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快速测试方案在半导体测试中的应用
被引量：
1
1
作者
李木子
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期447-450,共4页
随着半导体行业的发展,芯片的设计和功能变得越来越复杂,这样也就需要更多的测试项来筛选器件和检测功能。目前有许多方案致力于解决这一问题。本文讨论介绍了一种半导体测试行业中的快速测试方法,阐述了其概念、方案的设置、实现和操作...
随着半导体行业的发展,芯片的设计和功能变得越来越复杂,这样也就需要更多的测试项来筛选器件和检测功能。目前有许多方案致力于解决这一问题。本文讨论介绍了一种半导体测试行业中的快速测试方法,阐述了其概念、方案的设置、实现和操作,指出了快速测试方案的优势以及半导体测试行业对其的需求。
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关键词
快速
测试
测试
项
快速测试方案
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职称材料
题名
快速测试方案在半导体测试中的应用
被引量：
1
1
作者
李木子
机构
天津飞思卡尔半导体(中国)有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期447-450,共4页
文摘
随着半导体行业的发展,芯片的设计和功能变得越来越复杂,这样也就需要更多的测试项来筛选器件和检测功能。目前有许多方案致力于解决这一问题。本文讨论介绍了一种半导体测试行业中的快速测试方法,阐述了其概念、方案的设置、实现和操作,指出了快速测试方案的优势以及半导体测试行业对其的需求。
关键词
快速
测试
测试
项
快速测试方案
Keywords
QuickTest
test item
QuickTest solution
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
快速测试方案在半导体测试中的应用
李木子
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
1
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