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一种光纤组量程扩增的激光频率扫描干涉绝对测距系统 被引量:6
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作者 吕涛 刘志刚 +2 位作者 邓忠文 陶龙 龚海 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第9期77-82,共6页
为解决激光频率扫描干涉(FSI)测距系统随着目标距离增大测量精度下降的问题,提出了一种利用光纤组量程扩增技术实现大尺寸绝对测距的精度补偿方法。采用参考光路光程可变递增的方法,建立了光纤组量程扩增的激光频率扫描干涉绝对测距系统... 为解决激光频率扫描干涉(FSI)测距系统随着目标距离增大测量精度下降的问题,提出了一种利用光纤组量程扩增技术实现大尺寸绝对测距的精度补偿方法。采用参考光路光程可变递增的方法,建立了光纤组量程扩增的激光频率扫描干涉绝对测距系统,通过FSI原理实现了量程扩增部分光程差的自标定。对应不同测量目标,通过粗测和精确测量,实现了系统原点自标定、光纤通道切换和目标值的精确测量。实验结果表明,在测量距离大于3 000mm后,光纤组量程扩增测距系统具有更高的绝对距离测量重复精度,在6 700mm目标位置的绝对距离重复精度比FSI测距系统的重复精度提高了2.4μm,并且在大尺寸测量方面更具有一定的优势。 展开更多
关键词 激光频率扫描干涉 光纤组量程 原点自标定 大尺寸测量
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双波长集成光栅干涉微位移测量方法 被引量:6
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作者 陈烽 叶雄英 +1 位作者 伍康 冯金扬 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第11期2433-2438,共6页
介绍了一种基于双波长激光的集成光栅干涉位移检测方法,利用该方法对硅-玻璃键合工艺制作的集成光栅位移敏感芯片进行了测试实验。实验系统主要由敏感芯片、波长为640nm和660nm的双波长半导体激光器、双光电二极管及检测电路组成,敏感... 介绍了一种基于双波长激光的集成光栅干涉位移检测方法,利用该方法对硅-玻璃键合工艺制作的集成光栅位移敏感芯片进行了测试实验。实验系统主要由敏感芯片、波长为640nm和660nm的双波长半导体激光器、双光电二极管及检测电路组成,敏感芯片则由带反射面的可动部件和透明基底上的金属光栅组成。入射激光照射到光栅上产生衍射光斑,衍射光的光强随可动部件与光栅之间的距离变化,通过分别测量两个波长的衍射光强信号并交替切换选取灵敏度较高的输出信号,实现了一定范围内的扩量程位移测量,并得到绝对位置。实验结果表明,利用双波长集成光栅干涉位移检测方法测得敏感芯片可动部件与基底光栅的初始间隙为7.522μm,并实现了间隙从7.522μm到6.904μm区间的高灵敏度位移测量,其噪声等效位移为0.2nm。 展开更多
关键词 位移测量 集成光栅 双波长干涉法 扩量程
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集成双光栅干涉微梁位移测量方法 被引量:2
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作者 冯金扬 叶雄英 +1 位作者 陈烽 商院芳 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第8期1747-1753,共7页
介绍了一种基于集成双光栅干涉和CCD图像测量的微梁位移测量方法,并利用相位差约为π/2的一组光栅实现了扩量程位移检测。利用表面牺牲层工艺制作敏感芯片,在玻璃基底上刻蚀深度约为入射激光波长1/8的凹槽,凹槽上下的两组光栅与正上方... 介绍了一种基于集成双光栅干涉和CCD图像测量的微梁位移测量方法,并利用相位差约为π/2的一组光栅实现了扩量程位移检测。利用表面牺牲层工艺制作敏感芯片,在玻璃基底上刻蚀深度约为入射激光波长1/8的凹槽,凹槽上下的两组光栅与正上方对应的梁分别构成两组相位敏感集成光栅单元。利用1级衍射光将集成光栅单元成像在CCD靶面上,梁的位移变化通过CCD图像上对应光斑的灰度值变化来反映。实验结果表明,虽然玻璃凹槽腐蚀深度的误差导致光栅之间的相位差偏离π/2,但所制作的集成双光栅结构实现了多周期的扩量程位移检测,通过接近π/2相位差的两个光栅得到的光强信号的错峰使用,避免了干涉法正弦位移检测信号的峰谷不灵敏位置,实验测得微梁的位移变化为650nm。 展开更多
关键词 位移测量 集成双光栅干涉法 图像测量 微悬臂梁 扩量程
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CC-CV charge protocol based on spherical diffusion model 被引量:1
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作者 李连兴 唐新村 +1 位作者 瞿毅 刘洪涛 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS 2011年第2期319-322,共4页
A new insight into the constant current-constant voltage (CC-CV) charge protocol based on the spherical diffusion model was presented. From the model, the CV-charge process compensates, to a large extent, the capaci... A new insight into the constant current-constant voltage (CC-CV) charge protocol based on the spherical diffusion model was presented. From the model, the CV-charge process compensates, to a large extent, the capacity loss in the CC process, and the capacity loss increases with increasing the charging rate and decreases with increasing the lithium-ion diffusion coefficient and using a smaller r value (smaller particle-size and larger diffusion coefficient) and a lower charge rate will be helpful to decreasing the capacity loss. The results show that the CC and the CV charging processes, in some way, are complementary and the capacity loss during the CC charging process due to the large electrochemical polarization can be effectively compensated from the CV charging process. 展开更多
关键词 lithium-ion battery charge protocol constant current-constant voltage mode capacity loss
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