O484.5 2002032091激光熔凝过程中金属薄膜瞬态电阻的测量=Measurementin transient resistances of metal films duringlaser pulse heating[刊,中]/童文辉,杨院生,朱仕学,惠希东,陈晓明,于力,胡壮麒(中科院金属研究所.辽宁,沈阳(11001...O484.5 2002032091激光熔凝过程中金属薄膜瞬态电阻的测量=Measurementin transient resistances of metal films duringlaser pulse heating[刊,中]/童文辉,杨院生,朱仕学,惠希东,陈晓明,于力,胡壮麒(中科院金属研究所.辽宁,沈阳(110016))//金属学报.-2001,37(11).-1213-1216采用瞬态电阻测量方法通过测量样品在快凝过程中电阻的变化,以获得有关的传热实验数值,利用该快速凝固瞬态电阻测量装置,实现了激光表面快速熔凝过程的实时跟踪,并考察了激光器的单脉冲能量、样品的预热温度等主要参数对测定结果的影响。图6参9(李瑞琴)展开更多
文摘O484.5 2002032091激光熔凝过程中金属薄膜瞬态电阻的测量=Measurementin transient resistances of metal films duringlaser pulse heating[刊,中]/童文辉,杨院生,朱仕学,惠希东,陈晓明,于力,胡壮麒(中科院金属研究所.辽宁,沈阳(110016))//金属学报.-2001,37(11).-1213-1216采用瞬态电阻测量方法通过测量样品在快凝过程中电阻的变化,以获得有关的传热实验数值,利用该快速凝固瞬态电阻测量装置,实现了激光表面快速熔凝过程的实时跟踪,并考察了激光器的单脉冲能量、样品的预热温度等主要参数对测定结果的影响。图6参9(李瑞琴)
