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原子分辨显微分析技术研究进展
被引量:
6
1
作者
袁秉凯
陈鹏程
+3 位作者
仉君
程志海
裘晓辉
王琛
《物理化学学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
2013年第7期1370-1384,共15页
非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速.NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨.NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍NC-...
非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速.NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨.NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍NC-AFM和qPlus传感器的基本原理,然后讨论原子尺度的相互作用力和短程力的精确测量,总结近年来NC-AFM在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以及原子操纵技术中的研究进展,并讨论了开尔文探针力显微技术(KPFM)在局域接触势差(LCPD)测量方面的应用.最后展望了NC-AFM面临的挑战和发展机遇.
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关键词
扫描探针显微技术
非接触原子力
显
微
技术
qPlus传感器
化学识别
原子操纵
电子结构
开尔文
探针
力
显
微
技术
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职称材料
扫描近场声显微镜用于光盘表面薄膜结构的研究
被引量:
2
2
作者
徐平
蔡微
+2 位作者
余威
钱建强
姚骏恩
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第4期313-315,共3页
介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合。文中介绍了这种SNAM的结构、基...
介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合。文中介绍了这种SNAM的结构、基本工作原理和检测方法,并给出了具体的实验结果。
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关键词
超声检测
技术
扫描探针显微技术
扫描
近场声
显
微
镜
CD—R光盘膜
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职称材料
眼镜、放大镜、显微镜及显微术
3
《中国光学》
EI
CAS
1997年第1期93-94,共2页
TH742 97010647液中测量型原子力显微镜的研究=The study onthe atomic force microscope(AFM)in liquid[刊,中]/刘庆纲,叶声华(天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室.天津(300072)),清野彗。
关键词
原子力
显
微
镜
天津大学
激光
扫描
显
微
镜
固有频率
测试
技术
力传感器
国家重点实验室
光子
扫描
隧道
显
微
镜
精密工程
扫描探针显微技术
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职称材料
题名
原子分辨显微分析技术研究进展
被引量:
6
1
作者
袁秉凯
陈鹏程
仉君
程志海
裘晓辉
王琛
机构
国家纳米科学中心
北京大学前沿交叉学科研究院
出处
《物理化学学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
2013年第7期1370-1384,共15页
基金
国家重大科学研究计划(2012CB933001)
国家自然科学基金(21173058)资助~~
文摘
非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速.NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨.NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍NC-AFM和qPlus传感器的基本原理,然后讨论原子尺度的相互作用力和短程力的精确测量,总结近年来NC-AFM在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以及原子操纵技术中的研究进展,并讨论了开尔文探针力显微技术(KPFM)在局域接触势差(LCPD)测量方面的应用.最后展望了NC-AFM面临的挑战和发展机遇.
关键词
扫描探针显微技术
非接触原子力
显
微
技术
qPlus传感器
化学识别
原子操纵
电子结构
开尔文
探针
力
显
微
技术
Keywords
Scanning probe microscopy
Non-contact atomic force microscopy
qPlus sensor
Chemical identification
Atomic manipulation
Electronic structure
Kelvin probe forcemicroscopy
分类号
O657 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
扫描近场声显微镜用于光盘表面薄膜结构的研究
被引量:
2
2
作者
徐平
蔡微
余威
钱建强
姚骏恩
机构
北京航空航天大学理学院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第4期313-315,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.10427401)~~
文摘
介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合。文中介绍了这种SNAM的结构、基本工作原理和检测方法,并给出了具体的实验结果。
关键词
超声检测
技术
扫描探针显微技术
扫描
近场声
显
微
镜
CD—R光盘膜
Keywords
ultrasonic detection technology
scanning probe microscopy
scanning near field acoustic microscope
CD-R film
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
TG115.215.7 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
眼镜、放大镜、显微镜及显微术
3
出处
《中国光学》
EI
CAS
1997年第1期93-94,共2页
文摘
TH742 97010647液中测量型原子力显微镜的研究=The study onthe atomic force microscope(AFM)in liquid[刊,中]/刘庆纲,叶声华(天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室.天津(300072)),清野彗。
关键词
原子力
显
微
镜
天津大学
激光
扫描
显
微
镜
固有频率
测试
技术
力传感器
国家重点实验室
光子
扫描
隧道
显
微
镜
精密工程
扫描探针显微技术
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
原子分辨显微分析技术研究进展
袁秉凯
陈鹏程
仉君
程志海
裘晓辉
王琛
《物理化学学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
2013
6
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下载PDF
职称材料
2
扫描近场声显微镜用于光盘表面薄膜结构的研究
徐平
蔡微
余威
钱建强
姚骏恩
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006
2
在线阅读
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职称材料
3
眼镜、放大镜、显微镜及显微术
《中国光学》
EI
CAS
1997
0
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职称材料
已选择
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