峰值测试功耗和平均功耗建模,得出测试功耗主要由内部节点的翻转引起的结论,因此考虑多条扫描链情况,从输入测试集中寻找相容测试单元,利用扫描单元的兼容性,并考虑布局信... 提出考虑测试功耗的扫描链划分新方法.首先为基于扫描设计电路的峰值测试功耗和平均功耗建模,得出测试功耗主要由内部节点的翻转引起的结论,因此考虑多条扫描链情况,从输入测试集中寻找相容测试单元,利用扫描单元的兼容性,并考虑布局信息,将其分配到不同的扫描链中共享测试输入向量,多扫描链的划分应用图论方法.在ISCAS89平台上的实验结果表明,有效降低了峰值测试功耗和平均测试功耗. 展开更多
关键词 基于扫描设计 扫描 测试功耗 兼容扫描单元
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边界扫描技术在故障信息处理中的应用 被引量:3
9
作者 王志林 于秀金 +1 位作者 王永岭 曹亮杰 《西安邮电学院学报》 2010年第3期47-50,共4页
边界扫描技术广泛应用于电路可测试性设计,在故障信息处理测试设计中尝试融入边界扫描技术,采用扫描器件直接替换、扫描结构置入等方法。通过仿真试验表明该设计方法可行,经过系统硬件测试,证明边界扫描技术能够有效提高故障信息处理能力。
关键词 边界扫描技术 JTAG 边界扫描设计
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SOC芯片DFT研究与设计
10
作者 杨兵 魏敬和 +1 位作者 王国章 虞致国 《电子与封装》 2009年第1期28-31,45,共5页
文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理,包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理。然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架... 文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理,包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理。然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架设计和具体实现方法。主要包括:含有边界扫描BSD嵌入式处理器的边界扫描BSD设计,超过8条内嵌扫描链路的内部扫描SCAN设计,超过4个存储器硬IP的存储器自测试MBIST,以及基于嵌入式处理器总线的功能测试方法。最后提出了该SOC系统DFT设计的不足。 展开更多
关键词 系统芯片 边界扫描设计 存储器测试 扫描 可测性设计
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VLSI可测性设计研究 被引量:7
11
作者 杜俊 赵元富 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2004年第10期189-192,共4页
从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨... 从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。 展开更多
关键词 可测性设计 自动测试生成 扫描设计 边界扫描技术 嵌入式自测试 测试外壳 模拟测试总线
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SOC中嵌入式存储器阴影逻辑的可测性设计 被引量:2
12
作者 施文龙 林伟 《电子器件》 CAS 北大核心 2012年第3期317-321,共5页
在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设... 在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设计,为阴影逻辑提供了可测试路径,提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率。分析了设计的功耗、面积,确定了设计的有效性。 展开更多
关键词 可测性设计 扫描设计 阴影逻辑 故障覆盖率 自动测试图形生成
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基于SOC的PAGER控制芯片设计
13
作者 高军 周锦锋 倪光南 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2002年第6期61-64,共4页
文章讨论了PAGER控制器芯片(ZQD021)的系统设计,该控制器内部集成了FLASH,SRAM、POCSAG协议解码器和嵌入式MCUCORE。重点分析了芯片的可测性设计(DFT)、内嵌FLASH设计、低功耗设计。其设计方法和思路对消费类和嵌入式控制芯片的设计有... 文章讨论了PAGER控制器芯片(ZQD021)的系统设计,该控制器内部集成了FLASH,SRAM、POCSAG协议解码器和嵌入式MCUCORE。重点分析了芯片的可测性设计(DFT)、内嵌FLASH设计、低功耗设计。其设计方法和思路对消费类和嵌入式控制芯片的设计有一定的借鉴意义。 展开更多
关键词 SOC PAGER控制芯片 设计 系统级芯片 可测性设计 扫描设计 低功耗设计 数字电路
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基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法研究 被引量:1
14
作者 卢新元 陈华军 +1 位作者 许超 王剑 《高技术通讯》 EI CAS 北大核心 2020年第9期875-883,共9页
研究了针对加密电路的扫描旁路攻击方法和安全扫描设计技术,考虑到现有的安全扫描设计存在故障覆盖率损失或者抵抗攻击性不足的问题,提出一种新的基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法。该方法充分利用功能指令序列多样性和高复杂度的特点... 研究了针对加密电路的扫描旁路攻击方法和安全扫描设计技术,考虑到现有的安全扫描设计存在故障覆盖率损失或者抵抗攻击性不足的问题,提出一种新的基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法。该方法充分利用功能指令序列多样性和高复杂度的特点,通过功能指令序列对测试模式进行授权,将测试模式分为非安全测试模式和安全测试模式。非安全测试模式下,加密电路的密钥被屏蔽,无法通过扫描测试获取。安全测试模式下,加密电路可以进行正常的扫描测试。实验结果表明,采用上述基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法的电路后,不仅可以保证安全测试模式下扫描测试故障覆盖率不变,而且非安全测试模式下攻击者无法通过现有的攻击方式获取密钥。同原始电路相比,该方法只需要添加极少的硬件电路,面积开销仅为0.3%。 展开更多
关键词 扫描旁路攻击 密钥 功能指令 安全测试模式 扫描设计
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可测性设计的过去,现在及未来
15
作者 王信博 《中国集成电路》 2002年第7期19-23,共5页
自有IC产业以来,如何以最经济,最有效的方式测试IC,而且获得不错的测试品质,始终是非常重要的课题。不管是内存,逻辑产品,还是模拟电路都有这个问题。大约在25年前,开始有人希望以更有系统,更有效率的方式(可测性设计)来处理。在此之前... 自有IC产业以来,如何以最经济,最有效的方式测试IC,而且获得不错的测试品质,始终是非常重要的课题。不管是内存,逻辑产品,还是模拟电路都有这个问题。大约在25年前,开始有人希望以更有系统,更有效率的方式(可测性设计)来处理。在此之前,IC设计者必须根据自己的经验在一些特别的电路中加上测试点以作控制或观察。许多实用的可测性设计辅助程序大约从1990年开始发展。到如今,几乎所有先进制程的产品都必须使用Scan以及BIST(Built-in-self-Test)。许多产品还需要更新的技术来满足不断提升测试品质的要求,并且必须能以可接受的成本达到此目标。这篇文章提到许多现有DFT运用的方式,并讨论在扫描合成(scan synthesis),内建自我测试(BIST),自动测试图形产生程序(automatic test pattern generation),及错误仿真(fault simulation)各方面的进展。最后并提出最佳的DFT/BIST整合设计流程、每个环节该注意的项目、以及如何将此流程应用在大型的、复杂的系统级芯片(system-on-chip)组件,以及DFT面临的新问题及可能的解决方案。 展开更多
关键词 可测性设计 测试图形 测试时间 产生程序 可测性分析 扫描设计 模拟电路 组件 合成 时程
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高频锁相环的可测性设计 被引量:1
16
作者 周红 陈晓东 《电子与封装》 2005年第8期23-26,共4页
本文针对一款应用于大规模集成电路的CMOS高频锁相环,基于边界扫描技术进行了可测性设计。详细讨论了最高输出频率、输出频率范围和锁定时间参数的测试,给出了详细的测试电路和测试方法,仿真结果表明该方法有效可行。
关键词 可测性设计:边界扫描 锁相环 高频
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单片机控制的LED点阵书写显示屏设计
17
作者 赖世基 《数字技术与应用》 2010年第7期70-70,共1页
设计、制作一个基于32×32点阵LED模块的书写显示屏,该书写显示屏在光笔和控制器的作用下,能在屏上实现点亮、划亮、反显、整屏擦除、笔画擦除、连写多字。
关键词 LED点阵书写显示屏扫描光笔软硬件设计方案单片机
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惠普多功能一体机officejet 5110
18
《消费电子》 2003年第Z1期114-114,共1页
市场背景 在生活节奏日益加快、竞争日趋激烈的现代社会,自然、简单、快捷的产品逐渐成为人们的新宠,集打印、扫描、复印和传真于一身的多功能一体机早已吸引了小型企业和家庭办公族的目光,针对其特点,性能全面、节省空间的多功能一体... 市场背景 在生活节奏日益加快、竞争日趋激烈的现代社会,自然、简单、快捷的产品逐渐成为人们的新宠,集打印、扫描、复印和传真于一身的多功能一体机早已吸引了小型企业和家庭办公族的目光,针对其特点,性能全面、节省空间的多功能一体机的出现成为了必然趋势。同时也成为各大生产厂商的兵家必争之所。 展开更多
关键词 一体机 Office 输出分辨率 惠普 节省空间 扫描设计 现代社会 小型企业 生产厂商 家庭办公
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TEST OF BOARD-LEVEL BOUNDARY SCAN INTEGRITY
19
作者 臧春华 《Transactions of Nanjing University of Aeronautics and Astronautics》 EI 1998年第2期121-127,共7页
The IEEE Standard 1149.1 boundary scan (BS) implementation provides the internal access required for testing the digital printed circuit board (PCB). However, the integrity of the boundary scan test infrastructure sh... The IEEE Standard 1149.1 boundary scan (BS) implementation provides the internal access required for testing the digital printed circuit board (PCB). However, the integrity of the boundary scan test infrastructure should be tested first to guarantee the validation of the results of the rest functional test and diagnosis. This paper describes the fault models and test principles of the BS test access port (TAP) lines on PCBs. A test algorithm with high fault coverage and short time is then presented for the PCB on which all ICs are BS ones. 展开更多
关键词 fault detection digital integrated circuits test circuits boundary scan design board test
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Research of Board-Level BIT Technology Based on Boundary-Scan Architecture
20
作者 付瑞平 程红 贺益辉 《Journal of China University of Mining and Technology》 2001年第2期188-191,共4页
The boundary scan architecture and its basic principle of board level built in test(BIT) technology are presented. A design for board level built in test and the method to implement test tool are brought forward.
关键词 boundary scan architecture board level built in test test technology design for testability fault diagnosis
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