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原子分辨显微分析技术研究进展 被引量:6
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作者 袁秉凯 陈鹏程 +3 位作者 仉君 程志海 裘晓辉 王琛 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2013年第7期1370-1384,共15页
非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速.NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨.NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍NC-... 非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速.NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨.NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍NC-AFM和qPlus传感器的基本原理,然后讨论原子尺度的相互作用力和短程力的精确测量,总结近年来NC-AFM在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以及原子操纵技术中的研究进展,并讨论了开尔文探针力显微技术(KPFM)在局域接触势差(LCPD)测量方面的应用.最后展望了NC-AFM面临的挑战和发展机遇. 展开更多
关键词 扫描探针显微技术 非接触原子力技术 qPlus传感器 化学识别 原子操纵 电子结构 开尔文探针技术
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扫描近场声显微镜用于光盘表面薄膜结构的研究 被引量:2
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作者 徐平 蔡微 +2 位作者 余威 钱建强 姚骏恩 《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第4期313-315,共3页
介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合。文中介绍了这种SNAM的结构、基... 介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合。文中介绍了这种SNAM的结构、基本工作原理和检测方法,并给出了具体的实验结果。 展开更多
关键词 超声检测技术 扫描探针显微技术 扫描近场声 CD—R光盘膜
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眼镜、放大镜、显微镜及显微术
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《中国光学》 EI CAS 1997年第1期93-94,共2页
TH742 97010647液中测量型原子力显微镜的研究=The study onthe atomic force microscope(AFM)in liquid[刊,中]/刘庆纲,叶声华(天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室.天津(300072)),清野彗。
关键词 原子力 天津大学 激光扫描 固有频率 测试技术 力传感器 国家重点实验室 光子扫描隧道 精密工程 扫描探针显微技术
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